{"id":22017,"date":"2023-05-01T18:42:24","date_gmt":"2023-05-01T18:42:24","guid":{"rendered":"https:\/\/nanovea.com\/?p=22017"},"modified":"2025-05-22T19:12:25","modified_gmt":"2025-05-22T19:12:25","slug":"ispezione-della-rugosita-della-carta-con-la-profilometria-3d","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/it\/ispezione-della-rugosita-della-carta-con-la-profilometria-3d\/","title":{"rendered":"Ispezione della mappatura della rugosit\u00e0 con la profilometria 3D"},"content":{"rendered":"
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ISPEZIONE CON MAPPATURA DELLA RUGOSIT\u00c0<\/h1>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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USANDO LA PROFILOMETRIA 3D<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Preparato da<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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DUANJIE, PhD<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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INTRODUZIONE<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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La rugosit\u00e0 e la consistenza della superficie sono fattori critici che influiscono sulla qualit\u00e0 finale e sulle prestazioni di un prodotto. Una comprensione approfondita della rugosit\u00e0, della struttura e della consistenza della superficie \u00e8 essenziale per selezionare le migliori misure di lavorazione e controllo. Per identificare in tempo i prodotti difettosi e ottimizzare le condizioni della linea di produzione, \u00e8 necessaria un'ispezione in linea rapida, quantificabile e affidabile delle superfici dei prodotti.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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IMPORTANZA DEL PROFILOMETRO 3D SENZA CONTATTO PER L'ISPEZIONE IN LINEA DELLE SUPERFICI<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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I difetti superficiali nei prodotti derivano dalla lavorazione dei materiali e dalla fabbricazione del prodotto. L'ispezione della qualit\u00e0 della superficie in linea garantisce il controllo di qualit\u00e0 pi\u00f9 rigoroso dei prodotti finali. NANOVEA Profilatori ottici 3D senza contatto<\/a> utilizzano la tecnologia della luce cromatica con la capacit\u00e0 unica di determinare la ruvidit\u00e0 di un campione senza contatto. Il sensore di linea consente la scansione del profilo 3D di un'ampia superficie ad alta velocit\u00e0. La soglia di rugosit\u00e0, calcolata in tempo reale dal software di analisi, funge da strumento pass\/fail veloce e affidabile.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t

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OBIETTIVO DI MISURAZIONE<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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In questo studio, il NANOVEA ST400, dotato di un sensore ad alta velocit\u00e0, \u00e8 stato utilizzato per ispezionare la superficie di un campione di Te\ufb02on con un difetto, per mostrare la capacit\u00e0 del NANOVEA di essere in grado di gestire la de\ufb01nizione di un campione di Te\ufb02on.<\/em><\/p>

I pro\ufb01lometri senza contatto forniscono un'ispezione rapida e affidabile delle super\ufb01ci in una linea di produzione.<\/em><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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NANOVEA<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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ST400<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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RISULTATI E DISCUSSIONE<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Analisi 3D della superficie del\u00a0<\/em><\/strong>Ruvidit\u00e0 Campione standard<\/em><\/strong><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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La superficie di un campione di rugosit\u00e0 \u00e8 stata scansionata con un NANOVEA ST400 dotato di un sensore ad alta velocit\u00e0 che genera una linea luminosa di 192 punti, come mostrato in FIGURA 1. Questi 192 punti scansionano contemporaneamente la superficie del campione, aumentando notevolmente la velocit\u00e0 di scansione. Questi 192 punti scansionano la superficie del campione contemporaneamente, aumentando notevolmente la velocit\u00e0 di scansione.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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La FIGURA 2 mostra viste in falsi colori della mappa dell'altezza della superficie e della mappa di distribuzione della rugosit\u00e0 del campione standard di rugosit\u00e0. In FIGURA 2a, il campione di rugosit\u00e0 presenta una superficie leggermente inclinata, come rappresentato dal gradiente di colore variabile in ciascuno dei blocchi di rugosit\u00e0 standard. In FIGURA 2b, la distribuzione omogenea della rugosit\u00e0 \u00e8 mostrata in blocchi di rugosit\u00e0 diversi, il cui colore rappresenta la rugosit\u00e0 nei blocchi.<\/p>

La FIGURA 3 mostra esempi di Mappe Pass\/Fail generate dal software di analisi in base a soglie di rugosit\u00e0 diverse. I blocchi di rugosit\u00e0 sono evidenziati in rosso quando la loro rugosit\u00e0 superficiale \u00e8 superiore a un determinato valore di soglia. In questo modo l'utente pu\u00f2 impostare una soglia di rugosit\u00e0 per determinare la qualit\u00e0 della finitura superficiale di un campione.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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FIGURA 1:<\/span> Scansione del sensore ottico a linee sul campione Roughness Standard
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a.<\/span> Mappa dell'altezza della superficie:
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b.<\/span>\u00a0Mappa di rugosit\u00e0:
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FIGURA 2:<\/span> Viste in falsi colori della mappa dell'altezza superficiale e della mappa di distribuzione della rugosit\u00e0 del campione standard di rugosit\u00e0.<\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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FIGURA 3:<\/span> Mappa Passa\/Scarta in base alla soglia di ruvidit\u00e0.<\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t

