{"id":3415,"date":"2018-07-30T19:27:21","date_gmt":"2018-07-30T19:27:21","guid":{"rendered":"https:\/\/nanovea.com\/?p=3415"},"modified":"2019-07-31T14:47:43","modified_gmt":"2019-07-31T14:47:43","slug":"profilometria-automatizzata-di-grandi-dimensioni-pcb","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/it\/automated-large-area-profilometry-pcb\/","title":{"rendered":"Profilometria automatizzata di grandi superfici di PCB"},"content":{"rendered":"<p>La scalabilit\u00e0 dei processi di produzione \u00e8 necessaria alle industrie per crescere e tenere il passo con le richieste in costante aumento. Con l'aumento dei processi produttivi, anche gli strumenti utilizzati per il controllo qualit\u00e0 devono essere scalati. Questi strumenti devono essere veloci per tenere il passo con il ritmo di produzione, pur mantenendo un'elevata precisione per rispettare i limiti di tolleranza del prodotto. Qui, il Nanovea HS2000 <a href=\"https:\/\/nanovea.com\/profilometers\/\">Profilometro,\u00a0<\/a>con Line Sensor, dimostra il suo valore come strumento di controllo della qualit\u00e0 grazie alle sue capacit\u00e0 di profilometria veloce, automatizzata e ad alta risoluzione su grandi superfici.<\/p>\n<p><a href=\"https:\/\/www.youtube.com\/watch?v=9NuPHYFr5IY\">Video clip<\/a> o App Note: <a href=\"http:\/\/nanovea.com\/\/App-Notes\/pcb-topography.pdf\">Profilometria automatizzata di grandi superfici di PCB<\/a><\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Scaling up of manufacturing processes is necessary for industries to grow and keep up with constantly increasing demands. As manufacturing process scales up, the tools used in quality control also need to be scaled up. These tools must be fast to keep up with the production rate, while still maintaining high accuracy to meet product [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":3408,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[7,350],"tags":[319],"class_list":["post-3415","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-application-notes","category-profilometry-geometry-shape","tag-large-area-profilometry"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/3415","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=3415"}],"version-history":[{"count":3,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/3415\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":3418,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/3415\/revisions\/3418"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/media\/3408"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=3415"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=3415"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=3415"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}