{"id":8164,"date":"2020-04-22T15:44:17","date_gmt":"2020-04-22T15:44:17","guid":{"rendered":"https:\/\/nanovea.com\/?p=8164"},"modified":"2023-11-08T23:11:40","modified_gmt":"2023-11-08T23:11:40","slug":"kompozyt-material-analiza-wykorzystujacy-3d-profilometrie","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/kompozyt-material-analiza-wykorzystujacy-3d-profilometrie\/","title":{"rendered":"Analiza materia\u0142\u00f3w kompozytowych z wykorzystaniem profilometrii 3D"},"content":{"rendered":"
\n\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t
\n\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t
\n\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

Znaczenie profilometrii bezkontaktowej dla materia\u0142\u00f3w kompozytowych
<\/i><\/u><\/strong><\/p>\n

Kluczowe znaczenie ma minimalizacja defekt\u00f3w, aby materia\u0142y kompozytowe by\u0142y jak najbardziej wytrzyma\u0142e w zastosowaniach wzmacniaj\u0105cych. Jako \u017ce jest to materia\u0142 anizotropowy, bardzo wa\u017cne jest, aby kierunek splotu by\u0142 sp\u00f3jny, aby zachowa\u0107 wysok\u0105 przewidywalno\u015b\u0107 wynik\u00f3w. Materia\u0142y kompozytowe maj\u0105 jeden z najwy\u017cszych wsp\u00f3\u0142czynnik\u00f3w wytrzyma\u0142o\u015bci do wagi, co sprawia, \u017ce w niekt\u00f3rych przypadkach s\u0105 mocniejsze od stali. Wa\u017cne jest ograniczenie eksponowanej powierzchni w kompozytach, aby zminimalizowa\u0107 podatno\u015b\u0107 chemiczn\u0105 i efekty rozszerzalno\u015bci cieplnej. Profilometryczna kontrola powierzchni jest krytyczna dla kontroli jako\u015bci produkcji kompozyt\u00f3w, aby zapewni\u0107 wysok\u0105 wydajno\u015b\u0107 przez d\u0142ugi czas u\u017cytkowania.<\/p>\n

Nanovea Bezkontaktowy profilometr 3D<\/a> r\u00f3\u017cni si\u0119 od innych technik pomiaru powierzchni, takich jak sondy dotykowe lub interferometria. Nasze profilometry wykorzystuj\u0105 chromatyzm osiowy do pomiaru niemal ka\u017cdej powierzchni, a otwarta konfiguracja umo\u017cliwia pobieranie pr\u00f3bek o dowolnej wielko\u015bci bez konieczno\u015bci przygotowania. Pomiary w skali od nano do makro s\u0105 uzyskiwane podczas pomiaru profilu powierzchni przy zerowym wp\u0142ywie wsp\u00f3\u0142czynnika odbicia lub absorpcji pr\u00f3bki. Nasze profilometry z \u0142atwo\u015bci\u0105 mierz\u0105 dowolny materia\u0142: przezroczysty, nieprzezroczysty, lustrzany, dyfuzyjny, polerowany i szorstki, dzi\u0119ki zaawansowanej mo\u017cliwo\u015bci pomiaru du\u017cych k\u0105t\u00f3w powierzchni bez manipulacji oprogramowaniem. Technika bezkontaktowego profilometru zapewnia idealn\u0105 i przyjazn\u0105 dla u\u017cytkownika mo\u017cliwo\u015b\u0107 maksymalizacji bada\u0144 powierzchni materia\u0142\u00f3w kompozytowych; wraz z korzy\u015bciami p\u0142yn\u0105cymi z po\u0142\u0105czonych mo\u017cliwo\u015bci 2D i 3D.<\/p>\n

Cel pomiaru<\/p>\n

Profilometr Nanovea HS2000L u\u017cyty w tej aplikacji zmierzy\u0142 powierzchni\u0119 dw\u00f3ch splot\u00f3w kompozyt\u00f3w z w\u0142\u00f3kien w\u0119glowych. Chropowato\u015b\u0107 powierzchni, d\u0142ugo\u015b\u0107 splotu, izotropowo\u015b\u0107, analiza fraktalna i inne parametry powierzchni zosta\u0142y wykorzystane do scharakteryzowania kompozyt\u00f3w. Zmierzony obszar zosta\u0142 wybrany losowo i za\u0142o\u017cono, \u017ce jest wystarczaj\u0105co du\u017cy, aby warto\u015bci w\u0142a\u015bciwo\u015bci mog\u0142y by\u0107 por\u00f3wnane przy u\u017cyciu pot\u0119\u017cnego oprogramowania do analizy powierzchni Nanovea.<\/p>\n\n

\"\"<\/a><\/div>\n\n

Wyniki i dyskusja
<\/i><\/u><\/strong><\/p>\n

Analiza powierzchni<\/i><\/strong><\/p>\n

\n
 <\/div>\n\n
\n
\"\"<\/a><\/div>\n\n
\"\"<\/a><\/div>\n\n
\"\"<\/a><\/div>\n\n
\"\"<\/a><\/div>\n
 <\/div>\n
 <\/div>\n<\/div>\n<\/div>\n
Parametry wysoko\u015bciowe okre\u015blaj\u0105 jak szorstkie b\u0119d\u0105 cz\u0119\u015bci kompozytowe przy niskim stosunku w\u0142\u00f3kien do matrycy. Nasze wyniki por\u00f3wnuj\u0105 r\u00f3\u017cne rodzaje splot\u00f3w i tkanin w celu okre\u015blenia wyko\u0144czenia powierzchni po przetworzeniu. Wyko\u0144czenie powierzchni staje si\u0119 krytyczne w zastosowaniach, w kt\u00f3rych aerodynamika mo\u017ce by\u0107 zaanga\u017cowana.<\/div>\n
 <\/div>\n\n
Izotropia<\/strong><\/em><\/div>\n

