Irvine, Kalifornia, 27 lipca 2016 r. - Konwencjonalna profilometria skanuje powierzchnie pr\u00f3bek z jednego, sta\u0142ego kierunku. Jest to odpowiednie tylko do pomiaru wystarczaj\u0105co p\u0142askich pr\u00f3bek, w przeciwie\u0144stwie do cylindrycznych kszta\u0142t\u00f3w, kt\u00f3re wymagaj\u0105 precyzyjnego obrotu o 360\u00b0. W przypadku zastosowania takiego jak charakteryzowanie spiralnej kraw\u0119dzi skrawaj\u0105cej narz\u0119dzia, konwencjonalna maszyna wymaga\u0142aby wielu skan\u00f3w pod r\u00f3\u017cnymi k\u0105tami ca\u0142ej cz\u0119\u015bci, a tak\u017ce znacznej manipulacji danymi po skanowaniu. Jest to cz\u0119sto zbyt czasoch\u0142onne dla aplikacji QC, kt\u00f3re wymagaj\u0105 pomiar\u00f3w tylko z bardzo okre\u015blonych region\u00f3w.<\/p>\n
St\u00f3\u0142 obrotowy NANOVEA rozwi\u0105zuje ten problem dzi\u0119ki jednoczesnej kontroli ruchu osi bocznej i obrotowej. Technika ta eliminuje czasoch\u0142onn\u0105 potrzeb\u0119 pomiaru ca\u0142ej cz\u0119\u015bci i ci\u0105g\u0142ego wyr\u00f3wnywania. Zamiast tego, pe\u0142ny obw\u00f3d ca\u0142ej kraw\u0119dzi tn\u0105cej mo\u017cna okre\u015bli\u0107 w ci\u0105gu kilku sekund. Wszystkie po\u017c\u0105dane k\u0105ty i cechy mo\u017cna okre\u015bli\u0107 bezpo\u015brednio na podstawie skanu, bez konieczno\u015bci \u0142\u0105czenia wielu plik\u00f3w.<\/p>\n
Chromatyczna technika konfokalna NANOVEA oferuje znacznie wi\u0119ksz\u0105 rozdzielczo\u015b\u0107, a\u017c do 2,7 nm, i dok\u0142adno\u015b\u0107 ni\u017c konkurencyjne rozwi\u0105zania Focus Variation. Surowa wysoko\u015b\u0107 powierzchni jest mierzona bezpo\u015brednio z detekcji d\u0142ugo\u015bci fali skupionej na powierzchni, bez b\u0142\u0119d\u00f3w powodowanych przez techniki interferometryczne, bez ogranicze\u0144 pola widzenia i bez potrzeby przygotowania powierzchni pr\u00f3bki. Materia\u0142y o ekstremalnie wysokim lub niskim wsp\u00f3\u0142czynniku odbicia mog\u0105 by\u0107 \u0142atwo mierzone, a bardzo wysokie k\u0105ty \u015bcian s\u0105 dok\u0142adnie charakteryzowane bez \u017cadnych problem\u00f3w.<\/p>\n
W po\u0142\u0105czeniu z czujnikiem liniowym NANOVEA, pasek danych o szeroko\u015bci do 4,78 mm mo\u017ce by\u0107 rejestrowany w jednym przej\u015bciu, poruszaj\u0105c si\u0119 liniowo do 150 mm w kierunku skanowania. Jednocze\u015bnie stolik obrotowy mo\u017ce obraca\u0107 pr\u00f3bk\u0119 z \u017c\u0105dan\u0105 pr\u0119dko\u015bci\u0105. Podsumowuj\u0105c, system ten pozwala na tworzenie ci\u0105g\u0142ej mapy wysoko\u015bci 3D ca\u0142ego obwodu kraw\u0119dzi skrawaj\u0105cej, o dowolnej podzia\u0142ce lub promieniu, w u\u0142amku czasu w por\u00f3wnaniu z innymi technologiami.<\/p>\n