Profilometri | Basamak Yüksekliği ve Kalınlığı Uygulama Notları - NANOVEA: Malzeme Testleri için Gelişmiş Profilometreler, Tribometreler, Nanoindenterler ve Çizik Test Cihazları

3D Profilometri Kullanarak Fiberglas Yüzey Topografisi

nanovea — Sal, 05 Nisan 2022 15:00:22 +0000

FIBERGLAS YÜZEY TOPOGRAFYASI

3 BOYUTLU PROFILOMETRI KULLANARAK

Tarafından hazırlanmıştır

CRAIG LEISING

GİRİŞ

Fiberglas, son derece ince cam liflerinden yapılan bir malzemedir. Birçok polimer ürün için takviye maddesi olarak kullanılır; sonuçta ortaya çıkan kompozit malzeme, doğru olarak fiber takviyeli polimer (FRP) veya cam takviyeli plastik (GRP) olarak bilinir ve popüler kullanımda "fiberglas" olarak adlandırılır.

KALİTE KONTROL İÇİN YÜZEY METROLOJİSİ DENETİMİNİN ÖNEMİ

Fiberglas takviye için birçok kullanım alanı olmasına rağmen, çoğu uygulamada mümkün olduğunca güçlü olmaları çok önemlidir. Fiberglas kompozitler, mevcut en yüksek mukavemet / ağırlık oranlarından birine sahiptir ve bazı durumlarda, pound için pound çelikten daha güçlüdür. Yüksek mukavemetin yanı sıra, mümkün olan en küçük açık yüzey alanına sahip olmak da önemlidir. Geniş fiberglas yüzeyler yapıyı kimyasal saldırılara ve muhtemelen malzeme genleşmesine karşı daha savunmasız hale getirebilir. Bu nedenle, yüzey denetimi kalite kontrol üretimi için kritik öneme sahiptir.

ÖLÇÜM HEDEFI

Bu uygulamada, NANOVEA ST400 bir Fiberglas Kompozit yüzeyini pürüzlülük ve düzlük açısından ölçmek için kullanılmaktadır. Bu yüzey özelliklerini ölçerek daha güçlü, daha uzun ömürlü bir fiberglas kompozit malzeme oluşturmak veya optimize etmek mümkündür.

NANOVEA

ST400

ÖLÇÜM PARAMETRELERI

PROBE	1 mm
EDINIM ORANI	300 Hz
ORTALAMA	1
ÖLÇÜLEN YÜZEY	5 mm x 2 mm
ADIM BOYUTU	5 µm x 5 µm
TARAMA MODU	Sabit hız

PROB ÖZELLİKLERİ

**ÖLÇÜM ARALIK**	1 mm
Z ÇÖZÜM	25 nm
Z DOĞRULUK	200 nm
YANAL ÇÖZÜNÜRLÜK	2 μm

SONUÇLAR

YANLIŞ RENK GÖRÜNÜMÜ

3D Yüzey Düzlüğü

3D Yüzey Pürüzlülüğü

Sa	15.716 μm	Aritmetik Ortalama Yükseklik
Sq	19.905 μm	Kök Ortalama Kare Yüksekliği
Sp	116,74 μm	Maksimum Tepe Yüksekliği
Sv	136,09 μm	Maksimum Çukur Yüksekliği
Sz	252,83 μm	Maksimum Yükseklik
Ssk	0.556	Çarpıklık
Ssu	3.654	Kurtosis

SONUÇ

Sonuçlarda gösterildiği gibi NANOVEA ST400 Optik Profil oluşturucu fiberglas kompozit yüzeyin pürüzlülüğünü ve düzlüğünü doğru bir şekilde ölçebildi. Veriler, farklı fiberglas üretim süreçleri ve bunların zaman içinde nasıl tepki verdiği hakkında önemli bilgiler sağlamak için birden fazla fiber kompozit grubu üzerinden ve/veya belirli bir zaman dilimi üzerinden ölçülebilir. Bu nedenle ST400, fiberglas kompozit malzemelerin kalite kontrol sürecini güçlendirmek için uygun bir seçenektir.

