{"id":1273,"date":"2009-01-22T18:02:36","date_gmt":"2009-01-22T18:02:36","guid":{"rendered":"http:\/\/nanovea.com\/?p=1273"},"modified":"2015-05-28T14:21:06","modified_gmt":"2015-05-28T14:21:06","slug":"nanovea-profilometer-receives-class-1cleanroom-aprovacao","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/pt\/nanovea-profilometer-receives-class-1cleanroom-approval\/","title":{"rendered":"O Nanovea Profilometer recebe aprova\u00e7\u00e3o de sala limpa \"Classe 1"},"content":{"rendered":"<p>Irvine, CA, 22 de janeiro de 2009 - A Nanovea Inc. anunciou hoje a instala\u00e7\u00e3o bem-sucedida de seu Profil\u00f4metro dentro da sala limpa Classe 1 de um fabricante l\u00edder em micro-eletr\u00f4nica. A Classe 1 de limpeza \u00e9 conhecida por sua estrita conformidade e demanda personalizada para todos os materiais utilizados no desenvolvimento do instrumento. As avan\u00e7adas capacidades de perfilagem 3D sem contato dos Profil\u00f4metros Nanovea ser\u00e3o agora uma op\u00e7\u00e3o para as mais rigorosas exig\u00eancias de salas limpas microeletr\u00f4nicas. Com o uso de est\u00e1gios lineares motorizados \"limpos\" e a sele\u00e7\u00e3o adequada de materiais, os engenheiros da Nanovea projetaram um sistema personalizado que seria compat\u00edvel com as rigorosas normas de classe 1. As salas limpas classe 1 t\u00eam um n\u00edvel de contamina\u00e7\u00e3o rigorosamente controlado e permitem muito poucas part\u00edculas de qualquer tipo. A sele\u00e7\u00e3o do material foi crucial no projeto dos est\u00e1gios X-Y para que poucas part\u00edculas fossem emitidas para o ar durante os testes. O sistema tamb\u00e9m foi projetado com um alto grau de planicidade, precis\u00e3o e com um n\u00edvel de automa\u00e7\u00e3o que permite ao usu\u00e1rio medir m\u00faltiplas \u00e1reas e costur\u00e1-las juntas. Isto permitir\u00e1 ao usu\u00e1rio criar uma superf\u00edcie grande e plana para comparar a planicidade relativa com muito pouca intera\u00e7\u00e3o do usu\u00e1rio. A \u00e1rea mensur\u00e1vel do perfilador personalizado pode ser de at\u00e9 30cm x 30cm com resolu\u00e7\u00e3o vertical at\u00e9 2nm. Um projeto tamb\u00e9m est\u00e1 dispon\u00edvel para escanear pe\u00e7as grandes, pesadas e at\u00e9 imut\u00e1veis. Isto \u00e9 apenas um vislumbre dos projetos que os engenheiros da Nanovea customizaram. Eles tamb\u00e9m forneceram um Profil\u00f4metro de alta velocidade constru\u00eddo sob medida com velocidades superiores a 30.000 pontos\/segundo e vis\u00e3o mec\u00e2nica com reconhecimento de imagem para melhorar a efici\u00eancia. Al\u00e9m disso, o Profil\u00f4metro <a title=\"profil\u00f4metro\" href=\"https:\/\/nanovea.com\/profilometers\">Profil\u00f4metro<\/a> foram constru\u00eddos com recursos de escaneamento personalizados para adquirir medidas de superf\u00edcie tanto da superf\u00edcie superior quanto da inferior enquanto mede a espessura do material, tudo com resolu\u00e7\u00e3o nanom\u00e9trica. \"A adi\u00e7\u00e3o do design da sala limpa permitir\u00e1 que a Nanovea trabalhe mais perto com ambientes rigorosos, e mais uma vez mostra nossa dedica\u00e7\u00e3o \u00e0 engenhosidade\". Disse Craig Leising, gerente de produto da Nanovea, Inc.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Irvine, CA, January 22, 2009 &#8212; Nanovea Inc. announced today the successful installation of their Profilometer within the Class 1 Cleanroom of a leading micro-electronics manufacturer. 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