<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><rss version="2.0"
	xmlns:content="http://purl.org/rss/1.0/modules/content/"
	xmlns:wfw="http://wellformedweb.org/CommentAPI/"
	xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/"
	xmlns:atom="http://www.w3.org/2005/Atom"
	xmlns:sy="http://purl.org/rss/1.0/modules/syndication/"
	xmlns:slash="http://purl.org/rss/1.0/modules/slash/"
	>

<channel>
	<title>Girinti Arşivleri -</title>
	<atom:link href="https://nanovea.com/tr/tag/indentation/feed/" rel="self" type="application/rss+xml" />
	<link>https://nanovea.com/tr/etiket/girinti/</link>
	<description>Malzeme Araştırması ve Kalite Kontrolü için Metroloji Cihazları</description>
	<lastBuildDate>Thu, 28 May 2015 14:21:43 +0000</lastBuildDate>
	<language>TR</language>
	<sy:updateperiod>
	saatlik	</sy:updateperiod>
	<sy:updatefrequency>
	1	</sy:updatefrequency>
	<generator>https://wordpress.org/?v=6.8.8</generator>

<image>
	<url>https://nanovea.com/wp-content/uploads/2025/02/nanovea-favicon.png</url>
	<title>Girinti Arşivleri -</title>
	<link>https://nanovea.com/tr/etiket/girinti/</link>
	<width>32</width>
	<height>32</height>
</image> 
	<item>
		<title>Nanovea&#8217;s Patent Pending Non-Contact Optical Depth Sensing Technique</title>
		<link>https://nanovea.com/tr/nanoveas-patent-pending-non-contact-optical-depth-sensing-technique/?utm_source=rss&#038;utm_medium=rss&#038;utm_campaign=nanoveas-patent-pending-non-contact-optical-depth-sensing-technique</link>
					<comments>https://nanovea.com/tr/nanoveas-patent-pending-non-contact-optical-depth-sensing-technique/#respond</comments>
		
		<dc:creator><![CDATA[nanovea]]></dc:creator>
		<pubDate>Mon, 20 Oct 2008 18:01:19 +0000</pubDate>
				<category><![CDATA[Press Release]]></category>
		<category><![CDATA[indentation]]></category>
		<guid ispermalink="false">http://nanovea.com/?p=1269</guid>

					<description><![CDATA[<p>Irvine CA, October 20, 2008 &#8212; Nanovea has Patent Pending on Non-Contact Optical Depth Sensing for Instrumented Indentation and Scratch Testing. The &#8220;Revolutionary&#8221; non-contact technique delivers 100% accurate height measurements during micro/macro scratch and hardness testing. Prior to this new advancement any testing would require mechanical surface contact, which was impossible during sample movement, to [&#8230;]</p>
<p>The post <a href="https://nanovea.com/tr/nanoveas-patent-pending-non-contact-optical-depth-sensing-technique/">Nanovea&#8217;s Patent Pending Non-Contact Optical Depth Sensing Technique</a> appeared first on <a href="https://nanovea.com/tr">NANOVEA: Advanced Profilometers, Tribometers, Nanoindenters, and Scratch Testers for Materials Testing</a>.</p>
]]></description>
										<content:encoded><![CDATA[<p>Irvine CA, 20 Ekim 2008 - Nanovea, Aletli Girinti ve Çizik Testi için Temassız Optik Derinlik Algılama konusunda Patent Bekliyor. "Devrim niteliğindeki" temassız teknik, mikro/makro çizik ve sertlik testleri sırasında 100% doğru yükseklik ölçümleri sağlar. Bu yeni gelişmeden önce, herhangi bir test, alt tabaka ve makine uyumluluğunu hesaba katmak için numune hareketi sırasında imkansız olan mekanik yüzey teması gerektiriyordu. Artık dokunmadan girintinin kesin derinliğini gözlemleme yeteneği sayesinde, numune hareketi artık bir sorun olmaktan çıkıyor ve girintinin gerçek derinliği doğrudan kaydedilebiliyor. Micro Photonics Yüzey Test Bölümü Genel Müdürü Pierre Leroux, "Yeni tekniğimiz konusunda çok heyecanlıyız ve üstün sonuçlarını sergilemek için sabırsızlanıyoruz" dedi. "Amaçlandıkları çözümler kadar ilerici cihazlar sunmak için sürekli olarak yeni yollar arıyoruz; bu tekniğin de tam olarak bunu yaptığını düşünüyorum. "Yüksek hassasiyetli modüller, ince/kalın kaplamaların ve alt tabakaların mikro/makro mekanik özelliklerinin enstrümanlı girinti ve çizik/yapışma testleri kullanılarak belirlenmesine yöneliktir. Yarı iletken ve optik teknolojisinde kullanılan plazma ile işlenmiş katmanlardan, otomobil parçaları ve tüketim malları için kullanılan dekoratif ve koruyucu kaplamalara kadar endüstriyel kaplamaların karakterizasyonu için idealdir. Nanovea Mikro/Makro <a title="mekanik test cihazları" href="https://nanovea.com/mechanical-testers">Mekanik Test Cihazları</a> enstrümanlı girinti ve çizik testlerinde kullanılan derinlik-yük eğrilerini elde etmek için bağımsız kuvvet ve derinlik sensörleri kullanır. Sonuç, sektördeki en hızlı ve en doğru ölçüm tekniğidir ve her türlü malzeme şekli ve dokusu üzerinde uygulanabilir ve yumuşak malzemelerde batma ve pürüzlü yüzeylerde referans hareketi gibi indenter yükseklik ölçümleri için eski yöntemlerle ilişkili zorlukları çözer.</p><p>The post <a href="https://nanovea.com/tr/nanoveas-patent-pending-non-contact-optical-depth-sensing-technique/">Nanovea&#8217;s Patent Pending Non-Contact Optical Depth Sensing Technique</a> appeared first on <a href="https://nanovea.com/tr">NANOVEA: Advanced Profilometers, Tribometers, Nanoindenters, and Scratch Testers for Materials Testing</a>.</p>
]]></content:encoded>
					
					<wfw:commentrss>https://nanovea.com/tr/nanoveas-patent-pending-non-contact-optical-depth-sensing-technique/feed/</wfw:commentrss>
			<slash:comments>0</slash:comments>
		
		
			</item>
	</channel>
</rss>