{"id":464,"date":"2012-04-10T14:10:06","date_gmt":"2012-04-10T14:10:06","guid":{"rendered":"http:\/\/nanovea.com\/?p=464"},"modified":"2015-06-30T22:08:30","modified_gmt":"2015-06-30T22:08:30","slug":"a-medida-da-verdade-axial-cromatismo-v-interferometria","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/pt\/a-medida-da-verdade-axial-cromatismo-v-interferometria\/","title":{"rendered":"A MEDIDA DA VERDADE. DESVANTAGENS DA INTERFEROMETRIA"},"content":{"rendered":"

Algumas reflex\u00f5es sobre o que considerar ao rever as duas luzes brancas profil\u00f4metro<\/a> t\u00e9cnicas. As desvantagens da Interferometria da Luz Branca come\u00e7am com o uso de software e equa\u00e7\u00f5es matem\u00e1ticas para detectar, atrav\u00e9s do sistema de imagem, o movimento de franjas atrav\u00e9s da tela \u00e0 medida que a amostra ou a cabe\u00e7a de medi\u00e7\u00e3o \u00e9 movida para cima ou para baixo em etapas espec\u00edficas. Estas medi\u00e7\u00f5es s\u00e3o t\u00e3o boas quanto o que o software e as pe\u00e7as de imagem podem fazer em termos de \"detectar\" o movimento destas franjas. Ao lidar com superf\u00edcies refletoras e lisas, a precis\u00e3o dos dados \u00e9 superior. \u00c9 por isso que a t\u00e9cnica foi desenvolvida principalmente para aplica\u00e7\u00f5es de semicondutores onde as superf\u00edcies s\u00e3o freq\u00fcentemente reflexivas e as etapas, se presentes, est\u00e3o pr\u00f3ximas a \u00e2ngulos de 90\u00b0.<\/p>\n

Entretanto, com uma superf\u00edcie rugosa e pouco reflexiva, a interpreta\u00e7\u00e3o do software da superf\u00edcie real fica longe da verdade por causa dos artefatos inerentes \u00e0 t\u00e9cnica da Interferometria. Al\u00e9m disso, a Interferometria tamb\u00e9m \u00e9 extremamente limitada em termos de medi\u00e7\u00e3o de \u00e2ngulos. Novamente, o software pode agora realizar milagres para completar superf\u00edcies com informa\u00e7\u00f5es adicionais, tais como a forma esperada da superf\u00edcie. A visualiza\u00e7\u00e3o pr\u00e9via dos dados brutos \u00e9 uma maneira de saber o que o software manipulou, mas mesmo o software de an\u00e1lise prim\u00e1ria faz automaticamente uma interpreta\u00e7\u00e3o de como a superf\u00edcie deve ser e completa automaticamente pontos n\u00e3o medidos sem que o usu\u00e1rio saiba. Com um software inteligente, os artefatos podem ser imposs\u00edveis de distinguir dos dados reais, uma vez que a renderiza\u00e7\u00e3o da imagem 3D ter\u00e1 um aspecto perfeito e muitas vezes os usu\u00e1rios n\u00e3o sabem como sua superf\u00edcie realmente \u00e9. Isto \u00e9 especialmente verdadeiro quando se trata de superf\u00edcies mais complexas e dif\u00edceis.<\/p>\n

Al\u00e9m disso, a velocidade \u00e9 apontada como uma grande diferen\u00e7a entre as duas t\u00e9cnicas. \u00c9 verdade que a Interferometria pode medir mais rapidamente um campo de vis\u00e3o de imagem para avaliar a rugosidade e o passo. Estas s\u00e3o claras vantagens quando se lida com superf\u00edcies lisas de semicondutores. Mas novamente, se a superf\u00edcie a ser medida n\u00e3o for lisa, os dados podem ser fornecidos mais rapidamente, mas est\u00e3o longe de ser verdadeiros dados. Al\u00e9m disso, a costura das superf\u00edcies funciona quando, novamente, a superf\u00edcie \u00e9 lisa e reflexiva e com marcadores de posi\u00e7\u00e3o claros. A precis\u00e3o da costura ser\u00e1 reduzida \u00e0 medida que a superf\u00edcie se torna mais \u00e1spera e com tipos de materiais mais dif\u00edceis. Pode tornar-se dif\u00edcil detectar artefatos e problemas com isso quando a superf\u00edcie \u00e9 mais \u00e1spera do que quando voc\u00ea v\u00ea um passo claro. Para obter a melhor resolu\u00e7\u00e3o lateral \u00e9 necess\u00e1rio usar uma objetiva de 100x, que limita a \u00e1rea de medi\u00e7\u00e3o a aproximadamente 140micrometros x 110 micrometros. O n\u00famero de imagens a serem costuradas pode se tornar um problema ao tentar obter dados precisos sobre pe\u00e7as maiores (100 imagens para 1mmx1mm e 10000 imagens para 10mmx10mm). A resolu\u00e7\u00e3o lateral da imagem \u00e9 uma fun\u00e7\u00e3o do n\u00famero de pixels da c\u00e2mera que est\u00e1 sendo usada.<\/p>\n