\"\"<\/a><\/p>\n

\"\"<\/a><\/p>\n

Izotropia pokazuje kierunkowo\u015b\u0107 splotu w celu okre\u015blenia oczekiwanych warto\u015bci w\u0142a\u015bciwo\u015bci. Nasze badania pokazuj\u0105, \u017ce kompozyt dwukierunkowy jest ~60% izotropowy zgodnie z oczekiwaniami. Tymczasem kompozyt jednokierunkowy jest ~13% izotropowy z powodu silnego pojedynczego w\u0142\u00f3kna kierunkowego \u015bcie\u017cki.<\/p>\n

Analiza splotu
<\/strong><\/em><\/div>\n
 <\/div>\n
\"\"<\/a><\/div>\n
\n

\"\"<\/a><\/p><\/div>\n

Wielko\u015b\u0107 splotu okre\u015bla sp\u00f3jno\u015b\u0107 upakowania i szeroko\u015b\u0107 w\u0142\u00f3kien u\u017cytych w kompozycie. Nasze badanie pokazuje jak \u0142atwo mo\u017cemy zmierzy\u0107 wielko\u015b\u0107 splotu z dok\u0142adno\u015bci\u0105 do mikrona, aby zapewni\u0107 jako\u015b\u0107 cz\u0119\u015bci.<\/p>\n\n

Analiza tekstury<\/strong><\/em><\/div>\n\n
\"\"<\/div>\n

\"\"<\/a><\/p>\n

\"\"<\/div>\n

\"\"<\/a><\/p>\n

Analiza tekstury dominuj\u0105cej d\u0142ugo\u015bci fali sugeruje, \u017ce grubo\u015b\u0107 splot\u00f3w dla obu kompozyt\u00f3w wynosi 4,27 mikrona. Analiza wymiaru fraktalnego powierzchni w\u0142\u00f3kien okre\u015bla g\u0142adko\u015b\u0107, co pozwala stwierdzi\u0107, jak \u0142atwo w\u0142\u00f3kna osadzaj\u0105 si\u0119 w matrycy. Wymiar fraktalny w\u0142\u00f3kna jednokierunkowego jest wy\u017cszy ni\u017c w\u0142\u00f3kna dwukierunkowego, co mo\u017ce mie\u0107 wp\u0142yw na przetwarzanie kompozyt\u00f3w.<\/p>\n\n

Wniosek<\/p>\n

\"\"<\/a><\/p>\n

W tej aplikacji wykazali\u015bmy, \u017ce profilometr bezkontaktowy Nanovea HS2000L precyzyjnie charakteryzuje w\u0142\u00f3knist\u0105 powierzchni\u0119 materia\u0142\u00f3w kompozytowych. Wyr\u00f3\u017cnili\u015bmy r\u00f3\u017cnice pomi\u0119dzy rodzajami splot\u00f3w w\u0142\u00f3kien w\u0119glowych za pomoc\u0105 parametr\u00f3w wysoko\u015bci, izotropowo\u015bci, analizy tekstury i pomiar\u00f3w odleg\u0142o\u015bci oraz wiele innych. <\/p>\n

Nasze pomiary powierzchni profilometru precyzyjnie i szybko \u0142agodz\u0105 uszkodzenia kompozyt\u00f3w, co zmniejsza defekty w cz\u0119\u015bciach, maksymalizuj\u0105c mo\u017cliwo\u015bci materia\u0142\u00f3w kompozytowych. Pr\u0119dko\u015b\u0107 profilometru 3D Nanovea waha si\u0119 od <1mm\/s do 500mm\/s, co pozwala na zastosowanie w aplikacjach badawczych do potrzeb szybkiej inspekcji. Profilometr Nanovea jest rozwi\u0105zaniem
do wszelkich potrzeb zwi\u0105zanych z pomiarami kompozyt\u00f3w.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t

\n\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t
\n\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t

TERAZ POROZMAWIAJMY O TWOJEJ APLIKACJI<\/b><\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\tLIVE CHAT<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t<\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

Importance of Non-Contact Profilometry for Composite Materials It is crucial defects are minimized so composite materials are as strong as possible in reinforcement applications. As an anisotropic material, it is critical weave direction is consistent to maintain high performance predictability. Composite materials have one of the highest strength to weight ratios making it stronger than […]<\/p>","protected":false},"author":1,"featured_media":11685,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[7,349,353,335],"tags":[],"class_list":["post-8164","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-application-notes","category-laboratory-testing","category-profilometry-texture-grain","category-profilometry-testing"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/8164","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=8164"}],"version-history":[{"count":22,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/8164\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":23336,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/8164\/revisions\/23336"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/media\/11685"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=8164"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=8164"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=8164"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}