{"id":1968,"date":"2015-08-26T21:00:58","date_gmt":"2015-08-26T21:00:58","guid":{"rendered":"http:\/\/nanovea.com\/?p=1968"},"modified":"2015-10-21T17:38:36","modified_gmt":"2015-10-21T17:38:36","slug":"3d-topografia-pcb","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/it\/3d-topography-pcb\/","title":{"rendered":"Topografia 3D con sovrapposizione di immagini di PCB"},"content":{"rendered":"<p>La progettazione elettronica pi\u00f9 sofisticata e il layout di chip, circuiti e sistemi a semiconduttore richiedono una produzione di alta precisione e un controllo di qualit\u00e0 superiore. A differenza di altre tecniche, come le sonde a contatto o l'interferometria, il sistema Nanovea 3D Non-Contact <a href=\"https:\/\/nanovea.com\/profilometers\" target=\"_blank\">Profilometro<\/a>utilizzando il cromatismo assiale, \u00e8 in grado di misurare quasi tutte le superfici dei materiali. Durante la misurazione del profilo della superficie si ottiene una gamma che va dal nano al macro, senza l'influenza della riflettivit\u00e0 del campione, dell'assorbimento e degli angoli di superficie elevati. Questo \u00e8 l'ideale per l'ispezione della superficie dell'assemblaggio di PCB (PCBA), che contiene una variet\u00e0 di componenti elettronici di materiali, riflettivit\u00e0 e caratteristiche diverse. Inoltre, la tecnica di profilazione senza contatto misura le caratteristiche della superficie senza toccare il PCBA, evitando il rischio di danneggiare i delicati circuiti e componenti elettronici a causa dello scorrimento dello stilo della sonda. La combinazione di alta precisione, alta velocit\u00e0, assenza di contatto e facilit\u00e0 d'uso rende il profilometro Nanovea uno strumento ideale per l'ispezione delle PCBA.<\/p>\n<p><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/wp-content\/themes\/wp-nanovea\/Application%20Notes\/pcb-topography.pdf\" target=\"_blank\">Topografia 3D con sovrapposizione di immagini di PCB<\/a><\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>The more sophisticated electronic design and layout of semiconductor chips, circuits and systems requires high precision manufacturing and superior quality control. Unlike other techniques such as touch probes or interferometry, the Nanovea 3D Non-Contact Profilometer, using axial chromatism, can measure nearly any material surface. Nano through macro range is obtained during surface profile measurement with [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":1960,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[7],"tags":[204,12],"class_list":["post-1968","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-application-notes","tag-pcb-topography","tag-profilometer"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1968","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=1968"}],"version-history":[{"count":2,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1968\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":1981,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1968\/revisions\/1981"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/media\/1960"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=1968"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=1968"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=1968"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}