{"id":8148,"date":"2020-04-08T15:27:56","date_gmt":"2020-04-08T15:27:56","guid":{"rendered":"https:\/\/nanovea.com\/?p=8148"},"modified":"2025-05-22T20:55:14","modified_gmt":"2025-05-22T20:55:14","slug":"wear-and-scratch-evaluation-of-surface-treated-copper-wire","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wear-and-scratch-evaluation-of-surface-treated-copper-wire\/","title":{"rendered":"Ocena zu\u017cycia i zarysowania drutu miedzianego poddanego obr\u00f3bce powierzchniowej"},"content":{"rendered":"
\n\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t
\n\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

Znaczenie oceny zu\u017cycia i zarysowania drutu miedzianego
<\/i><\/u><\/strong><\/p>

Mied\u017a ma d\u0142ug\u0105 histori\u0119 stosowania w okablowaniu elektrycznym od czasu wynalezienia elektromagnesu i telegrafu. Przewody miedziane s\u0105 stosowane w szerokiej gamie urz\u0105dze\u0144 elektronicznych, takich jak panele, mierniki, komputery, maszyny biznesowe i urz\u0105dzenia, dzi\u0119ki ich odporno\u015bci na korozj\u0119, mo\u017cliwo\u015bci lutowania i wydajno\u015bci w podwy\u017cszonych temperaturach do 150\u00b0C. Oko\u0142o po\u0142owa wydobywanej miedzi jest wykorzystywana do produkcji przewod\u00f3w i kabli elektrycznych.<\/p>

Jako\u015b\u0107 powierzchni drutu miedzianego ma kluczowe znaczenie dla wydajno\u015bci i \u017cywotno\u015bci aplikacji. Mikro defekty w drutach mog\u0105 prowadzi\u0107 do nadmiernego zu\u017cycia, inicjacji i propagacji p\u0119kni\u0119\u0107, zmniejszenia przewodno\u015bci i nieodpowiedniej lutowno\u015bci. W\u0142a\u015bciwa obr\u00f3bka powierzchni drut\u00f3w miedzianych usuwa defekty powierzchniowe powsta\u0142e podczas ci\u0105gnienia drutu, poprawiaj\u0105c odporno\u015b\u0107 na korozj\u0119, zarysowania i zu\u017cycie. Wiele zastosowa\u0144 lotniczych z drutami miedzianymi wymaga kontrolowanego zachowania, aby zapobiec nieoczekiwanym awariom sprz\u0119tu. Wymierne i wiarygodne pomiary s\u0105 potrzebne do prawid\u0142owej oceny odporno\u015bci na zu\u017cycie i zarysowania powierzchni drutu miedzianego.<\/p>

\u00a0<\/div>
\u00a0<\/div>

\u00a0<\/p>

Cel pomiaru<\/p>

W tej aplikacji symulujemy kontrolowany proces zu\u017cycia r\u00f3\u017cnych obr\u00f3bek powierzchni drutu miedzianego. Testowanie zarysowa\u0144<\/a> mierzy obci\u0105\u017cenie wymagane do spowodowania zniszczenia obrabianej warstwy powierzchniowej. W tym badaniu zaprezentowano Nanove\u0119 Tribometr <\/a>oraz Tester mechaniczny<\/a> jako idealne narz\u0119dzia do oceny i kontroli jako\u015bci przewod\u00f3w elektrycznych.<\/p>

\u00a0<\/div>

\u00a0<\/p>

Procedura badania i procedury
<\/i><\/u><\/strong><\/p>

Wsp\u00f3\u0142czynnik tarcia (COF) i odporno\u015b\u0107 na zu\u017cycie dw\u00f3ch r\u00f3\u017cnych obr\u00f3bek powierzchni drut\u00f3w miedzianych (drut A i drut B) oceniano za pomoc\u0105 trybometru Nanovea przy u\u017cyciu liniowego modu\u0142u zu\u017cycia posuwisto-zwrotnego. Materia\u0142em przeciwstawnym stosowanym w tym zastosowaniu jest kulka Al\u2082O\u2083 (o \u015brednicy 6 mm). \u015alad zu\u017cycia zbadano za pomoc\u0105 urz\u0105dzenia Nanovea Bezkontaktowy profilometr 3D<\/a>. Parametry testu podsumowano w Tabeli 1.<\/p>

