{"id":151,"date":"2015-03-04T15:24:24","date_gmt":"2015-03-04T15:24:24","guid":{"rendered":"http:\/\/nanovea.com\/?page_id=151"},"modified":"2018-11-21T17:56:03","modified_gmt":"2018-11-21T17:56:03","slug":"micromacro-modulo","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/nanovea.com\/pt\/micro-macro-module\/","title":{"rendered":"Micro M\u00f3dulo"},"content":{"rendered":"<div id=\"newslider\" style=\"min-height: auto; overflow: hidden;\">\n<ul>\n<li>\n<div class=\"slider-text\">\n<h2>M\u00d3DULO MICRO<\/h2>\n<p>Agora os principais testes micro mec\u00e2nicos do mundo<\/p>\n<\/div>\n<p><!--<img fetchpriority=\"high\" decoding=\"async\" class=\"alignnone\" src=\"https:\/\/nanovea.com\/wp-content\/uploads\/2015\/04\/slide-micromodule.jpg\" alt=\"Microindenter with non contact true depth measurement\" width=\"1033\" height=\"345\" \/>!--><br \/>\n<a href=\"https:\/\/nanovea.com\/wp-content\/uploads\/2018\/11\/Micro-Module-with-Micro-Box.jpg\"><img decoding=\"async\" class=\"alignnone size-full wp-image-4213\" src=\"https:\/\/nanovea.com\/wp-content\/uploads\/2018\/11\/Micro-Module-with-Micro-Box.jpg\" alt=\"\" width=\"1033\" height=\"345\" \/><\/a><\/li>\n<\/ul>\n<\/div>\n<h1><strong>M\u00d3DULO MICRO<\/strong><\/h1>\n<p><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/mechanical-tester\">Testadores Mec\u00e2nicos <\/a>| <a href=\"https:\/\/nanovea.com\/nano-module\">M\u00f3dulo Nano<\/a> | <a href=\"https:\/\/nanovea.com\/application-notes\">Notas de Aplica\u00e7\u00e3o<\/a><\/p>\n<div class=\"product-pic\"><\/div>\n<div class=\"product-desc\">\n<p align=\"justify\">Agora o l\u00edder mundial em testes micro mec\u00e2nicos. Os resultados autom\u00e1ticos, precisos e r\u00e1pidos da dureza e do m\u00f3dulo el\u00e1stico obtidos a partir dos dados de profundidade versus carga s\u00e3o realmente um salto gigantesco em compara\u00e7\u00e3o com os tradicionais testadores de dureza. Esta tecnologia do s\u00e9culo passado foi baseada na inspe\u00e7\u00e3o visual quando sensores de profundidade precisos n\u00e3o estavam dispon\u00edveis. Portanto, hoje em dia n\u00e3o h\u00e1 absolutamente nenhuma vantagem em utilizar os testadores de dureza tradicionais desatualizados. O Micro Module \u00e9 mais r\u00e1pido, mais f\u00e1cil, mais preciso, particularmente com cargas baixas e mais repet\u00edvel. Os testes podem ser realizados em qualquer material, incluindo material muito el\u00e1stico ou em superf\u00edcies onde a identifica\u00e7\u00e3o do tra\u00e7o \u00e9 um desafio. N\u00e3o apenas fornecendo dureza e m\u00f3dulo el\u00e1stico, mas tamb\u00e9m uma ampla gama de testes, tais como flu\u00eancia, curvas de tens\u00e3o-deforma\u00e7\u00e3o, resist\u00eancia ao escoamento, fadiga, resist\u00eancia \u00e0 fratura, resist\u00eancia a arranh\u00f5es e marchas, deforma\u00e7\u00e3o pl\u00e1stica\/el\u00e1stica, taxa de desgaste e coeficiente de fric\u00e7\u00e3o.<\/p>\n<p align=\"justify\">E para aqueles que utilizam instrumentos antiquados de teste de arranh\u00f5es. Estes sistemas t\u00eam uma gama limitada de cargas e usam c\u00e9lulas de carga cantilever propensas a dobras laterais que podem ser vistas na observa\u00e7\u00e3o de arranh\u00f5es ondulados com cargas elevadas. Ao contr\u00e1rio do micro m\u00f3dulo que foi projetado com uma c\u00e9lula de carga compressiva r\u00edgida e mede a profundidade usando um capacitor conectado diretamente ao eixo que segura o indentro. O resultado \u00e9 a mais alta precis\u00e3o dispon\u00edvel no mercado. A ampla gama de cargas utiliz\u00e1veis (5 ordens de magnitude) de um \u00fanico micro m\u00f3dulo torna poss\u00edvel fazer um teste de risco de alta carga, a at\u00e9 200N para um 5micron e acima em um revestimento DLC, TiN, TiC, e depois usar uma carga de 50mN para medir a dureza e o m\u00f3dulo el\u00e1stico sem a influ\u00eancia do substrato. Para revestimentos mais finos at\u00e9 sub m\u00edcrons, o 20N pode ser usado da mesma forma com profundidade versus carga at\u00e9 o mN de um \u00fanico d\u00edgito, mas ainda assim fazer excelentes testes de arranh\u00f5es at\u00e9 20N. Estas cargas mais sens\u00edveis s\u00e3o ideais para a caracteriza\u00e7\u00e3o de revestimentos industriais; desde camadas processadas a plasma usadas em tecnologia de semicondutores e \u00f3ptica, at\u00e9 revestimentos decorativos e de prote\u00e7\u00e3o usados para pe\u00e7as de autom\u00f3veis e bens de consumo. F\u00e1cil e r\u00e1pido de calibrar, a precis\u00e3o dos dados ao longo do tempo e de um instrumento para outro \u00e9 assegurada. Alta longevidade de desempenho com baixo custo de manuten\u00e7\u00e3o e especialmente alta precis\u00e3o vem como padr\u00e3o.<\/p>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<p align=\"justify\"><strong>MODOS DE MICROTESTE<\/strong><\/p>\n<p><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/micro-indentation-tester\">Microindenta\u00e7\u00e3o | Testes de Microdureza<\/a><\/p>\n<p><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/micro-scratch-tester\">Micro-ra\u00e7a | Teste de ades\u00e3o<\/a><\/p>\n<p><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/micro-wear-tester\">Micro Desgaste | Teste de fric\u00e7\u00e3o<\/a><\/p>\n<\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>MICRO MODULE Now the world\u2019s leading micro mechanical testing MICRO MODULE Mechanical Testers | Nano Module | Application Notes Now the world\u2019s leading micro mechanical testing. Automatic, accurate and fast hardness and elastic modulus results obtained from depth versus load data are truly a giant leap compared to traditional hardness testers. This past century technology [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":0,"parent":0,"menu_order":0,"comment_status":"open","ping_status":"open","template":"tpl-newslider.php","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"class_list":["post-151","page","type-page","status-publish","hentry"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/151","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=151"}],"version-history":[{"count":31,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/151\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":4214,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/151\/revisions\/4214"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=151"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}