Benzer bir uygulamanız var mı?

The post Fiberglass Surface Topography Using 3D Profilometry appeared first on NANOVEA: Advanced Profilometers, Tribometers, Nanoindenters, and Scratch Testers for Materials Testing.

Tire Tread Depth & Rubber Surface Roughness Measurement | 3D Optical Profiler

nanovea — Per, 25 Şubat 2021 22:49:17 +0000

LASTİK DIŞ YÜZEY DERİNLİĞİ VE LASTİK YÜZEY PÜRÜZLÜĞÜ ÖLÇÜMÜ 3D Optik Profiler kullanarak

Tarafından hazırlanmıştır

ANDREA HERRMANN

Lastik diş derinliği, tüketici güvenliği için genellikle el tipi ölçüm cihazlarıyla ölçülürken, endüstriyel Ar-Ge ve lastik üreticileri daha gelişmiş yöntemlere ihtiyaç duyar. Bu uygulama notu, 3D optik profilometrenin yüksek hassasiyetli çalışmalar için nasıl hassas lastik diş derinliği ölçümü, kontur haritalama ve kauçuk yüzey pürüzlülük analizi sağladığını göstermektedir.

GİRİŞ

Tüm malzemeler gibi, kauçuğun sürtünme katsayısı da kısmen yüzey pürüzlülüğü ile ilgilidir. Araç lastiklerinde, hem diş derinliği hem de yüzey pürüzlülüğü çekiş, frenleme ve aşınma performansını doğrudan etkiler. Bu çalışmada, kauçuk yüzey ve dişlerin pürüzlülüğü ve boyutları, 3D temassız profilometri kullanılarak analiz edilmiştir.

ÖRNEK

LASTİK DİŞ DERİNLİĞİ ÖLÇÜMÜ İÇİN 3D TEMASSUZ PROFİLOMETRİNİN ÖNEMİ

Dokunma probları veya interferometri gibi diğer tekniklerin aksine, NANOVEA’nın 3D Temassız Optik Profil Ölçüm Cihazları neredeyse her yüzeyi ölçmek için eksenel kromatizmi kullanın.

Profiler sisteminin açık aşaması, çok çeşitli numune boyutlarına izin verir ve numune hazırlığı gerektirmez. Tek bir tarama ile kullanıcılar, numunenin yansıtıcılığı veya emiciliğinden hiçbir etkilenmeden hem genel lastik diş derinliğini hem de mikro düzeyde yüzey pürüzlülüğünü yakalayabilirler. Ayrıca, bu profilerler, sonuçların yazılımla manipülasyonuna gerek kalmadan yüksek yüzey açılarını ölçme konusunda gelişmiş yeteneklere sahiptir.

Bu çok yönlülük, NANOVEA profilleyicileri hem lastik sırt aşınma testi hem de gelişmiş kauçuk malzeme araştırmaları için ideal hale getirir.

ÖLÇÜM HEDEFI

Bu uygulamada, biz NANOVEA ST400, lastik diş derinliğini, kontur geometrisini ve kauçuk yüzey pürüzlülüğünü ölçen 3D Temassız Optik Profiler. Bu çalışma için, lastik yüzeyinin tamamını temsil edecek kadar büyük bir örnek yüzey alanı rastgele seçildi. Kauçuğun özelliklerini nicelendirmek için, NANOVEA Ultra 3D analiz yazılımını kullanarak oluk boyutlarını, diş derinliğini, yüzey pürüzlülüğünü ve gelişmiş alan ile öngörülen alanı ölçtük.

NANOVEA ST400 Standart
Optik 3D Profilometre

ANALİZ: LASTİK DİŞİ

Lastik sırtlarının 3D Görünümü ve Yanlış Renk Görünümü, 3D yüzey tasarımlarının haritalandırılmasının değerini göstermektedir. Bu, mühendislere lastik sırt derinliğinin homojenliğini, oluk tasarımını ve aşınmayı farklı açılardan değerlendirmek için basit bir araç sunmaktadır. Gelişmiş Kontur Analizi ve Basamak Yüksekliği Analizi, örnek şekillerin ve tasarımların hassas boyutlarını ölçmek için son derece güçlü araçlardır.

