プリント基板の画像重ね合わせによる3Dトポグラフィー

nanovea — Wed, 26 Aug 2015 21:00:58 +0000

半導体チップや回路、システムなど、より高度な電子設計やレイアウトには、高精度な製造と優れた品質管理が要求されます。タッチプローブや干渉計などの他の技術とは異なり、ナノベアーの3D非接触はプロフィロメーターアキシャルクロマティズムを利用することで、ほぼ全ての材料の表面を測定することができます。表面形状測定時に、試料の反射率、吸収率、高表面角度の影響を受けず、ナノからマクロの領域が得られます。材質や反射率、形状が異なる様々な電子部品を搭載したプリント基板アセンブリ（PCBA）の表面検査に最適です。さらに、非接触プロファイリング技術により、PCBAに触れることなく表面形状を測定するため、プローブスタイラスのスライドにより繊細な回路や電子部品が損傷するリスクを回避できます。高精度、高速、非接触、使いやすさを兼ね備えたナノベアプロフィロメータは、PCBAの検査に理想的なツールです。