Irvine CA, 27 luglio 2016 - La profilometria convenzionale scansiona le superfici dei campioni da un'unica direzione fissa. Ci\u00f2 \u00e8 appropriato solo per misurare campioni sufficientemente piatti, al contrario delle forme cilindriche che richiedono una precisa rotazione di 360\u00b0. Per un'applicazione come la caratterizzazione del tagliente elicoidale di un utensile, una macchina convenzionale richiederebbe scansioni multiple da diverse angolazioni dell'intero pezzo, oltre a una significativa manipolazione dei dati post-scansione. Questo spesso richiede troppo tempo per le applicazioni di controllo qualit\u00e0 che richiedono solo misurazioni da regioni molto specifiche.<\/p>\n
Lo stadio rotazionale di NANOVEA risolve questo problema con il controllo simultaneo del movimento degli assi laterali e rotazionali. Questa tecnica elimina la necessit\u00e0 di misurare l'intero pezzo e di riallinearlo continuamente. Al contrario, \u00e8 possibile determinare l'intera circonferenza del tagliente in pochi secondi. Tutti gli angoli e le caratteristiche desiderate possono essere determinati direttamente dalla scansione, senza la necessit\u00e0 di ricucire pi\u00f9 file.<\/p>\n
La tecnica confocale cromatica di NANOVEA offre una risoluzione e un'accuratezza di gran lunga superiori, fino a 2,7 nm, rispetto ai concorrenti a variazione di fuoco. L'altezza della superficie grezza viene misurata direttamente dal rilevamento della lunghezza d'onda focalizzata sulla superficie, senza gli errori causati dalle tecniche di interferometria, senza limitazioni del campo visivo e senza la necessit\u00e0 di preparare la superficie del campione. \u00c8 possibile misurare facilmente materiali con riflettivit\u00e0 estremamente elevata o bassa e caratterizzare con precisione angoli di parete molto elevati senza alcun problema.<\/p>\n
In combinazione con il sensore di linea di NANOVEA, \u00e8 possibile acquisire una barra di dati larga fino a 4,78 mm in un solo passaggio, muovendosi linearmente fino a 150 mm nella direzione di scansione. Contemporaneamente, lo stadio rotante pu\u00f2 far ruotare il campione alla velocit\u00e0 desiderata. Insieme, questo sistema consente di creare una mappa 3D continua dell'altezza dell'intera circonferenza di un tagliente, con qualsiasi passo o raggio, in una frazione di tempo rispetto ad altre tecnologie.<\/p>\n