{"id":1008,"date":"2013-12-04T15:18:15","date_gmt":"2013-12-04T15:18:15","guid":{"rendered":"http:\/\/nanovea.com\/?p=1008"},"modified":"2019-07-31T14:58:18","modified_gmt":"2019-07-31T14:58:18","slug":"misurazione-di-film-trasparenti-su-substrati-trasparenti-con-la-profilometria-3d","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/it\/transparent-film-on-transparent-substrate-measurement-using-3d-profilometry\/","title":{"rendered":"Misura di film trasparenti su substrato trasparente"},"content":{"rendered":"<p>Il profilometro Nanovea PS50 viene utilizzato per la misurazione della rugosit\u00e0, dello spessore dell'altezza del gradino e dello spessore ottico di un film sottile trasparente su un substrato di vetro trasparente. L'altezza del gradino sar\u00e0 ottenuta misurando un'area del film e un'area in cui il substrato \u00e8 esposto per la differenza di altezza relativa, mentre lo spessore ottico sar\u00e0 misurato utilizzando il sensore di temperatura del film. <a title=\"profilometro\" href=\"https:\/\/nanovea\/profilometers\" target=\"_blank\" rel=\"noopener noreferrer\">Profilomete<\/a>r capacit\u00e0 di misurare attraverso la pellicola trasparente e di rilevare una riflessione simultanea dalla superficie superiore della pellicola e dal substrato.<\/p>\n<p><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/wp-content\/themes\/wp-nanovea\/Application%20Notes\/transparent-film-measurement.pdf\">Misura di film trasparenti su substrato trasparente mediante profilometria 3D<\/a><\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>The Nanovea PS50 Profilometer is used for roughness measurement, step height thickness and optical thickness of a thin transparent film on a transparent glass substrate. Step height will be obtained by measuring an area of the film and an area where the substrate is exposed for relative height difference, while optical thickness will be measured [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":1009,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[7,352],"tags":[],"class_list":["post-1008","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-application-notes","category-profilometry-step-height-thickness"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1008","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=1008"}],"version-history":[{"count":4,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1008\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":6639,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1008\/revisions\/6639"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/media\/1009"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=1008"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=1008"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=1008"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}