{"id":1243,"date":"2012-01-07T00:25:06","date_gmt":"2012-01-07T00:25:06","guid":{"rendered":"http:\/\/nanovea.com\/?p=1243"},"modified":"2015-06-18T16:35:41","modified_gmt":"2015-06-18T16:35:41","slug":"ispezione-dei-connettori-con-la-profilometria-3d","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/it\/connector-pin-inspection-with-3d-profilometry\/","title":{"rendered":"Ispezione dei pin dei connettori con la profilometria 3D"},"content":{"rendered":"<p>In questa applicazione, il Nanovea ST400 <a title=\"profilometro\" href=\"https:\/\/nanovea.com\/profilometers\" target=\"_blank\">Profilometro<\/a> \u00e8 utilizzato per misurare l'intera area della superficie di un connettore e dei suoi pin. L'applicazione \u00e8 stata scelta per le sue caratteristiche impegnative e per evidenziare le opzioni di misura della tecnica di Nanovea. Esiste un elenco infinito di parametri di superficie che possono essere calcolati automaticamente dopo la scansione della superficie. Qui esamineremo un profilo 3D completo, la planarit\u00e0 della base del connettore, la complanarit\u00e0 dei pin e la rugosit\u00e0 della punta di un pin.<\/p>\n<p><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/wp-content\/themes\/wp-nanovea\/Application%20Notes\/connector-pin-inspection.pdf\">Ispezione dei pin dei connettori con la profilometria 3D<\/a><\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>In this application, the Nanovea ST400 Profilometer is used to measure the full area of a connector surface and its pins. The application was chosen for its challenging features while highlighting the measurement options with Nanovea\u2019s technique. There is an endless list surface parameters that can be automatically calculated after the surface scan. Here we [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":1244,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[7],"tags":[183],"class_list":["post-1243","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-application-notes","tag-connector-pin"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1243","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=1243"}],"version-history":[{"count":3,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1243\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":1801,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1243\/revisions\/1801"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/media\/1244"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=1243"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=1243"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=1243"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}