Irvine CA, 27 Temmuz 2016 - Geleneksel profilometri, numune y\u00fczeylerini tek ve sabit bir y\u00f6nden tarar. Bu, hassas bir 360\u00b0 d\u00f6n\u00fc\u015f gerektiren silindirik \u015fekillerin aksine, yaln\u0131zca yeterince d\u00fcz numuneleri \u00f6l\u00e7mek i\u00e7in uygundur. Bir tak\u0131m\u0131n helisel kesme kenar\u0131n\u0131 karakterize etmek gibi bir uygulama i\u00e7in, geleneksel bir makinenin t\u00fcm par\u00e7an\u0131n farkl\u0131 a\u00e7\u0131lar\u0131ndan birden fazla tarama yapmas\u0131 ve \u00f6nemli tarama sonras\u0131 veri manip\u00fclasyonu yapmas\u0131 gerekir. Bu, yaln\u0131zca \u00e7ok spesifik b\u00f6lgelerden \u00f6l\u00e7\u00fcm gerektiren kalite kontrol uygulamalar\u0131 i\u00e7in genellikle \u00e7ok zaman al\u0131c\u0131d\u0131r.<\/p>\n
NANOVEA'n\u0131n rotasyonel a\u015famas\u0131, yanal ve rotasyonel eksenlerin e\u015fzamanl\u0131 hareket kontrol\u00fc ile bu sorunu \u00e7\u00f6zer. Bu teknik, par\u00e7an\u0131n tamam\u0131n\u0131n \u00f6l\u00e7\u00fclmesi ve s\u00fcrekli yeniden hizalanmas\u0131 gibi zaman al\u0131c\u0131 gereksinimleri ortadan kald\u0131r\u0131r. Bunun yerine, t\u00fcm kesme kenar\u0131n\u0131n tam \u00e7evresi saniyeler i\u00e7inde belirlenebilir. \u0130stenen t\u00fcm a\u00e7\u0131lar ve \u00f6zellikler, birden fazla dosyan\u0131n kapsaml\u0131 bir \u015fekilde bir araya getirilmesine gerek kalmadan do\u011frudan taramadan belirlenebilir.<\/p>\n
NANOVEA'n\u0131n kromatik konfokal tekni\u011fi, Odak De\u011fi\u015fimi rakiplerine g\u00f6re 2,7 nm'ye kadar \u00e7ok daha y\u00fcksek \u00e7\u00f6z\u00fcn\u00fcrl\u00fck ve do\u011fruluk sunar. Ham y\u00fczey y\u00fcksekli\u011fi, \u0130nterferometri tekniklerinin neden oldu\u011fu hatalar\u0131n hi\u00e7biri olmadan, g\u00f6r\u00fc\u015f alan\u0131 s\u0131n\u0131rlamalar\u0131 olmadan ve numune y\u00fczey haz\u0131rl\u0131\u011f\u0131na gerek kalmadan do\u011frudan y\u00fczeye odaklanan dalga boyunun alg\u0131lanmas\u0131ndan \u00f6l\u00e7\u00fcl\u00fcr. Son derece y\u00fcksek veya d\u00fc\u015f\u00fck yans\u0131tma \u00f6zelli\u011fine sahip malzemeler kolayca \u00f6l\u00e7\u00fclebilir ve \u00e7ok y\u00fcksek duvar a\u00e7\u0131lar\u0131 herhangi bir sorun olmadan do\u011fru bir \u015fekilde karakterize edilebilir.<\/p>\n
NANOVEA'n\u0131n \u00e7izgi sens\u00f6r\u00fc ile birle\u015fti\u011finde, tarama y\u00f6n\u00fcnde 150 mm'ye kadar do\u011frusal olarak hareket ederken, tek bir ge\u00e7i\u015fte 4,78 mm geni\u015fli\u011fe kadar bir veri \u00e7ubu\u011fu yakalanabilir. E\u015f zamanl\u0131 olarak, rotasyonel a\u015fama numuneyi istenen h\u0131zda d\u00f6nd\u00fcrebilir. Bu sistem bir araya getirildi\u011finde, di\u011fer teknolojilere k\u0131yasla \u00e7ok daha k\u0131sa bir s\u00fcrede, herhangi bir hatve veya yar\u0131\u00e7apa sahip bir kesici kenar\u0131n t\u00fcm \u00e7evresinin kesintisiz bir 3D y\u00fckseklik haritas\u0131n\u0131n olu\u015fturulmas\u0131na olanak tan\u0131r.<\/p>\n