{"id":1273,"date":"2009-01-22T18:02:36","date_gmt":"2009-01-22T18:02:36","guid":{"rendered":"http:\/\/nanovea.com\/?p=1273"},"modified":"2015-05-28T14:21:06","modified_gmt":"2015-05-28T14:21:06","slug":"nanovea-profilometro-riceve-lapprovazione-di-classe-1-in-camera-bianca","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/it\/nanovea-profilometer-receives-class-1cleanroom-approval\/","title":{"rendered":"Il profilometro Nanovea riceve l'approvazione di \"Classe 1\" per le camere bianche"},"content":{"rendered":"<p>Irvine, CA, 22 gennaio 2009 - Nanovea Inc. ha annunciato oggi il successo dell'installazione del suo profilometro nella camera bianca di classe 1 di un importante produttore di microelettronica. L'autorizzazione alla camera bianca di Classe 1 \u00e8 nota per la sua rigorosa conformit\u00e0 e per la richiesta personalizzata di tutti i materiali utilizzati nello sviluppo dello strumento. Le avanzate capacit\u00e0 di profilatura 3D senza contatto dei profilometri Nanovea saranno ora un'opzione per i pi\u00f9 severi requisiti della camera bianca microelettronica. Grazie all'uso di stadi lineari motorizzati \"puliti\" e alla corretta selezione dei materiali, gli ingegneri di Nanovea hanno progettato un sistema su misura compatibile con i severi standard della classe 1. Le camere bianche di classe 1 hanno un livello di contaminazione strettamente controllato e consentono l'ingresso di pochissime particelle di qualsiasi tipo. La selezione dei materiali \u00e8 stata fondamentale nella progettazione degli stadi X-Y, in modo da emettere poche particelle nell'aria durante i test. Il sistema \u00e8 stato inoltre progettato con un elevato grado di planarit\u00e0 e precisione e con un livello di automazione che consente all'utente di misurare pi\u00f9 aree e di cucirle insieme. Ci\u00f2 consentir\u00e0 all'utente di creare un'unica grande superficie planare per confrontare la planarit\u00e0 relativa con un'interazione minima da parte dell'utente. L'area misurabile del profilatore personalizzato pu\u00f2 raggiungere i 30 cm x 30 cm con una risoluzione verticale di 2 nm. \u00c8 disponibile anche un progetto per la scansione di parti grandi, pesanti e persino inamovibili. Questo \u00e8 solo un assaggio dei progetti che gli ingegneri di Nanovea hanno personalizzato. Hanno anche fornito un profilometro ad alta velocit\u00e0 costruito su misura con velocit\u00e0 superiori a 30.000 punti al secondo e una visione artificiale con riconoscimento delle immagini per migliorare l'efficienza. Inoltre, <a title=\"profilometro\" href=\"https:\/\/nanovea.com\/profilometers\">Profilometro<\/a> sono stati costruiti con capacit\u00e0 di scansione personalizzate per acquisire misure di superficie sia dalla superficie superiore che da quella inferiore, misurando al contempo lo spessore del materiale, il tutto con una risoluzione nanometrica. \"L'aggiunta del design della camera bianca consentir\u00e0 a Nanovea di lavorare in ambienti pi\u00f9 severi e dimostra ancora una volta la nostra dedizione all'ingegno\". Ha dichiarato Craig Leising, Product Manager di Nanovea, Inc.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Irvine, CA, January 22, 2009 &#8212; Nanovea Inc. announced today the successful installation of their Profilometer within the Class 1 Cleanroom of a leading micro-electronics manufacturer. Class 1 Cleanroom clearance is known for its strict compliance and custom demand for all materials used in the development of the instrument. 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