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O estágio rotacional da NANOVEA resolve este problema com o controle simultâneo do movimento dos eixos laterais e rotacionais. Esta técnica elimina a necessidade demorada de medir a peça inteira e o realinhamento contínuo. Em vez disso, a circunferência total de toda a aresta de corte pode ser determinada em segundos. Todos os ângulos e características desejados podem ser determinados diretamente da varredura, sem a necessidade de costura extensiva de múltiplos arquivos.

A técnica cromática confocal da NANOVEA oferece muito mais resolução, até 2,7 nm, e precisão do que os concorrentes da Focus Variation. A altura da superfície bruta é medida diretamente a partir da detecção do comprimento de onda focalizado na superfície, sem nenhum dos erros causados pelas técnicas de interferometria, sem limitações de campo de visão e sem necessidade de preparo da superfície da amostra. Materiais com reflexividade extremamente alta ou baixa podem ser facilmente medidos e ângulos de parede muito altos são caracterizados com precisão sem qualquer problema.

Juntamente com o sensor de linha da NANOVEA, uma barra de dados de até 4,78mm de largura pode ser capturada em uma única passagem, enquanto se move linearmente até 150mm na direção de varredura. Simultaneamente, o estágio rotacional pode girar a amostra na velocidade desejada. Em conjunto, este sistema permite a criação de um mapa de altura 3D contínuo de toda a circunferência de uma aresta de corte, com qualquer passo ou raio, em uma fração do tempo, quando comparado a outras tecnologias.

Ver nota de aplicação: Medição rotacional usando a Profilometria 3D

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Para nota de aplicação, visite: Testes de Indentação de Rendimentos de ruptura

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Os instrumentos de teste de desgaste já existem há mais de meio século. Desde o início, as cargas de teste eram tipicamente superiores a 1N e as velocidades eram lentas, exceto em aplicações mais recentes de fretting, onde o deslocamento seria limitado a 10's de mícrons. Então a nanoindentação apareceu pela primeira vez no final da década de 80 com a capacidade de fornecer cargas muito mais baixas. Os primeiros sistemas eram, e ainda são em sua maioria, baseados em um sistema de bobina sem loop de controle de retorno. O loop de controle de realimentação é essencial para fornecer um controle de carga superior quando a posição de contato é movida, como a necessária para testes de arranhões ou desgaste. O teste Nano Scratch com combinação de célula de carga piezoelétrica apareceu no final da década de 90. Os primeiros sistemas usaram tecnologias cantilever que deram velocidade suficiente ao controle de realimentação durante os testes de risco e desgaste, mas a velocidade de deslocamento era, e ainda é limitada a menos de 10mm/seg. Para muitas aplicações, a vida útil requer um número muito alto de ciclos para garantir que o dispositivo se aguente após anos de uso. Com a velocidade lenta disponível com tecnologias cantilever, poderia levar mais de 6 meses para realizar um único teste de desgaste. Isto é impraticável e retarda claramente o desenvolvimento e aprovação de novas tecnologias.

A Nanovea é capaz de atingir velocidades mais rápidas e garantir o controle das cargas durante o Teste de Desgaste Nano, utilizando um sistema de alto-falantes de bobina para um deslocamento rápido e suave. Adicionando o uso da Nanovea Módulo Nano com um atuador piezo e uma célula de carga ultra-sensível cria um controle de carga rápido com montagem vertical para garantir uma resposta superior à velocidade.

"Foi-nos dada a oportunidade de realmente provar a capacidade de nossa equipe aqui com este projeto". Estamos muito orgulhosos desta conquista". Esta nova tecnologia irá acelerar a introdução de novos dispositivos com maior vida útil ao mercado cliente". -CEO, Pierre Leroux

►VÍDEO DE VERIFICAÇÃO

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Os instrumentos de teste de desgaste já existem há mais de meio século. Desde o início, as cargas de teste eram tipicamente superiores a 1N e as velocidades eram lentas, exceto em aplicações mais recentes de fretting, onde o deslocamento seria limitado a 10's de mícrons. Então a nanoindentação apareceu pela primeira vez no final da década de 80 com a capacidade de fornecer cargas muito mais baixas. Os primeiros sistemas eram, e ainda são em sua maioria, baseados em um sistema de bobina sem loop de controle de retorno. O loop de controle de realimentação é essencial para fornecer um controle de carga superior quando a posição de contato é movida, como a necessária para testes de arranhões ou desgaste. O teste Nano Scratch com combinação de célula de carga piezoelétrica apareceu no final da década de 90. Os primeiros sistemas usaram tecnologias cantilever que deram velocidade suficiente ao controle de realimentação durante os testes de risco e desgaste, mas a velocidade de deslocamento era, e ainda é limitada a menos de 10mm/seg. Para muitas aplicações, a vida útil requer um número muito alto de ciclos para garantir que o dispositivo se aguente após anos de uso. Com a velocidade lenta disponível com tecnologias cantilever, poderia levar mais de 6 meses para realizar um único teste de desgaste. Isto é impraticável e retarda claramente o desenvolvimento e aprovação de novas tecnologias.