Ao contr\u00e1rio da t\u00e9cnica de Interferometria manipuladora, a tecnologia de Cromometria Axial de Luz Branca mede a altura diretamente da detec\u00e7\u00e3o do comprimento de onda que atinge a superf\u00edcie da amostra em foco. \u00c9 medi\u00e7\u00e3o direta, sem manipula\u00e7\u00e3o de software matem\u00e1tico. Isto proporciona precis\u00e3o inigual\u00e1vel na superf\u00edcie medida porque um ponto de dados ou \u00e9 medido com precis\u00e3o sem interpreta\u00e7\u00e3o de software ou n\u00e3o \u00e9 de modo algum medido. O software pode completar o ponto n\u00e3o medido, mas o usu\u00e1rio est\u00e1 plenamente ciente disso e pode ter confian\u00e7a de que n\u00e3o h\u00e1 outros artefatos ocultos. A t\u00e9cnica tamb\u00e9m pode medir quase qualquer superf\u00edcie de material com \u00e2ngulos muito mais altos at\u00e9 mais de 80\u00b0 em alguns casos. O cromatismo axial pode varrer em um comprimento de mais de 30cm em menos de 0,3 segundos. Novo sistema de aquisi\u00e7\u00e3o est\u00e1 agora dispon\u00edvel para alcan\u00e7ar 31.000 pontos por segundo com varredura de 1m\/s. Novos sensores de linha com Cromat\u00e9rio Axial podem realmente medir at\u00e9 324.000 pontos por segundo. Uma imagem t\u00edpica adquirida por um interfer\u00f4metro teria menos de 1.000.000 de pontos de dados por campo de vis\u00e3o. O uso de um sensor de linha Axial Chromatism levar\u00e1 alguns segundos, o que significa que a velocidade real est\u00e1 muito pr\u00f3xima da velocidade de Interferometria enquanto fornece dados mais verdadeiros. Portanto, a velocidade deve ser considerada com base na pr\u00f3pria aplica\u00e7\u00e3o.<\/p>\n

O crescimento da t\u00e9cnica de Interferometria se deveu principalmente a seu sucesso em ind\u00fastrias com bolsos mais profundos. Portanto, o custo da Interferometria \u00e9 geralmente o dobro do custo dos sistemas de Cromat\u00e9rio Axial com resolu\u00e7\u00e3o semelhante e capacidade mais ampla. \u00c9 nossa experi\u00eancia que 90% de aplica\u00e7\u00f5es s\u00e3o mais bem servidos usando a t\u00e9cnica do Cromat\u00e9rio Axial. Os clientes que escolheram a tecnologia do Cromantismo Axial raramente ficaram desapontados enquanto que h\u00e1 muitas armadilhas com a escolha da Interferometria. E o pesar \u00e9 quase sempre o mesmo: a desvantagem da Interferometria em rela\u00e7\u00e3o \u00e0 ampla capacidade de medi\u00e7\u00e3o e dados confi\u00e1veis e verdadeiros com uma etiqueta de pre\u00e7o elevado.<\/p>\n

Ver relat\u00f3rio detalhado <\/a><\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

Some thoughts on what to consider when reviewing the two white light profilometer techniques. White Light Interferometry disadvantages start with using software and mathematical equations to detect, through the imaging system, the movement of fringes across the screen as the sample or the measuring head is moved up or down in specific steps. These measurements […]<\/p>","protected":false},"author":1,"featured_media":465,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[1],"tags":[197],"class_list":["post-464","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-uncategorized","tag-interferometry-disadvantages"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/464","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=464"}],"version-history":[{"count":3,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/464\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":1913,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/464\/revisions\/1913"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/media\/465"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=464"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=464"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=464"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}