GELİŞMİŞ KONTUR ANALİZİ

BASAMAK YÜKSEKLİĞİ ANALİZİ

ANALİZ: KAUÇUK YÜZEY

Kauçuk yüzey, aşağıdaki şekillerde gösterildiği gibi yerleşik yazılım araçları kullanılarak çeşitli şekillerde ölçülebilir. Yüzey pürüzlülüğünün 2,688 μm olduğu ve gelişmiş alan ile yansıtılan alanın sırasıyla 9,410 mm² ve 8,997 mm² olduğu gözlemlenebilir. Bu sonuçlar, kauçuk yüzey pürüzlülüğünün çekiş ve performansı nasıl etkilediğini gösterir ve farklı kauçuk formülasyonları veya değişen yüzey aşınma seviyeleri arasında karşılaştırmalar yapılmasına olanak tanır.

SONUÇ

Bu uygulamada, NANOVEA 3D Temassız Optik Profiler'ın lastik diş derinliğini, kontur boyutlarını ve kauçuk yüzey pürüzlülüğünü nasıl hassas bir şekilde karakterize edebildiğini gösterdik. Veriler, 2,69 µm'lik bir yüzey pürüzlülüğü ve 9 mm²'lik bir yansıtma alanına sahip 9,41 mm²'lik bir gelişmiş alan göstermektedir. Kauçuk dişlerin çeşitli boyutları ve yarıçapları da ölçülmüştür. Bu bilgiler, lastik üreticileri, otomotiv araştırmacıları ve malzeme mühendisleri tarafından lastik sırt tasarımlarını, kauçuk formülasyonlarını veya farklı aşınma derecelerine sahip lastikleri karşılaştırmak için kullanılabilir. Burada gösterilen veriler, Ultra 3D analiz yazılımında bulunan hesaplamaların sadece bir kısmını temsil etmektedir.

Benzer bir uygulamanız var mı?

The post Tire Tread Depth & Rubber Surface Roughness Measurement | 3D Optical Profiler appeared first on NANOVEA: Advanced Profilometers, Tribometers, Nanoindenters, and Scratch Testers for Materials Testing.

3D Optik Profilleyici Kullanarak Balık Pulu Yüzey Analizi

Andrew Shore — 29 Aralık 2020 Salı 02:56:37 +0000

3D Optik Profilleyici Kullanarak Balık Pulu Yüzey Analizi

Daha fazla bilgi edinin

BALIK PULU YÜZEY ANALIZI

3D OPTİK PROFİLLEYİCİ kullanarak

Tarafından hazırlanmıştır

Andrea Novitsky

GİRİŞ

Balık pulunun morfolojisi, desenleri ve diğer özellikleri NANOVEA kullanılarak incelenir 3D Temassız Optik Profil Oluşturucu. Bu biyolojik numunenin hassas doğası ve çok küçük ve yüksek açılı oyukları, profil oluşturucunun temassız tekniğinin önemini de vurgulamaktadır. Ölçekteki oluklara circuli denir ve balığın yaşını tahmin etmek için incelenebilir ve hatta bir ağacın halkalarına benzer şekilde farklı büyüme hızlarının olduğu dönemleri ayırt etmek için incelenebilir. Bu, aşırı avlanmayı önlemek amacıyla yabani balık popülasyonlarının yönetimi açısından çok önemli bir bilgidir.

