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3D 프로파일 측정을 사용한 종자 표면 형상

이 애플리케이션에서 나노베아 ST400 프로파일 미터 는 토마토 씨앗과 로메인 상추 씨앗의 표면을 측정하는 데 사용됩니다. 각 씨앗의 전체 표면을 고해상도로 스캔했습니다. 표면을 특성화하기 위해 다양한 분석이 사용됩니다.
표면 거칠기, 윤곽 분석, 텍스처 방향 등 다양한 기능을 제공합니다.

3D 프로파일 측정을 사용한 종자 표면 형상

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