{"id":1261,"date":"2005-01-05T17:58:03","date_gmt":"2005-01-05T17:58:03","guid":{"rendered":"http:\/\/nanovea.com\/?p=1261"},"modified":"2015-05-28T14:23:16","modified_gmt":"2015-05-28T14:23:16","slug":"microfotonica-svela-uno-strumento-di-scansione-e-profilatura-a-scansione-doppia","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/it\/micro-photonics-unveils-dual-scanning-profilometer-and-scanning-instrument\/","title":{"rendered":"Micro Photonics presenta un doppio profilometro di scansione e uno strumento di scansione"},"content":{"rendered":"<p>Irvine CA, 25 gennaio 2005 - Micro Photonics Inc. ha annunciato oggi l'ultima aggiunta alla sua linea di strumenti per il controllo dei materiali di superficie. Il Profilometro a doppia scansione \u00e8 il primo del suo genere e fornisce una scansione simultanea dello spessore e della doppia profilometria. Fissato su una piattaforma tra le due penne, lo stage del campione si muove in direzione x-y consentendo alle due sonde di determinare un profilo superficiale sincronizzato. Il software del sistema calcola la distanza nota tra le penne, con la lunghezza d'onda della luce bianca incidente riflessa dalla superficie del campione, per determinare lo spessore del campione in qualsiasi punto. Utilizzando il principio dell'aberrazione cromatica, due penne fanno passare la luce bianca attraverso l'obiettivo e la riflettono sulla superficie del campione. L'obiettivo raccoglie quindi la lunghezza d'onda della luce bianca incidente e la rifocalizza a una distanza variabile dall'obiettivo. Questa tecnologia esclusiva \u00e8 disponibile presso Micro Photonics Inc. Micro Photonics \u00e8 un fornitore leader di strumenti per la tecnologia dei materiali e per i test di laboratorio da oltre dodici anni. L'azienda \u00e8 specializzata in: Test nano e micro meccanici, micro tomografia a raggi X, elipsometria, diffrazione a raggi X, 3D senza contatto. <a title=\"profilometro\" href=\"https:\/\/nanovea.com\/profilometers\">Profilometro<\/a>, analisi di film sottili, strumenti di imaging biologico e sistemi NSOM, SPM e AFM.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Irvine CA, January 25, 2005 \u2013 Micro Photonics Inc. announced today the latest addition to their line of surface materials testing instruments. The Dual Scanning Profilometer the first of its kind, providing simultaneous thickness and dual profilometry scanning. Secured on a platform between the two pens, the sample stage moves in an x-y direction allowing [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":0,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[10],"tags":[32],"class_list":["post-1261","post","type-post","status-publish","format-standard","hentry","category-press-release","tag-dual-scanning"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1261","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=1261"}],"version-history":[{"count":4,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1261\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":1329,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1261\/revisions\/1329"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=1261"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=1261"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=1261"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}