Irvine CA, 27 de julho de 2016 - A profilometria convencional varre as superf\u00edcies de amostra a partir de uma \u00fanica dire\u00e7\u00e3o fixa. Isto s\u00f3 \u00e9 apropriado para medir amostras suficientemente planas, ao contr\u00e1rio das formas cil\u00edndricas que requerem uma rota\u00e7\u00e3o precisa de 360\u00b0. Para uma aplica\u00e7\u00e3o como a caracteriza\u00e7\u00e3o da aresta de corte helicoidal de uma ferramenta, uma m\u00e1quina convencional precisaria de m\u00faltiplas varreduras a partir de \u00e2ngulos diferentes de toda a pe\u00e7a, bem como uma manipula\u00e7\u00e3o significativa dos dados p\u00f3s-varredura. Isto freq\u00fcentemente consome muito tempo para aplica\u00e7\u00f5es de CQ que requerem apenas medi\u00e7\u00f5es de regi\u00f5es muito espec\u00edficas.<\/p>\n
O est\u00e1gio rotacional da NANOVEA resolve este problema com o controle simult\u00e2neo do movimento dos eixos laterais e rotacionais. Esta t\u00e9cnica elimina a necessidade demorada de medir a pe\u00e7a inteira e o realinhamento cont\u00ednuo. Em vez disso, a circunfer\u00eancia total de toda a aresta de corte pode ser determinada em segundos. Todos os \u00e2ngulos e caracter\u00edsticas desejados podem ser determinados diretamente da varredura, sem a necessidade de costura extensiva de m\u00faltiplos arquivos.<\/p>\n
A t\u00e9cnica crom\u00e1tica confocal da NANOVEA oferece muito mais resolu\u00e7\u00e3o, at\u00e9 2,7 nm, e precis\u00e3o do que os concorrentes da Focus Variation. A altura da superf\u00edcie bruta \u00e9 medida diretamente a partir da detec\u00e7\u00e3o do comprimento de onda focalizado na superf\u00edcie, sem nenhum dos erros causados pelas t\u00e9cnicas de interferometria, sem limita\u00e7\u00f5es de campo de vis\u00e3o e sem necessidade de preparo da superf\u00edcie da amostra. Materiais com reflexividade extremamente alta ou baixa podem ser facilmente medidos e \u00e2ngulos de parede muito altos s\u00e3o caracterizados com precis\u00e3o sem qualquer problema.<\/p>\n
Juntamente com o sensor de linha da NANOVEA, uma barra de dados de at\u00e9 4,78mm de largura pode ser capturada em uma \u00fanica passagem, enquanto se move linearmente at\u00e9 150mm na dire\u00e7\u00e3o de varredura. Simultaneamente, o est\u00e1gio rotacional pode girar a amostra na velocidade desejada. Em conjunto, este sistema permite a cria\u00e7\u00e3o de um mapa de altura 3D cont\u00ednuo de toda a circunfer\u00eancia de uma aresta de corte, com qualquer passo ou raio, em uma fra\u00e7\u00e3o do tempo, quando comparado a outras tecnologias.<\/p>\n