G\u0142adka kulka Al\u2082O\u2083 jako materia\u0142 przeciwny zosta\u0142a u\u017cyta jako przyk\u0142ad w tym badaniu. Ka\u017cdy materia\u0142 lity o innym kszta\u0142cie i wyko\u0144czeniu powierzchni mo\u017ce by\u0107 zastosowany przy u\u017cyciu niestandardowego oprzyrz\u0105dowania, aby zasymulowa\u0107 rzeczywist\u0105 sytuacj\u0119 zastosowania.<\/p>

\"\"<\/a><\/p>

\u00a0<\/div>

\u00a0<\/p>

Tester mechaniczny firmy Nanovea wyposa\u017cony w trzpie\u0144 diamentowy Rockwell C (promie\u0144 100 \u03bcm) wykona\u0142 testy zarysowania drut\u00f3w powlekanych pod obci\u0105\u017ceniem progresywnym z wykorzystaniem trybu mikro zarysowania. Parametry testu zarysowania oraz geometri\u0119 ko\u0144c\u00f3wki przedstawiono w tabeli 2.<\/div>
\u00a0<\/div>

\u00a0<\/p>

\"\"<\/a><\/div>
\u00a0<\/div>

\u00a0<\/p>

Wyniki i dyskusja<\/i><\/u><\/p>

Zu\u017cycie drutu miedzianego:<\/strong><\/p>

Rysunek 2 przedstawia ewolucj\u0119 COF drut\u00f3w miedzianych podczas test\u00f3w zu\u017cycia. Drut A wykazuje stabilny COF na poziomie ~0,4 podczas ca\u0142ej pr\u00f3by zu\u017cycia, natomiast drut B wykazuje COF na poziomie ~0,35 w pierwszych 100 obrotach i stopniowo wzrasta do ~0,4.<\/p>

\"\"<\/a><\/span><\/p>

\u00a0<\/p>

Rysunek 3 por\u00f3wnuje \u015blady zu\u017cycia drut\u00f3w miedzianych po testach. Bezkontaktowy profilometr 3D firmy Nanovea oferowa\u0142 doskona\u0142\u0105 analiz\u0119 szczeg\u00f3\u0142owej morfologii \u015blad\u00f3w zu\u017cycia. Pozwala on na bezpo\u015brednie i dok\u0142adne okre\u015blenie obj\u0119to\u015bci \u015blad\u00f3w zu\u017cycia, zapewniaj\u0105c fundamentalne zrozumienie mechanizmu zu\u017cycia. Powierzchnia drutu B ma znacz\u0105ce uszkodzenia po 600 obrotach w te\u015bcie zu\u017cycia. Widok profilometru 3D pokazuje, \u017ce warstwa obrabiana powierzchniowo drutu B zosta\u0142a ca\u0142kowicie usuni\u0119ta, co znacznie przyspieszy\u0142o proces zu\u017cycia. Pozostawi\u0142 to sp\u0142aszczon\u0105 \u015bcie\u017ck\u0119 zu\u017cycia na drucie B, gdzie ods\u0142oni\u0119ty jest miedziany substrat. Mo\u017ce to skutkowa\u0107 znacznym skr\u00f3ceniem \u017cywotno\u015bci urz\u0105dze\u0144 elektrycznych, w kt\u00f3rych drut B jest u\u017cywany. Dla por\u00f3wnania, drut A wykazuje stosunkowo \u0142agodne zu\u017cycie, na co wskazuje p\u0142ytka \u015bcie\u017cka zu\u017cycia na powierzchni. Warstwa poddana obr\u00f3bce powierzchniowej na drucie A nie zosta\u0142a usuni\u0119ta tak jak warstwa na drucie B w tych samych warunkach.<\/span><\/p>