BİYOLOJİK ÇALIŞMALAR İÇİN 3D Temassız Profilometrinin Önemi

Dokunma probları veya interferometri gibi diğer tekniklerin aksine, eksenel kromatizma kullanan 3D Temassız Optik Profilleyici neredeyse her yüzeyi ölçebilir. Açık evreleme sayesinde numune boyutları büyük ölçüde değişebilir ve numune hazırlığı gerekmez. Nano ila makro aralıktaki özellikler, numune yansıtıcılığı veya emiliminden sıfır etkilenen bir yüzey profili ölçümü sırasında elde edilir. Cihaz, sonuçlarda yazılım manipülasyonu olmadan yüksek yüzey açılarını ölçmek için gelişmiş bir yetenek sağlar. Şeffaf, opak, speküler, difüzif, cilalı veya pürüzlü olsun, her türlü malzeme kolayca ölçülebilir. Bu teknik, birleşik 2D ve 3D özelliklerinin avantajlarının yanı sıra yüzey çalışmalarını en üst düzeye çıkarmak için ideal, geniş ve kullanıcı dostu bir yetenek sağlar.

ÖLÇÜM HEDEFI

Bu uygulamada, bir terazinin yüzeyinin kapsamlı analizini sağlayan, yüksek hızlı sensöre sahip 3D Temassız Profilleyici NANOVEA ST400'ü sergiliyoruz.

Cihaz, merkez alanın daha yüksek çözünürlüklü bir taramasıyla birlikte tüm numuneyi taramak için kullanılmıştır. Karşılaştırma için ölçeğin dış ve iç yan yüzey pürüzlülüğü de ölçülmüştür.

NANOVEA

ST400

Dış Ölçeğin 3D ve 2D Yüzey Karakterizasyonu

Dış ölçeğin 3D Görünümü ve Yanlış Renk Görünümü, parmak izine veya bir ağacın halkalarına benzer karmaşık bir yapı gösterir. Bu, kullanıcılara kantarın yüzey karakterizasyonunu farklı açılardan doğrudan gözlemlemek için basit bir araç sağlar. Dış kantarın diğer çeşitli ölçümleri, kantarın dış ve iç tarafının karşılaştırılmasıyla birlikte gösterilmektedir.

YÜZEY PÜRÜZLÜLÜĞÜ KARŞILAŞTIRMASI

SONUÇ

Bu uygulamada, NANOVEA 3D Temassız Optik Profilleyicinin bir balık pulunu çeşitli şekillerde nasıl karakterize edebileceğini gösterdik.

Pulun dış ve iç yüzeyleri, sırasıyla 15,92μm ve 1,56μm pürüzlülük değerleri ile yalnızca yüzey pürüzlülüğü ile kolayca ayırt edilebilir. Ayrıca, pulun dış yüzeyindeki oluklar veya sirküller analiz edilerek bir balık pulu hakkında kesin ve doğru bilgiler edinilebilir. Sirkül bantlarının merkez odaktan uzaklığı ölçülmüş ve sirküllerin yüksekliğinin de ortalama olarak yaklaşık 58μm yüksekliğinde olduğu bulunmuştur.

Burada gösterilen veriler, analiz yazılımında mevcut olan hesaplamaların yalnızca bir kısmını temsil etmektedir.

Benzer bir uygulamanız var mı?

The post Fish Scale Surface Analysis Using 3D Optical Profiler appeared first on NANOVEA: Advanced Profilometers, Tribometers, Nanoindenters, and Scratch Testers for Materials Testing.

Fresnel Lens Topografyası

Andrew Shore — Tue, 20 Oct 2020 17:47:43 +0000

FRESNEL LENS TOPOGRAFİSİKULLANIM 3D TEMASIZ OPTİK PROFİLÖMETRE

Tarafından hazırlanmıştır

Duanjie Li & Benjamin Mell

GİRİŞ

Mercek, ışığı ileten ve kıran eksenel simetriye sahip optik bir cihazdır. Basit bir mercek, ışığı yakınlaştırmak veya uzaklaştırmak için tek bir optik bileşenden oluşur. Küresel yüzeyler bir mercek yapmak için ideal şekil olmasa da, genellikle camın taşlanıp parlatılabileceği en basit şekil olarak kullanılırlar.

