터치 프로브나 간섭계와 같은 다른 기술과 달리 NANOVEA의 3D 비접촉식 광학 프로파일러 축 색수차를 사용하여 거의 모든 표면을 측정합니다. 

프로파일러 시스템의 개방형 스테이징은 다양한 시료 크기를 허용하며 시료 전처리가 전혀 필요하지 않습니다. 시료 반사율이나 흡수의 영향을 전혀 받지 않고 한 번의 스캔으로 나노부터 매크로 범위의 특징을 검출할 수 있습니다. 또한 이 프로파일러는 소프트웨어로 결과를 조작할 필요 없이 높은 표면 각도를 측정할 수 있는 고급 기능을 갖추고 있습니다.

투명, 불투명, 반사, 확산, 광택, 거칠기 등 모든 재료를 쉽게 측정할 수 있습니다. 나노베아 3D 비접촉 프로파일러의 측정 기술은 2D 및 3D 기능 결합의 장점과 함께 표면 연구를 극대화할 수 있는 이상적이고 광범위하며 사용자 친화적인 기능을 제공합니다.