\"\"<\/a><\/p>

\"\"<\/a><\/p>

Odporno\u015b\u0107 na zarysowania powierzchni drutu miedzianego:<\/strong><\/p>

Na rysunku 4 przedstawiono \u015blady zarysowa\u0144 na przewodach po badaniach. Warstwa ochronna drutu A wykazuje bardzo dobr\u0105 odporno\u015b\u0107 na zarysowania. Rozwarstwia si\u0119 przy obci\u0105\u017ceniu ~12,6 N. Dla por\u00f3wnania, warstwa ochronna drutu B uleg\u0142a zniszczeniu przy obci\u0105\u017ceniu ~1,0 N. Tak znacz\u0105ca r\u00f3\u017cnica w odporno\u015bci na zarysowania dla tych drut\u00f3w przyczynia si\u0119 do ich odporno\u015bci na zu\u017cycie, gdzie drut A posiada znacznie wi\u0119ksz\u0105 odporno\u015b\u0107 na zu\u017cycie. Ewolucja si\u0142y normalnej, COF i g\u0142\u0119boko\u015bci podczas test\u00f3w zarysowania pokazana na Rys. 5 dostarcza wi\u0119cej informacji na temat uszkodzenia pow\u0142oki podczas test\u00f3w.<\/p>

\"\"<\/a><\/p>

\"\"<\/a><\/p>

Wniosek<\/p>

\"\"<\/a><\/p>

W tym kontrolowanym badaniu zaprezentowali\u015bmy trybometr Nanovea przeprowadzaj\u0105cy ilo\u015bciow\u0105 ocen\u0119 odporno\u015bci na zu\u017cycie drut\u00f3w miedzianych poddanych obr\u00f3bce powierzchniowej oraz tester mechaniczny Nanovea zapewniaj\u0105cy wiarygodn\u0105 ocen\u0119 odporno\u015bci drut\u00f3w miedzianych na zarysowania. Obr\u00f3bka powierzchni drutu odgrywa kluczow\u0105 rol\u0119 we w\u0142a\u015bciwo\u015bciach tribo-mechanicznych w ca\u0142ym okresie eksploatacji. Odpowiednia obr\u00f3bka powierzchni drutu A znacznie zwi\u0119kszy\u0142a odporno\u015b\u0107 na zu\u017cycie i zarysowania, co ma kluczowe znaczenie dla wydajno\u015bci i \u017cywotno\u015bci przewod\u00f3w elektrycznych w trudnych warunkach.<\/p>

Trybometr Nanovea oferuje precyzyjne i powtarzalne testy zu\u017cycia i tarcia przy u\u017cyciu tryb\u00f3w obrotowych i liniowych zgodnych z normami ISO i ASTM, z opcjonalnymi modu\u0142ami zu\u017cycia w wysokich temperaturach, smarowania i tribokorozji dost\u0119pnymi w jednym wst\u0119pnie zintegrowanym systemie. Niezr\u00f3wnana gama urz\u0105dze\u0144 Nanovea jest idealnym rozwi\u0105zaniem do okre\u015blania pe\u0142nego zakresu w\u0142a\u015bciwo\u015bci trybologicznych cienkich lub grubych, mi\u0119kkich lub twardych pow\u0142ok, folii i pod\u0142o\u017cy.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t

\n\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t
\n\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t

Masz podobn\u0105 aplikacj\u0119?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\tPOROZMAWIAJ Z EKSPERTEM JU\u017b TERAZ<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\tSZYBKA WYCENA I SZCZEG\u00d3\u0141OWE INFORMACJE<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t<\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"","protected":false},"author":1,"featured_media":11689,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[7,349,372,337,350,353,335,345,346,336],"tags":[],"class_list":["post-8148","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-application-notes","category-laboratory-testing","category-linear-tribology","category-mechanical-testing","category-profilometry-geometry-shape","category-profilometry-texture-grain","category-profilometry-testing","category-scratch-testing-adhesive-failure","category-scratch-testing-cohesive-failure","category-tribology-testing"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/8148","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=8148"}],"version-history":[{"count":37,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/8148\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":24779,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/8148\/revisions\/24779"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/media\/11689"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=8148"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=8148"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=8148"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}