Bir Fresnel mercek, bir inçin birkaç binde biri kadar küçük bir genişliğe sahip basit bir merceğin ince parçaları olan bir dizi eş merkezli halkadan oluşur. Fresnel mercekler, aynı optik özelliklere sahip geleneksel merceklere kıyasla, gerekli malzemenin ağırlığını ve hacmini azaltan kompakt bir tasarıma sahip geniş bir diyafram açıklığı ve kısa odak uzaklığı içerir. Fresnel merceğinin ince geometrisi nedeniyle çok az miktarda ışık emilim yoluyla kaybolur.

FRESNEL LENS DENETİMİ İÇİN 3 BOYUTLU TEMASSIZ PROFİLOMETRİNİN ÖNEMİ

Fresnel lensler otomotiv endüstrisinde, deniz fenerlerinde, güneş enerjisinde ve uçak gemilerinin optik iniş sistemlerinde yaygın olarak kullanılmaktadır. Lenslerin şeffaf plastikten kalıplanması veya damgalanması, üretimlerini uygun maliyetli hale getirebilir. Fresnel lenslerin hizmet kalitesi çoğunlukla eşmerkezli halkasının hassasiyetine ve yüzey kalitesine bağlıdır. NANOVEA, dokunmatik prob tekniğinden farklı olarak Optik Profilciler 3 boyutlu yüzey ölçümlerini yüzeye dokunmadan gerçekleştirerek yeni çizik oluşma riskini ortadan kaldırın. Kromatik Işık tekniği, farklı geometrilerdeki mercekler gibi karmaşık şekillerin hassas şekilde taranması için idealdir.

FRESNEL MERCEK ŞEMASI

Şeffaf plastik Fresnel lensler kalıplama veya damgalama yoluyla üretilebilir. Kusurlu üretim kalıplarını veya damgalarını ortaya çıkarmak için doğru ve etkili kalite kontrolü kritik önem taşır. Eşmerkezli halkaların yüksekliği ve eğimi ölçülerek, ölçülen değerler mercek üreticisi tarafından verilen spesifikasyon değerleriyle karşılaştırılarak üretim farklılıkları tespit edilebilir.

Lens profilinin hassas ölçümü, kalıpların veya damgaların üretici spesifikasyonlarına uyacak şekilde düzgün bir şekilde işlenmesini sağlar. Ayrıca, damga zaman içinde aşınarak ilk şeklini kaybetmesine neden olabilir. Lens üreticisi spesifikasyonundan sürekli sapma, kalıbın değiştirilmesi gerektiğinin olumlu bir göstergesidir.

ÖLÇÜM HEDEFI

Bu uygulamada, karmaşık şekilli bir optik bileşenin kapsamlı 3D profil analizini sağlayan, yüksek hızlı sensörlü bir 3D Temassız Profiler olan NANOVEA ST400'ü tanıtıyoruz. Kromatik Işık teknolojimizin olağanüstü yeteneklerini göstermek için, Fresnel lens üzerinde kontur analizi gerçekleştirilmiştir.

NANOVEA ST400 Geniş Alan
Optik 3D Profilometre

Bu çalışma için kullanılan 2.3" x 2.3" akrilik Fresnel lens aşağıdakilerden oluşmaktadır

bir dizi eşmerkezli halka ve karmaşık bir tırtıklı kesit profili.

1,5" odak uzaklığına, 2,0" efektif boyut çapına sahiptir,

İnç başına 125 oluk ve 1,49'luk bir kırılma indisi.

Fresnel lensin NANOVEA ST400 taraması, merkezden dışa doğru hareket eden eş merkezli halkaların yüksekliğinde gözle görülür bir artış olduğunu göstermektedir.

2D YANLIŞ RENK

Yükseklik Gösterimi

3D GÖRÜNÜM

ÇIKARILMIŞ PROFIL

TEPE & VADİ

Profilin Boyutsal Analizi

SONUÇ

Bu uygulamada, NANOVEA ST400 temassız Optik Profilleyicinin Fresnel lenslerin yüzey topografisini doğru bir şekilde ölçtüğünü gösterdik.

