{"id":464,"date":"2012-04-10T14:10:06","date_gmt":"2012-04-10T14:10:06","guid":{"rendered":"http:\/\/nanovea.com\/?p=464"},"modified":"2015-06-30T22:08:30","modified_gmt":"2015-06-30T22:08:30","slug":"pomiar-prawdziwosci-chromatyzm-osiowy-vs-interferometria","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/pomiar-prawdziwosci-chromatyzm-osiowy-vs-interferometria\/","title":{"rendered":"POMIAR PRAWDY. WADY INTERFEROMETRII"},"content":{"rendered":"

Kilka przemy\u015ble\u0144 na temat tego, co nale\u017cy wzi\u0105\u0107 pod uwag\u0119 podczas przegl\u0105du dw\u00f3ch bia\u0142ych \u015bwiate\u0142 profilometr<\/a> techniki. Wady interferometrii \u015bwiat\u0142a bia\u0142ego zaczynaj\u0105 si\u0119 od wykorzystania oprogramowania i r\u00f3wna\u0144 matematycznych do wykrywania, poprzez system obrazowania, ruchu pr\u0105\u017ck\u00f3w na ekranie, gdy pr\u00f3bka lub g\u0142owica pomiarowa jest przesuwana w g\u00f3r\u0119 lub w d\u00f3\u0142 w okre\u015blonych krokach. Pomiary te s\u0105 tak dobre, jak dobre jest oprogramowanie i cz\u0119\u015bci obrazuj\u0105ce w zakresie \"wykrywania\" ruchu tych pr\u0105\u017ck\u00f3w. W przypadku odblaskowych i g\u0142adkich powierzchni dok\u0142adno\u015b\u0107 danych jest lepsza. Dlatego te\u017c technika ta zosta\u0142a opracowana g\u0142\u00f3wnie do zastosowa\u0144 p\u00f3\u0142przewodnikowych, gdzie powierzchnie s\u0105 cz\u0119sto odblaskowe, a stopnie, je\u015bli wyst\u0119puj\u0105, s\u0105 zbli\u017cone do k\u0105t\u00f3w 90\u00b0.<\/p>\n

Jednak w przypadku chropowatej i s\u0142abo odbijaj\u0105cej powierzchni, interpretacja rzeczywistej powierzchni przez oprogramowanie staje si\u0119 daleka od prawdy z powodu artefakt\u00f3w zwi\u0105zanych z technik\u0105 interferometrii. Ponadto, interferometria jest r\u00f3wnie\u017c niezwykle ograniczona pod wzgl\u0119dem pomiaru k\u0105ta. Ponownie, oprogramowanie mo\u017ce teraz dokonywa\u0107 cud\u00f3w, aby uzupe\u0142ni\u0107 powierzchnie o dodatkowe informacje, takie jak oczekiwany kszta\u0142t powierzchni. Podgl\u0105d surowych danych jest jednym ze sposob\u00f3w, aby dowiedzie\u0107 si\u0119, co oprogramowanie zmanipulowa\u0142o, ale nawet podstawowe oprogramowanie do analizy automatycznie renderuje interpretacj\u0119 tego, jak musi wygl\u0105da\u0107 powierzchnia i automatycznie uzupe\u0142nia niezmierzone punkty bez wiedzy u\u017cytkownika. Dzi\u0119ki sprytnemu oprogramowaniu artefakty mog\u0105 by\u0107 niemo\u017cliwe do odr\u00f3\u017cnienia od rzeczywistych danych, poniewa\u017c renderowanie obrazu 3D b\u0119dzie wygl\u0105da\u0107 idealnie i cz\u0119sto u\u017cytkownicy nie wiedz\u0105, jak naprawd\u0119 wygl\u0105da ich powierzchnia. Jest to szczeg\u00f3lnie prawdziwe w przypadku bardziej z\u0142o\u017conych i trudnych powierzchni.<\/p>\n

Szybko\u015b\u0107 jest r\u00f3wnie\u017c wskazywana jako g\u0142\u00f3wna r\u00f3\u017cnica mi\u0119dzy tymi dwiema technikami. Prawd\u0105 jest, \u017ce interferometria mo\u017ce szybciej zmierzy\u0107 jedno pole widzenia obrazu w celu oceny chropowato\u015bci i stopnia. S\u0105 to wyra\u017ane zalety w przypadku g\u0142adkich powierzchni p\u00f3\u0142przewodnikowych. Ale ponownie, je\u015bli mierzona powierzchnia nie jest g\u0142adka, dane mog\u0105 by\u0107 dostarczane szybciej, ale s\u0105 dalekie od prawdziwych danych. Dodatkowo, \u0142\u0105czenie powierzchni dzia\u0142a, gdy powierzchnia jest g\u0142adka i odblaskowa oraz z wyra\u017anymi znacznikami po\u0142o\u017cenia. Dok\u0142adno\u015b\u0107 zszywania zmniejszy si\u0119, gdy powierzchnia stanie si\u0119 bardziej szorstka i z trudniejszymi rodzajami materia\u0142\u00f3w. Wykrycie artefakt\u00f3w i problem\u00f3w z tym zwi\u0105zanych mo\u017ce by\u0107 trudniejsze, gdy powierzchnia jest bardziej szorstka ni\u017c w przypadku wyra\u017anego kroku. Aby uzyska\u0107 najlepsz\u0105 rozdzielczo\u015b\u0107 boczn\u0105, konieczne jest u\u017cycie obiektywu 100x, kt\u00f3ry ogranicza obszar pomiaru do oko\u0142o 140 mikrometr\u00f3w x 110 mikrometr\u00f3w. Liczba obraz\u00f3w do po\u0142\u0105czenia mo\u017ce sta\u0107 si\u0119 problemem przy pr\u00f3bie uzyskania dok\u0142adnych danych na wi\u0119kszych cz\u0119\u015bciach (100 obraz\u00f3w dla 1mmx1mm i 10000 obraz\u00f3w dla 10mmx10mm). Rozdzielczo\u015b\u0107 boczna obrazu jest funkcj\u0105 liczby pikseli w u\u017cywanej kamerze.<\/p>\n