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Ispezione superficiale di un campione di Te\ufb02on con difetti<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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La mappa dell'altezza della superficie, la mappa della distribuzione della rugosit\u00e0 e la mappa della soglia di rugosit\u00e0 Passa\/Scarta del campione di Te\ufb02on sono mostrate in FIGURA 4. Il campione di Te\ufb02on presenta una cresta al centro destro del campione, come mostrato nella mappa dell'altezza della superficie. Il campione di Te\ufb02on presenta una cresta al centro destro del campione, come mostrato nella mappa dell'altezza superficiale.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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a.<\/span> Mappa dell'altezza della superficie:
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I di\ufb00erenti colori della palette di FIGURA 4b rappresentano il valore di rugosit\u00e0 della superficie locale. La mappa di rugosit\u00e0 mostra una rugosit\u00e0 omogenea nell'area intatta del campione di Te\ufb02on. Tuttavia, i difetti, sotto forma di un anello frastagliato e di una cicatrice da usura, sono evidenziati con colori brillanti. L'utente pu\u00f2 facilmente impostare una soglia di rugosit\u00e0 Pass\/Fail per individuare i difetti superficiali, come mostrato nella FIGURA 4c. Questo strumento consente agli utenti di monitorare in loco la qualit\u00e0 della superficie del prodotto nella linea di produzione e di scoprire in tempo i prodotti difettosi. Il valore di rugosit\u00e0 in tempo reale viene calcolato e registrato al passaggio dei prodotti dal sensore ottico in linea, che pu\u00f2 servire come strumento rapido ma affidabile per il controllo della qualit\u00e0.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t

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b.<\/span>\u00a0Mappa di rugosit\u00e0:
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c.<\/span> Mappa di soglia di ruvidit\u00e0 Pass\/Fail:
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FIGURA 4:<\/span> Mappa dell'altezza della superficie, mappa della distribuzione della rugosit\u00e0 e <\/span>Mappa di soglia di ruvidit\u00e0 Pass\/Fail della superficie del campione di Te\ufb02on.<\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t

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CONCLUSIONE<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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In questa applicazione, abbiamo dimostrato come il profilatore ottico senza contatto NANOVEA ST400 3D, dotato di un sensore ottico di linea, funzioni come strumento affidabile di controllo della qualit\u00e0 in modo efficace ed efficiente.<\/p>

Il sensore ottico a linea genera una linea luminosa di 192 punti che scansionano contemporaneamente la superficie del campione, aumentando notevolmente la velocit\u00e0 di scansione. Pu\u00f2 essere installato nella linea di produzione per monitorare la rugosit\u00e0 superficiale dei prodotti in loco. La soglia di rugosit\u00e0 funziona come criterio affidabile per determinare la qualit\u00e0 della superficie dei prodotti, consentendo agli utenti di notare in tempo i prodotti difettosi.<\/p>

I dati qui riportati rappresentano solo una parte dei calcoli disponibili nel software di analisi. I profilometri NANOVEA misurano virtualmente qualsiasi superficie in campi come quello dei semiconduttori, della microelettronica, del solare, delle fibre ottiche, dell'automotive, dell'aerospaziale, della metallurgia, della lavorazione, dei rivestimenti, del farmaceutico, del biomedicale, dell'ambientale e molti altri.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t

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Avete un'applicazione simile?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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\n\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\tDISCUTETE SUBITO CON UN ESPERTO<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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\n\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\tOTTENERE RAPIDAMENTE PREZZI E DETTAGLI<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t<\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

ISPEZIONE DELLA MAPPATURA DELLA RUGOSIT\u00c0 USANDO LA PROFILOMETRIA 3D Preparato da DUANJIE, PhD INTRODUZIONE La rugosit\u00e0 e la struttura della superficie sono fattori critici che influiscono sulla qualit\u00e0 finale e sulle prestazioni di un prodotto. Una conoscenza approfondita della ruvidit\u00e0, della struttura e della consistenza della superficie \u00e8 essenziale per selezionare le migliori misure di lavorazione e controllo. Ispezione in linea rapida, quantificabile e affidabile del prodotto [\u2026]<\/p>","protected":false},"author":1,"featured_media":22037,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[7,349,354,351,355,335],"tags":[],"class_list":["post-22017","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-application-notes","category-laboratory-testing","category-profilometry-flatness-warpage","category-profilometry-roughness-finish","category-profilometry-volume-area","category-profilometry-testing"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/22017","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=22017"}],"version-history":[{"count":22,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/22017\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":24693,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/22017\/revisions\/24693"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/media\/22037"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=22017"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=22017"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=22017"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}