Archiwa wcięć - https://nanovea.com/pl/tag/wciecie/ Przyrządy metrologiczne do badań materiałowych i kontroli jakości Thu, 28 May 2015 14:21:43 +0000 pl-PL co godzinę 1 https://wordpress.org/?v=6.8.5 https://nanovea.com/wp-content/uploads/2025/02/nanovea-favicon.png Archiwa wcięć - https://nanovea.com/pl/tag/wciecie/ 32 32 Nanovea’s Patent Pending Non-Contact Optical Depth Sensing Technique https://nanovea.com/pl/nanoveas-patent-pending-non-contact-optical-depth-sensing-technique/?utm_source=rss&utm_medium=rss&utm_campaign=nanoveas-patent-pending-non-contact-optical-depth-sensing-technique https://nanovea.com/pl/nanoveas-patent-pending-non-contact-optical-depth-sensing-technique/#respond Mon, 20 Oct 2008 18:01:19 +0000 http://nanovea.com/?p=1269 Irvine CA, October 20, 2008 — Nanovea has Patent Pending on Non-Contact Optical Depth Sensing for Instrumented Indentation and Scratch Testing. The “Revolutionary” non-contact technique delivers 100% accurate height measurements during micro/macro scratch and hardness testing. Prior to this new advancement any testing would require mechanical surface contact, which was impossible during sample movement, to […]

The post Nanovea’s Patent Pending Non-Contact Optical Depth Sensing Technique appeared first on NANOVEA: Advanced Profilometers, Tribometers, Nanoindenters, and Scratch Testers for Materials Testing.

]]> Irvine, Kalifornia, 20 października 2008 r. - Nanovea zgłosiła patent na bezkontaktowe optyczne wykrywanie głębokości dla oprzyrządowanych testów wgłębień i zarysowań. "Rewolucyjna" technika bezkontaktowa zapewnia 100% dokładne pomiary wysokości podczas mikro/makro zarysowań i testów twardości. Przed wprowadzeniem tego nowego rozwiązania wszelkie testy wymagałyby mechanicznego kontaktu z powierzchnią, co było niemożliwe podczas ruchu próbki, aby uwzględnić zgodność podłoża i maszyny. Teraz, dzięki możliwości obserwowania dokładnej głębokości wgłębnika bez dotyku, ruch próbki nie jest już problemem, a rzeczywista głębokość wgłębnika może być bezpośrednio rejestrowana. "Jesteśmy bardzo podekscytowani naszą nową techniką i z niecierpliwością czekamy na zaprezentowanie jej doskonałych wyników" - powiedział Pierre Leroux, dyrektor generalny Micro Photonics Surface Test Division. "Konsekwentnie poszukujemy nowych sposobów dostarczania instrumentów, które są tak postępowe, jak rozwiązania, do których są przeznaczone; myślę, że ta technika właśnie to robi". "Wysoce precyzyjne moduły do określania właściwości mechanicznych mikro/makro cienkich/grubych powłok i podłoży za pomocą oprzyrządowanych testów wgłębień i zarysowań/przyczepności. Idealnie nadają się do charakteryzacji powłok przemysłowych; od warstw przetwarzanych plazmowo, stosowanych w technologii półprzewodnikowej i optycznej, po powłoki dekoracyjne i ochronne, stosowane w częściach samochodowych i towarach konsumpcyjnych. Nanovea Micro/Macro Testery mechaniczne wykorzystują niezależne czujniki siły i głębokości w celu uzyskania krzywych głębokość-obciążenie stosowanych w oprzyrządowanych testach wgłębień i zarysowań. Rezultatem jest najszybsza i najdokładniejsza technika pomiarowa w branży, która może być stosowana na materiałach o dowolnym kształcie i teksturze oraz rozwiązuje wyzwania związane ze starszymi metodami pomiaru wysokości wgłębnika, takimi jak zagłębianie się w miękkich materiałach i ruch referencyjny na chropowatych powierzchniach.

The post Nanovea’s Patent Pending Non-Contact Optical Depth Sensing Technique appeared first on NANOVEA: Advanced Profilometers, Tribometers, Nanoindenters, and Scratch Testers for Materials Testing.

]]> https://nanovea.com/pl/nanoveas-patent-pending-non-contact-optical-depth-sensing-technique/feed/ 0