摩耗試験機は、半世紀以上前から存在しています。当初から、試験荷重は通常1N以上、速度は最近のフレッティング用途を除いて低速で、変位は数十ミクロンに制限されていました。その後、80年代後半にナノインデンテーションが登場し、より低い荷重で試験ができるようになりました。最初のシステムは、フィードバック制御ループを持たないコイルシステムをベースとしたもので、現在でもその大半はこのシステムです。スクラッチ試験や摩耗試験のように、接触位置を移動させる場合には、優れた荷重制御を行うためにフィードバック制御ループが不可欠です。ピエゾ型ロードセルと組み合わせたナノスクラッチテストは、90年代後半に登場しました。最初のシステムはカンチレバー技術を使用しており、スクラッチ試験や摩耗試験のフィードバック制御には十分な速度がありましたが、変位速度は10mm/sec以下に制限されていましたし、現在でもそうなっています。多くのアプリケーションでは、何年も使用した後でもデバイスが持ちこたえられるように、非常に多くのサイクルが要求される。カンチレバー技術で得られる低速度では、1回の摩耗試験で6カ月以上かかることもある。これは非現実的であり、新技術の開発と認可を遅らせることは明らかです。

ナノベアは、コイルスピーカー方式による高速かつスムーズな変位を実現することで、ナノ摩耗試験における高速化と荷重の確実な制御を可能にしました。ナノベアーの利用を追加する ナノモジュール ピエゾアクチュエーターと超高感度ロードセルによる素早い荷重制御を実現し、縦置きで速度応答性に優れています。

「このプロジェクトで、私たちのチームの実力を証明する機会を得ることができました。私たちはこの成果を非常に誇りに思っています。この新技術により、耐用年数を伸ばした新しいデバイスを顧客市場に導入するスピードが上がるでしょう。"-CEOです。 ピエール・ルルー

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