以秒为单位的刀具边缘测量

Irvine CA，2016年7月27日 - 传统的轮廓测量法从单一的、固定的方向扫描样品表面。 这只适用于测量足够平坦的样品，而不是需要精确360°旋转的圆柱形。对于表征刀具的螺旋切削刃这样的应用，传统机器需要从整个零件的不同角度进行多次扫描，以及大量的扫描后数据处理。对于只需要从非常具体的区域进行测量的质量控制应用来说，这往往太耗时了。

NANOVEA的旋转平台通过横向和旋转轴的同步运动控制解决了这个问题。这项技术消除了测量整个零件和连续重新调整的耗时需求。相反，整个切削刃的全周长可以在几秒钟内确定。所有需要的角度和特征都可以从扫描中直接确定，而不需要将多个文件大量拼接在一起。

NANOVEA的色度共聚焦技术提供了远高于焦点变化的分辨率（低至2.7纳米）和准确性。原始的表面高度是直接从聚焦在表面的波长的检测中测量出来的，没有干涉测量技术造成的误差，没有视场的限制，也不需要进行样品表面处理。反射率极高或极低的材料可以很容易地被测量，非常高的壁角可以准确地表征，没有任何问题。

配合NANOVEA的线型传感器，一次就可以采集到宽达4.78毫米的数据条，同时在扫描方向上线性移动达150毫米。同时，旋转台可以以所需的速度旋转样品。综合起来，这个系统允许在任何间距或半径的切削刃的整个圆周上创建一个连续的三维高度图，与其他技术相比，只需要一小部分时间。

见应用说明。 使用三维轮廓仪进行旋转测量