3D 프로파일 측정을 통한 커넥터 핀 검사

이 애플리케이션에서 나노베아 ST400 프로파일 미터 는 커넥터 표면과 핀의 전체 면적을 측정하는 데 사용됩니다. 이 애플리케이션은 나노비아의 기술을 통한 측정 옵션을 강조하면서 까다로운 기능 때문에 선택되었습니다. 표면 스캔 후 자동으로 계산할 수 있는 표면 파라미터 목록은 무궁무진합니다. 여기서는 전체 3D 프로파일, 커넥터 베이스의 평탄도, 핀의 동일 평면성 및 핀 팁의 거칠기를 검토합니다.

3D 프로파일 측정을 통한 커넥터 핀 검사