Yükseklik ve hatve boyutları, NANOVEA analiz yazılımı kullanılarak karmaşık tırtıklı profilden doğru bir şekilde belirlenebilir. Kullanıcılar, üretilen lenslerin halka yüksekliği ve hatve boyutlarını ideal halka spesifikasyonuyla karşılaştırarak üretim kalıplarının veya damgalarının kalitesini etkin bir şekilde denetleyebilir.

Burada gösterilen veriler, analiz yazılımında mevcut olan hesaplamaların yalnızca bir kısmını temsil etmektedir.

NANOVEA Optik Profilleyiciler, Yarı İletkenler, Mikroelektronik, Güneş, Fiber Optik, Otomotiv, Havacılık ve Uzay, Metalurji, İşleme, Kaplama, İlaç, Biyomedikal, Çevre ve diğer birçok alanda neredeyse her yüzeyi ölçer.

Benzer bir uygulamanız var mı?

The post Fresnel Lens Topography appeared first on NANOVEA: Advanced Profilometers, Tribometers, Nanoindenters, and Scratch Testers for Materials Testing.

Çizik Testi Kullanarak Kaplama Hatalarını Anlama

nanovea — Per, 17 Ekim 2019 17:42:45 +0000

Giriş:

Malzemelerin yüzey mühendisliği, dekoratif görünümden alt tabakaları aşınma, korozyon ve diğer saldırı türlerinden korumaya kadar çeşitli işlevsel uygulamalarda önemli bir rol oynamaktadır. Kaplamaların kalitesini ve hizmet ömrünü belirleyen önemli ve öncelikli bir faktör, yapışma ve yapışma mukavemetleridir.

Okumak için buraya tıklayın!

The post Understanding Coating Failures using Scratch Testing appeared first on NANOVEA: Advanced Profilometers, Tribometers, Nanoindenters, and Scratch Testers for Materials Testing.

Bir Güneş Pilinin Yüzey Pürüzlülüğü ve Özellikleri

nanovea — Wed, 04 Sep 2019 17:20:52 +0000

Güneş Paneli Testinin Önemi

Bir güneş pilinin enerji emilimini en üst düzeye çıkarmak, teknolojinin yenilenebilir bir kaynak olarak hayatta kalması için kilit öneme sahiptir. Çok katmanlı kaplama ve cam koruma, fotovoltaik hücrelerin çalışması için gerekli olan ışığın emilimini, geçirgenliğini ve yansımasını sağlar. Çoğu tüketici güneş hücresinin 15-18% verimlilikte çalıştığı göz önüne alındığında, enerji çıktılarını optimize etmek devam eden bir mücadeledir.

Çalışmalar, yüzey pürüzlülüğünün ışığın yansımasında çok önemli bir rol oynadığını göstermiştir. Camın ilk katmanı ışığın yansımasını azaltmak için mümkün olduğunca pürüzsüz olmalıdır, ancak sonraki katmanlar bu kılavuza uymaz. Her bir kaplama arayüzünde, kendi tükenme bölgeleri içinde ışık saçılması olasılığını artırmak ve hücre içinde ışığın emilimini artırmak için bir dereceye kadar pürüzlülük gereklidir1. Bu bölgelerdeki yüzey pürüzlülüğünün optimize edilmesi güneş pilinin en iyi şekilde çalışmasını sağlar ve Nanovea HS2000 Yüksek Hızlı Sensör ile yüzey pürüzlülüğünün ölçümü hızlı ve doğru bir şekilde yapılabilir.

Ölçüm Hedefi

Bu çalışmada Nanovea'nın yeteneklerini sergileyeceğiz Profilometre HS2000 Yüksek Hızlı Sensör ile bir fotovoltaik hücrenin yüzey pürüzlülüğünü ve geometrik özelliklerini ölçerek. Bu gösterim için cam koruması olmayan monokristal bir güneş pili ölçülecektir ancak metodoloji diğer çeşitli uygulamalar için de kullanılabilir.

Test Prosedürü ve Prosedürler

Güneş pili yüzeyini ölçmek için aşağıdaki test parametreleri kullanılmıştır.

