Anschlussstift-Archive - https://nanovea.com/de/tag/steckerstift/ Messgeräte für die Materialforschung und Qualitätskontrolle Thu, 18 Jun 2015 16:35:41 +0000 de stündlich 1 https://wordpress.org/?v=6.8.5 https://nanovea.com/wp-content/uploads/2025/02/nanovea-favicon.png Anschlussstift-Archive - https://nanovea.com/de/tag/steckerstift/ 32 32 Inspektion von Steckerstiften mit 3D-Profilometrie https://nanovea.com/de/stecker-stift-inspektion-mit-3d-profilometrie/?utm_source=rss&utm_medium=rss&utm_campaign=connector-pin-inspection-with-3d-profilometry https://nanovea.com/de/stecker-stift-inspektion-mit-3d-profilometrie/#respond Sat, 07 Jan 2012 00:25:06 +0000 http://nanovea.com/?p=1243 In this application, the Nanovea ST400 Profilometer is used to measure the full area of a connector surface and its pins. The application was chosen for its challenging features while highlighting the measurement options with Nanovea’s technique. There is an endless list surface parameters that can be automatically calculated after the surface scan. Here we […]

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]]> Bei dieser Anwendung wird das Nanovea ST400 Profilometer wird zur Messung der gesamten Fläche eines Steckverbinders und seiner Stifte verwendet. Die Anwendung wurde aufgrund ihrer anspruchsvollen Eigenschaften ausgewählt, um die Messmöglichkeiten mit der Nanovea-Technik zu verdeutlichen. Es gibt eine endlose Liste von Oberflächenparametern, die nach dem Oberflächenscan automatisch berechnet werden können. Hier werden wir ein vollständiges 3D-Profil, die Ebenheit der Steckerbasis, die Koplanarität der Stifte und die Rauheit einer Stiftspitze untersuchen.

Inspektion von Steckerstiften mit 3D-Profilometrie

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