<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><rss version="2.0"
	xmlns:content="http://purl.org/rss/1.0/modules/content/"
	xmlns:wfw="http://wellformedweb.org/CommentAPI/"
	xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/"
	xmlns:atom="http://www.w3.org/2005/Atom"
	xmlns:sy="http://purl.org/rss/1.0/modules/syndication/"
	xmlns:slash="http://purl.org/rss/1.0/modules/slash/"
	>

<channel>
	<title>Connector Pin Archives -</title>
	<atom:link href="https://nanovea.com/pl/tag/connector-pin/feed/" rel="self" type="application/rss+xml" />
	<link>https://nanovea.com/pl/tag/pin-zlacza/</link>
	<description>Przyrządy metrologiczne do badań materiałowych i kontroli jakości</description>
	<lastBuildDate>Thu, 18 Jun 2015 16:35:41 +0000</lastBuildDate>
	<language>pl-PL</language>
	<sy:updateperiod>
	co godzinę	</sy:updateperiod>
	<sy:updatefrequency>
	1	</sy:updatefrequency>
	<generator>https://wordpress.org/?v=6.8.5</generator>

<image>
	<url>https://nanovea.com/wp-content/uploads/2025/02/nanovea-favicon.png</url>
	<title>Connector Pin Archives -</title>
	<link>https://nanovea.com/pl/tag/pin-zlacza/</link>
	<width>32</width>
	<height>32</height>
</image> 
	<item>
		<title>Kontrola pinów złączy za pomocą profilometrii 3D</title>
		<link>https://nanovea.com/pl/kontrola-stykow-z-profilometria-3d/?utm_source=rss&#038;utm_medium=rss&#038;utm_campaign=connector-pin-inspection-with-3d-profilometry</link>
					<comments>https://nanovea.com/pl/kontrola-stykow-z-profilometria-3d/#respond</comments>
		
		<dc:creator><![CDATA[nanovea]]></dc:creator>
		<pubDate>Sat, 07 Jan 2012 00:25:06 +0000</pubDate>
				<category><![CDATA[Application Notes]]></category>
		<category><![CDATA[Connector Pin]]></category>
		<guid ispermalink="false">http://nanovea.com/?p=1243</guid>

					<description><![CDATA[<p>In this application, the Nanovea ST400 Profilometer is used to measure the full area of a connector surface and its pins. The application was chosen for its challenging features while highlighting the measurement options with Nanovea’s technique. There is an endless list surface parameters that can be automatically calculated after the surface scan. Here we [&#8230;]</p>
<p>The post <a href="https://nanovea.com/pl/kontrola-stykow-z-profilometria-3d/">Connector Pin Inspection With 3D Profilometry</a> appeared first on <a href="https://nanovea.com/pl">NANOVEA: Advanced Profilometers, Tribometers, Nanoindenters, and Scratch Testers for Materials Testing</a>.</p>
]]></description>
										<content:encoded><![CDATA[<p>W tym zastosowaniu, Nanovea ST400 <a title="profilometr" href="https://nanovea.com/profilometers" target="_blank">Profilometr</a> służy do pomiaru pełnego obszaru powierzchni złącza i jego pinów. Aplikacja została wybrana ze względu na jej wymagające cechy, jednocześnie podkreślając możliwości pomiarowe techniki Nanovea. Istnieje nieskończona lista parametrów powierzchni, które mogą być automatycznie obliczane po skanowaniu powierzchni. Tutaj dokonamy przeglądu pełnego profilu 3D, płaskości podstawy złącza, współpłaszczyznowości pinów i chropowatości końcówki pinu.</p>
<p><a href="https://nanovea.com/wp-content/themes/wp-nanovea/Application%20Notes/connector-pin-inspection.pdf">Kontrola pinów złączy za pomocą profilometrii 3D</a></p><p>The post <a href="https://nanovea.com/pl/kontrola-stykow-z-profilometria-3d/">Connector Pin Inspection With 3D Profilometry</a> appeared first on <a href="https://nanovea.com/pl">NANOVEA: Advanced Profilometers, Tribometers, Nanoindenters, and Scratch Testers for Materials Testing</a>.</p>
]]></content:encoded>
					
					<wfw:commentrss>https://nanovea.com/pl/kontrola-stykow-z-profilometria-3d/feed/</wfw:commentrss>
			<slash:comments>0</slash:comments>
		
		
			</item>
	</channel>
</rss>