{"id":464,"date":"2012-04-10T14:10:06","date_gmt":"2012-04-10T14:10:06","guid":{"rendered":"http:\/\/nanovea.com\/?p=464"},"modified":"2015-06-30T22:08:30","modified_gmt":"2015-06-30T22:08:30","slug":"la-misurazione-della-verita-cromatismo-assiale-vs-interferometria","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/it\/la-misurazione-della-verita-cromatismo-assiale-vs-interferometria\/","title":{"rendered":"LA MISURAZIONE DELLA VERIT\u00c0. SVANTAGGI DELL'INTERFEROMETRIA"},"content":{"rendered":"

Alcune riflessioni su cosa considerare quando si esaminano le due luci bianche profilometro<\/a> tecniche. Gli svantaggi dell'interferometria a luce bianca iniziano con l'utilizzo di software ed equazioni matematiche per rilevare, attraverso il sistema di imaging, il movimento delle frange sullo schermo quando il campione o la testa di misura vengono spostati verso l'alto o verso il basso in passi specifici. La qualit\u00e0 di queste misure dipende da quanto il software e le parti di imaging sono in grado di \"rilevare\" il movimento delle frange. Quando si tratta di superfici riflettenti e lisce, la precisione dei dati \u00e8 superiore. Per questo motivo la tecnica \u00e8 stata sviluppata principalmente per le applicazioni dei semiconduttori, dove le superfici sono spesso riflettenti e i gradini, se presenti, sono vicini ad angoli di 90\u00b0.<\/p>\n

Tuttavia, con una superficie ruvida e poco riflettente, l'interpretazione software della superficie reale diventa molto lontana dalla verit\u00e0 a causa degli artefatti intrinseci della tecnica interferometrica. Inoltre, l'interferometria \u00e8 estremamente limitata in termini di misurazione degli angoli. Anche in questo caso, il software pu\u00f2 fare miracoli per completare le superfici con informazioni aggiuntive, come la forma prevista della superficie. L'anteprima dei dati grezzi \u00e8 un modo per sapere che cosa il software ha manipolato, ma anche il software di analisi primaria rende automaticamente un'interpretazione di come deve apparire la superficie e completa automaticamente i punti non misurati senza che l'utente se ne accorga. Con un software intelligente, pu\u00f2 essere impossibile distinguere gli artefatti dai dati reali, poich\u00e9 il rendering dell'immagine 3D sembrer\u00e0 perfetto e spesso gli utenti non sanno che aspetto abbia realmente la loro superficie. Ci\u00f2 \u00e8 particolarmente vero quando si ha a che fare con superfici pi\u00f9 complesse e difficili.<\/p>\n

Inoltre, la velocit\u00e0 viene indicata come una delle principali differenze tra le due tecniche. \u00c8 vero che l'interferometria pu\u00f2 misurare pi\u00f9 rapidamente un'immagine del campo visivo per valutare la rugosit\u00e0 e il gradino. Si tratta di vantaggi evidenti quando si tratta di superfici lisce di semiconduttori. Ma anche in questo caso, se la superficie da misurare non \u00e8 liscia, i dati possono essere forniti pi\u00f9 rapidamente, ma sono ben lontani dai dati reali. Inoltre, la cucitura delle superfici funziona quando, ancora una volta, la superficie \u00e8 liscia e riflettente e con chiari marcatori di posizione. L'accuratezza della cucitura si riduce quando la superficie diventa pi\u00f9 ruvida e con tipi di materiali pi\u00f9 difficili. Quando la superficie \u00e8 pi\u00f9 ruvida pu\u00f2 diventare difficile individuare gli artefatti e i problemi rispetto a quando si vede un gradino chiaro. Per ottenere la migliore risoluzione laterale \u00e8 necessario utilizzare un obiettivo 100x, che limita l'area di misura a circa 140 micrometri x 110 micrometri. Il numero di immagini da ricucire pu\u00f2 diventare un problema quando si cerca di ottenere dati accurati su pezzi pi\u00f9 grandi (100 immagini per 1mmx1mm e 10000 immagini per un 10mmx10mm). La risoluzione laterale dell'immagine \u00e8 funzione del numero di pixel della fotocamera utilizzata.<\/p>\n

A differenza della tecnica manipolativa dell'interferometria, la tecnologia del cromatismo assiale a luce bianca misura l'altezza direttamente dal rilevamento della lunghezza d'onda che colpisce la superficie del campione a fuoco. Si tratta di una misura diretta, senza manipolazioni matematiche del software. Ci\u00f2 fornisce un'accuratezza senza pari sulla superficie misurata, poich\u00e9 un punto di dati pu\u00f2 essere misurato accuratamente senza l'interpretazione del software o non essere misurato affatto. Il software pu\u00f2 completare il punto non misurato, ma l'utente ne \u00e8 pienamente consapevole e pu\u00f2 avere la certezza che non vi siano altri artefatti nascosti. La tecnica pu\u00f2 inoltre misurare quasi tutte le superfici dei materiali con angoli molto pi\u00f9 elevati, fino a oltre 80\u00b0 in alcuni casi. Il cromatismo assiale pu\u00f2 eseguire scansioni su una lunghezza di oltre 30 cm in meno di 0,3 secondi. Sono ora disponibili nuovi sistemi di acquisizione che consentono di raggiungere 31.000 punti al secondo con una scansione di 1 m\/s. I nuovi sensori di linea con cromatismo assiale possono misurare fino a 324.000 punti al secondo. Un'immagine tipica acquisita da un interferometro ha meno di 1.000.000 di punti dati per campo visivo. La scansione di un sensore a cromatismo assiale richiede pochi secondi, il che significa che la velocit\u00e0 effettiva \u00e8 molto vicina a quella dell'interferometria, pur fornendo dati pi\u00f9 veritieri. Pertanto, la velocit\u00e0 deve essere considerata in base all'applicazione stessa.<\/p>\n

La crescita della tecnica dell'interferometria \u00e8 dovuta soprattutto al suo successo nelle industrie con tasche pi\u00f9 profonde. Pertanto, il costo dell'interferometria \u00e8 generalmente doppio rispetto a quello dei sistemi di cromatismo assiale con risoluzione simile e capacit\u00e0 pi\u00f9 ampie. Secondo la nostra esperienza, le 90% applicazioni sono meglio servite dalla tecnica del cromatismo assiale. I clienti che hanno scelto la tecnologia del cromatismo assiale raramente sono rimasti delusi, mentre la scelta dell'interferometria presenta molte insidie. E il rammarico \u00e8 quasi sempre lo stesso: lo svantaggio dell'interferometria di avere un'ampia capacit\u00e0 di misura e dati affidabili e veritieri, con un prezzo elevato.<\/p>\n

Vedere il rapporto dettagliato <\/a><\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

Some thoughts on what to consider when reviewing the two white light profilometer techniques. White Light Interferometry disadvantages start with using software and mathematical equations to detect, through the imaging system, the movement of fringes across the screen as the sample or the measuring head is moved up or down in specific steps. These measurements […]<\/p>","protected":false},"author":1,"featured_media":465,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[1],"tags":[197],"class_list":["post-464","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-uncategorized","tag-interferometry-disadvantages"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/464","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=464"}],"version-history":[{"count":3,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/464\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":1913,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/464\/revisions\/1913"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/media\/465"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=464"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=464"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=464"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}