Sonuçlar ve Tartışma

Aşağıda güneş pilinin 2D sahte renkli görünümü ve ilgili yükseklik parametreleriyle birlikte yüzeyin alan çıkarımı gösterilmektedir. Her iki yüzeye de Gauss filtresi uygulanmış ve çıkarılan alanı düzleştirmek için daha agresif bir indeks kullanılmıştır. Bu, kesme indeksinden daha büyük olan formu (veya dalgalanmayı) hariç tutarak güneş pilinin pürüzlülüğünü temsil eden özellikleri geride bırakır.

Aşağıda gösterilen geometrik özelliklerini ölçmek için ızgara çizgilerinin yönüne dik bir profil alınmıştır. Izgara çizgisi genişliği, adım yüksekliği ve eğimi, güneş pili üzerindeki herhangi bir belirli konum için ölçülebilir.

Sonuç

Bu çalışmada Nanovea HS2000 Çizgi Sensörünün monokristal bir fotovoltaik hücrenin yüzey pürüzlülüğünü ve özelliklerini ölçme yeteneğini gösterebildik. Nanovea HS2000 Çizgi Sensörü, birden fazla numunenin doğru ölçümlerini otomatikleştirme ve geçme kalma limitlerini belirleme yeteneği ile kalite kontrol denetimleri için mükemmel bir seçimdir.

Referans

1 Scholtz, Lubomir. Ladanyi, Libor. Mullerova, Jarmila. "Influence of Surface Roughness on Optical Characteristics of Multilayer Solar Cells" Advances in Electrical and Electronic Engineering, vol. 12, no. 6, 2014, pp. 631-638.

ŞIMDI, BAŞVURUNUZ HAKKINDA KONUŞALIM

The post Surface Roughness and Features of a Solar Cell appeared first on NANOVEA: Advanced Profilometers, Tribometers, Nanoindenters, and Scratch Testers for Materials Testing.

Rotatif veya Lineer Aşınma ve COF? (Nanovea Tribometre Kullanılarak Yapılan Kapsamlı Bir Çalışma)

nanovea — Wed, 10 Jul 2019 20:42:37 +0000

Aşınma, karşı yüzeyin mekanik etkisi sonucu bir yüzeydeki malzemenin sökülmesi ve deformasyonu işlemidir. Tek yönlü kayma, yuvarlanma, hız, sıcaklık ve daha pek çok faktör dahil olmak üzere çeşitli faktörlerden etkilenir. Aşınma ve triboloji çalışmaları fizik ve kimyadan makine mühendisliği ve malzeme bilimine kadar birçok disiplini kapsamaktadır. Aşınmanın karmaşık doğası, adhezif aşınma, aşındırıcı aşınma, yüzey yorgunluğu, aşındırma aşınması ve erozif aşınma gibi belirli aşınma mekanizmalarına veya süreçlerine yönelik izole çalışmaları gerektirir. Ancak “Endüstriyel Aşınma” genellikle sinerji içinde ortaya çıkan birden fazla aşınma mekanizmasını içerir.

Doğrusal ileri geri hareket eden ve Rotatif (Diskteki Pim) aşınma testleri, malzemelerin kayma aşınma davranışlarını ölçmek için yaygın olarak kullanılan iki ASTM uyumlu kurulumdur. Herhangi bir aşınma testi yönteminin aşınma oranı değeri genellikle malzeme kombinasyonlarının göreceli sıralamasını tahmin etmek için kullanıldığından, farklı test düzenekleri kullanılarak ölçülen aşınma oranının tekrarlanabilirliğini doğrulamak son derece önemlidir. Bu, kullanıcıların, malzemelerin tribolojik özelliklerini anlamada kritik önem taşıyan, literatürde bildirilen aşınma oranı değerini dikkatli bir şekilde dikkate almalarını sağlar.

Daha fazlasını okuyun!

The post Rotative or Linear Wear & COF? (A Comprehensive Study Using the Nanovea Tribometer) appeared first on NANOVEA: Advanced Profilometers, Tribometers, Nanoindenters, and Scratch Testers for Materials Testing.