W przeciwie\u0144stwie do manipulacyjnej techniki interferometrii, technologia osiowego chromatyzmu w \u015bwietle bia\u0142ym mierzy wysoko\u015b\u0107 bezpo\u015brednio na podstawie wykrywania d\u0142ugo\u015bci fali, kt\u00f3ra uderza w powierzchni\u0119 pr\u00f3bki w ognisku. Jest to pomiar bezpo\u015bredni, bez manipulacji oprogramowaniem matematycznym. Zapewnia to niezr\u00f3wnan\u0105 dok\u0142adno\u015b\u0107 mierzonej powierzchni, poniewa\u017c punkt danych jest albo mierzony dok\u0142adnie bez interpretacji oprogramowania, albo wcale. Oprogramowanie mo\u017ce uzupe\u0142ni\u0107 niezmierzony punkt, ale u\u017cytkownik jest tego w pe\u0142ni \u015bwiadomy i mo\u017ce mie\u0107 pewno\u015b\u0107, \u017ce nie ma innych ukrytych artefakt\u00f3w. Technika ta mo\u017ce r\u00f3wnie\u017c mierzy\u0107 prawie ka\u017cd\u0105 powierzchni\u0119 materia\u0142u o znacznie wy\u017cszych k\u0105tach, w niekt\u00f3rych przypadkach nawet do ponad 80\u00b0. Chromatografia osiowa mo\u017ce skanowa\u0107 na d\u0142ugo\u015bci ponad 30 cm w czasie kr\u00f3tszym ni\u017c 0,3 sekundy. Dost\u0119pne s\u0105 teraz nowe systemy akwizycji, kt\u00f3re pozwalaj\u0105 osi\u0105gn\u0105\u0107 31 000 punkt\u00f3w na sekund\u0119 przy skanowaniu z pr\u0119dko\u015bci\u0105 1 m\/s. Nowe czujniki liniowe z systemem Axial Chromatism mog\u0105 mierzy\u0107 do 324 000 punkt\u00f3w na sekund\u0119. Typowy obraz uzyskany przez interferometr mia\u0142by mniej ni\u017c 1 000 000 punkt\u00f3w danych na pole widzenia. Przy u\u017cyciu czujnika Axial Chromatism skanowanie linii zajmie kilka sekund, co oznacza, \u017ce rzeczywista pr\u0119dko\u015b\u0107 jest bardzo zbli\u017cona do pr\u0119dko\u015bci interferometrii, zapewniaj\u0105c jednocze\u015bnie dok\u0142adniejsze dane. Dlatego pr\u0119dko\u015b\u0107 powinna by\u0107 rozwa\u017cana w oparciu o sam\u0105 aplikacj\u0119.<\/p>\n

Rozw\u00f3j techniki interferometrii wynika\u0142 g\u0142\u00f3wnie z jej sukcesu w bran\u017cach o g\u0142\u0119bszych kieszeniach. Dlatego te\u017c koszt interferometrii jest zazwyczaj dwukrotnie wy\u017cszy ni\u017c koszt system\u00f3w chromatografii osiowej o podobnej rozdzielczo\u015bci i szerszych mo\u017cliwo\u015bciach. Z naszego do\u015bwiadczenia wynika, \u017ce 90% aplikacji jest lepiej obs\u0142ugiwanych przy u\u017cyciu techniki chromatyzmu osiowego. Klienci, kt\u00f3rzy wybrali technologi\u0119 chromatografii osiowej, rzadko byli rozczarowani, podczas gdy wyb\u00f3r interferometrii wi\u0105\u017ce si\u0119 z wieloma pu\u0142apkami. A \u017cal jest prawie zawsze ten sam: wada interferometrii polegaj\u0105ca na szerokich mo\u017cliwo\u015bciach pomiarowych i niezawodnie prawdziwych danych z wysok\u0105 cen\u0105.<\/p>\n

Zobacz szczeg\u00f3\u0142owy raport <\/a><\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

Some thoughts on what to consider when reviewing the two white light profilometer techniques. White Light Interferometry disadvantages start with using software and mathematical equations to detect, through the imaging system, the movement of fringes across the screen as the sample or the measuring head is moved up or down in specific steps. These measurements […]<\/p>","protected":false},"author":1,"featured_media":465,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[1],"tags":[197],"class_list":["post-464","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-uncategorized","tag-interferometry-disadvantages"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/464","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=464"}],"version-history":[{"count":3,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/464\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":1913,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/464\/revisions\/1913"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/media\/465"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=464"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=464"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/pl\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=464"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}