{"id":3357,"date":"2018-03-29T13:49:55","date_gmt":"2018-03-29T13:49:55","guid":{"rendered":"https:\/\/nanovea.com\/?p=3357"},"modified":"2019-07-31T14:56:53","modified_gmt":"2019-07-31T14:56:53","slug":"rivestimento-dei-wafer-misurazione-dello-spessore-con-la-profilometria-3d","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wafer-coating-thickness-measurement-using-3d-profilometry\/","title":{"rendered":"Misurazione dello spessore del rivestimento dei wafer con la profilometria 3D"},"content":{"rendered":"<p>La misurazione dello spessore del rivestimento dei wafer \u00e8 fondamentale. I wafer di silicio sono ampiamente utilizzati per la realizzazione di circuiti integrati e altri microdispositivi impiegati in un gran numero di settori. La costante richiesta di wafer e rivestimenti pi\u00f9 sottili e levigati rende il sistema 3D senza contatto Nanovea <a href=\"https:\/\/nanovea.com\/profilometers\/\">Profilometro<\/a> un ottimo strumento per quantificare lo spessore del rivestimento e la rugosit\u00e0 di qualsiasi superficie. Le misure riportate in questo articolo sono state effettuate su un campione di wafer rivestito per dimostrare le capacit\u00e0 del nostro profilometro 3D senza contatto.<\/p>\n<p><a href=\"http:\/\/nanovea.com\/App-Notes\/thinfilmthicknessmeasurement.pdf\">Misurazione dello spessore del rivestimento dei wafer con la profilometria 3D<\/a><\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Wafer Coating Thickness Measurement is critical. Silicon wafers are widely used in the making of integrated circuits and other micro devices used in a vast number of industries. A constant demand for thinner and smoother wafers and wafer coatings makes the Nanovea 3D non-contact Profilometer a great tool to quantify coating thickness and roughness of [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":3360,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[7,352],"tags":[308],"class_list":["post-3357","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-application-notes","category-profilometry-step-height-thickness","tag-wafer-coating-thickness"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/3357","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=3357"}],"version-history":[{"count":3,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/3357\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":6628,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/3357\/revisions\/6628"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/media\/3360"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=3357"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=3357"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=3357"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}