A Nanovea é capaz de atingir velocidades mais rápidas e garantir o controle das cargas durante o Teste de Desgaste Nano, utilizando um sistema de alto-falantes de bobina para um deslocamento rápido e suave. A adição do uso do Nanovea Nano Module com um atuador piezo e uma célula de carga ultra-sensível cria um controle rápido da carga com montagem vertical para garantir uma resposta superior à velocidade.

"Foi-nos dada a oportunidade de realmente provar a capacidade de nossa equipe aqui com este projeto". Estamos muito orgulhosos desta conquista". Esta nova tecnologia irá acelerar a introdução de novos dispositivos com maior vida útil ao mercado cliente". -CEO, Pierre Leroux

►VÍDEO DE VERIFICAÇÃO

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A manchete da linha N3 é a M3, um avanço tecnológico que visa dois aspectos distintos que faltam no mercado de testes de dureza. Primeiro, a combinação de três fatores nunca antes disponíveis: faixa nanométrica, carga e profundidade controladas e um preço competitivo para competir no mercado do $20K. Isto proporciona às universidades e unidades menores de P&D uma capacidade de nanoindentação acessível. O M3 introduz uma capacidade de usuário totalmente nova com esta faixa de preços, proporcionando acesso acessível a resultados de nanoindentação muito rápidos e fáceis sob o padrão ASTM. Em segundo lugar, é oferecer tecnologia de última geração para substituir os tradicionais Visual Micro Vickers Hardness Testers que não mudaram em mais de 15 anos. Para conseguir isso, o método de indentação foi totalmente automatizado, sem a necessidade de observar visualmente o indentação, o que elimina erros do usuário ou problemas com softwares de reconhecimento de imagem que podem ter problemas com a cor e textura do material. Além disso, esta nova tecnologia pode alcançar uma carga menor e funcionará em revestimentos finos e em todas as faixas de materiais, incluindo cerâmicas, polímeros, metais e outros. O sistema totalmente automatizado tem um início de tela sensível ao toque que dá uma média automática de múltiplas medições em minutos. A unidade é compacta e totalmente contida com apenas um cabo elétrico padrão para conexão. Devido a estes avanços na tecnologia e ao preço muito competitivo, a linha M3 será a substituta de escolha para os antigos Micro Vickers Tester atualmente utilizados em ambientes industriais de controle de qualidade de alto rendimento.

O M3 inaugura uma nova era de testes de dureza ao fornecer capacidade de medição que até este ponto visava muito especificamente a pesquisa de ponta. Essencialmente, como a maioria dos avanços tecnológicos, o preço tem mantido nanoindentação capacidade fora do alcance do mercado mais amplo ainda usando equipamento de teste de dureza padrão. O M3 será uma substituição significativa a um custo acessível e o resultado será revolucionário. Mas a Nanovea não parou por aí. O M3 é apenas um dos três novos produtos da nova linha Nanovea N3. Junto com a M3 Nanovea também apresenta o P3 e o T3.

O P3 é um avanço significativo com metrologia 3D sem contato, fornecendo dados de rugosidade ISO de nanômetro automático e dados de passos em quase qualquer material; uma capacidade não disponível no mercado de 20k. O P3 fornecerá a um mercado mais amplo que necessita de nano automático através de dados de rugosidade macro sem o alto custo associado a um sistema Profilometer completo. E por último, mas não menos importante, o T3, como o P3 foi desenvolvido para fornecer acesso rápido, fácil e acessível à capacidade de medição de alta precisão. O T3 é um nano testador automático de desgaste usando o ASTM g133 linear recíproco, para estudo da taxa de desgaste.

"A linha N3 é uma revolução dos instrumentos de medição de material de alta qualidade, cada um à sua maneira e em seus próprios mercados. Cada um foi estrategicamente projetado para seguir o objetivo da Nanovea de fornecer nanotecnologia crucial para o mercado mais amplo". Como muitas tecnologias que estão sendo desenvolvidas atualmente para fazer avançar nossa sociedade, o preço acabará por controlar a ampla aceitação e utilização. Não é diferente com a tecnologia de medição e é igualmente crucial se não mais", disse Pierre Leroux, CEO da Nanovea.

A Nanovea lançará a linha N3 pela primeira vez publicamente na feira Fall 2012 MRS. Os pedidos de compra da linha N3 começam em abril para entrega em junho de 2012.

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