Jr25 3D Temassız Profilometrenin Taşınabilirliği ve Esnekliği

nanovea — Thu, 09 May 2019 13:52:21 +0000

Bir numunenin yüzeyini anlamak ve ölçmek, kalite kontrol ve araştırma dahil birçok uygulama için çok önemlidir. Yüzeyleri incelemek için profilometreler genellikle örnekleri taramak ve görüntülemek için kullanılır. Geleneksel profilometri cihazlarıyla ilgili büyük bir sorun, geleneksel olmayan numunelerin uyumunun sağlanamamasıdır. Numune boyutu, geometri, numunenin hareket ettirilememesi veya diğer uygunsuz numune hazırlama nedeniyle geleneksel olmayan numunelerin ölçülmesinde zorluklar ortaya çıkabilir. Nanovea'nın taşınabilir 3D temassız profilometrelerJR serisi, numune yüzeylerini farklı açılardan tarayabilme yeteneği ve taşınabilirliği ile bu sorunların çoğunu çözebilmektedir.

Jr25 Temassız Profilometre hakkında bilgi edinin!

The post Portability and Flexibility of the Jr25 3D Non-contact Profilometer appeared first on NANOVEA: Advanced Profilometers, Tribometers, Nanoindenters, and Scratch Testers for Materials Testing.

500nm Cam Basamak Yüksekliği: Temassız Profilometri ile Olağanüstü Doğruluk

nanovea — Wed, 05 Dec 2018 14:47:41 +0000

Yüzey karakterizasyonu, üzerinde yoğun çalışmalar yapılan güncel bir konudur. Malzemelerin yüzeyleri, malzeme ve çevre arasındaki fiziksel ve kimyasal etkileşimlerin gerçekleştiği bölgeler olmaları nedeniyle önemlidir. Bu nedenle, yüzeyi yüksek çözünürlükle görüntüleyebilmek, bilim insanlarının en küçük yüzey ayrıntılarını görsel olarak gözlemlemelerine olanak tanıdığı için arzu edilen bir durumdur. Yaygın yüzey görüntüleme verileri topografya, pürüzlülük, yanal boyutlar ve dikey boyutları içerir. Yük taşıyan yüzeyin, fabrikasyon mikro yapıların aralık ve basamak yüksekliğinin ve yüzeydeki kusurların belirlenmesi, yüzey görüntülemeden elde edilebilecek bazı uygulamalardır. Bununla birlikte, tüm yüzey görüntüleme teknikleri eşit yaratılmamıştır.

500nm Cam Basamak Yüksekliği: Temassız Profilometri ile Olağanüstü Doğruluk

The post 500nm Glass Step Height: Extreme Accuracy with Non-Contact Profilometry appeared first on NANOVEA: Advanced Profilometers, Tribometers, Nanoindenters, and Scratch Testers for Materials Testing.

3D Profilometri Kullanarak Wafer Kaplama Kalınlığı Ölçümü

nanovea — Thu, 29 Mar 2018 13:49:55 +0000

Wafer Kaplama Kalınlığı Ölçümü kritik öneme sahiptir. Silikon gofretler, çok sayıda endüstride kullanılan entegre devrelerin ve diğer mikro cihazların yapımında yaygın olarak kullanılmaktadır. Daha ince ve pürüzsüz gofretlere ve gofret kaplamalarına yönelik sürekli talep, Nanovea 3D temassız Profilometre hemen hemen her yüzeyin kaplama kalınlığını ve pürüzlülüğünü ölçmek için harika bir araçtır. Bu makaledeki ölçümler, 3D Temassız Profilometremizin yeteneklerini göstermek için kaplanmış bir wafer örneğinden alınmıştır.

3D Profilometri Kullanarak Wafer Kaplama Kalınlığı Ölçümü

The post Wafer Coating Thickness Measurement Using 3D Profilometry appeared first on NANOVEA: Advanced Profilometers, Tribometers, Nanoindenters, and Scratch Testers for Materials Testing.