{"id":99,"date":"2015-03-03T22:06:46","date_gmt":"2015-03-03T22:06:46","guid":{"rendered":"http:\/\/nanovea.com\/?page_id=99"},"modified":"2023-07-12T22:02:22","modified_gmt":"2023-07-12T22:02:22","slug":"misurazione-della-superficie-piana","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/nanovea.com\/it\/misurazione-della-superficie-piana\/","title":{"rendered":"Misura della planarit\u00e0 della superficie"},"content":{"rendered":"<div class=\"wonderpluginslider-container\" id=\"wonderpluginslider-container-18\" style=\"max-width:1035px;margin:0 auto;padding-left:0px;padding-right:0px;padding-top:0px;padding-bottom:0px;\"><div class=\"wonderpluginslider\" id=\"wonderpluginslider-18\" data-sliderid=\"18\" data-width=\"1035\" data-height=\"375\" data-skin=\"cube\" data-autoplay=\"true\" data-randomplay=\"false\" data-loadimageondemand=\"false\" data-transitiononfirstslide=\"false\" data-autoplayvideo=\"false\" data-isresponsive=\"true\" data-fullwidth=\"false\" data-isfullscreen=\"false\" data-ratioresponsive=\"false\" data-showtext=\"true\" data-showtimer=\"false\" data-showbottomshadow=\"false\" data-navshowpreview=\"false\" data-textautohide=\"true\" data-lightboxresponsive=\"true\" data-lightboxshownavigation=\"false\" data-lightboxshowtitle=\"true\" data-lightboxshowdescription=\"false\" data-texteffectresponsive=\"true\" data-donotinit=\"false\" data-addinitscript=\"false\" data-lightboxfullscreenmode=\"false\" data-lightboxcloseonoverlay=\"true\" data-lightboxvideohidecontrols=\"false\" data-lightboxnogroup=\"false\" data-lightboxautoslide=\"false\" data-lightboxshowtimer=\"true\" data-lightboxshowplaybutton=\"true\" data-lightboxalwaysshownavarrows=\"false\" data-lightboxshowtitleprefix=\"true\" data-titleusealt=\"false\" data-outputtext=\"false\" data-scalemode=\"fit\" data-arrowstyle=\"always\" data-transition=\"slide\" data-loop=\"0\" data-border=\"0\" data-slideinterval=\"8000\" data-arrowimage=\"arrows-36-80-0.png\" data-arrowwidth=\"36\" data-arrowheight=\"80\" data-arrowtop=\"50\" data-arrowmargin=\"-18\" data-navstyle=\"bullets\" data-navimage=\"bullet-24-24-1.png\" data-navwidth=\"24\" data-navheight=\"24\" data-navspacing=\"8\" data-navmarginx=\"16\" data-navmarginy=\"16\" data-navposition=\"bottom\" data-playvideoimage=\"playvideo-64-64-0.png\" data-playvideoimagewidth=\"64\" data-playvideoimageheight=\"64\" data-lightboxthumbwidth=\"90\" data-lightboxthumbheight=\"60\" data-lightboxthumbtopmargin=\"12\" data-lightboxthumbbottommargin=\"4\" data-lightboxbarheight=\"64\" data-lightboxtitlebottomcss=\"color:#333; 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Poich\u00e9 non \u00e8 necessaria alcuna attaccatura di immagini per le grandi superfici, la tecnica confocale cromatica pu\u00f2 misurare accuratamente in pochi secondi queste, oltre a rilevare i difetti locali.  Con l'HS2000, la planarit\u00e0 della superficie pu\u00f2 essere misurata sull'intera area di 400x500mm con meno di 1micron di deviazione in un tempo molto breve.  \u00c8 anche possibile ottenere il miglior polinomio di corrispondenza della forma che causa la deviazione della planarit\u00e0 della superficie. Con il riconoscimento dei modelli e l'automazione, oltre alle condizioni di passaggio e fallimento e alla comunicazione del database, lo strumento pu\u00f2 essere utilizzato come uno strumento avanzato di controllo della qualit\u00e0.<\/p>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<p><strong>Norme: <\/strong><\/p>\n<ul>\n<li>ISO 25178<\/li>\n<li>ISO 4287<\/li>\n<li>ISO 13565-2<\/li>\n<li>ISO 12085<\/li>\n<li>ISO 12780<\/li>\n<li>ISO 12181<\/li>\n<\/ul>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<p align=\"justify\"><strong>Analisi delle misure standard:<\/strong><\/p>\n<ul>\n<li>Ondulazione e planarit\u00e0 delle superfici 3D e 2D<\/li>\n<li>Migliore corrispondenza polinomiale<\/li>\n<li>Materiale e rapporti di cuscinetto<\/li>\n<\/ul>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<p><strong>Caratteristiche del software:<\/strong><\/p>\n<ul>\n<li>Scansioni di linee o aree facilmente definibili<\/li>\n<li>parametri pre salvati<\/li>\n<li>Risoluzione laterale<\/li>\n<li>Esportazione di dati grezzi e immagini<\/li>\n<li>Visualizzazione in tempo reale<\/li>\n<li>Segnalazione automatica<\/li>\n<li>Supporto multilingue<\/li>\n<li>Mappatura<\/li>\n<\/ul>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<p align=\"justify\"><strong>Caratteristiche del software di analisi:<\/strong><\/p>\n<ul>\n<li>Filtraggio<\/li>\n<li>Livellamento<\/li>\n<li>Thresholding<\/li>\n<li>Zoom<\/li>\n<li>Strumenti di selezione delle aree e di rimozione delle forme<\/li>\n<li>Funzioni di sottrazione e confronto e molte altre<\/li>\n<\/ul>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<p align=\"justify\"><strong>Automazione avanzata:<\/strong><\/p>\n<ul>\n<li>Messa a fuoco automatica (ottica e microscopio), modello di analisi automatica<\/li>\n<li>Macro per la gestione di pi\u00f9 campioni<\/li>\n<li>Facile selezione dell'area sotto il microscopio per il profiling o il test AFM<\/li>\n<li>Doppia frequenza automatica per superfici con riflessi diversi<\/li>\n<li>Fase di rotazione<\/li>\n<li>Riconoscimento dei modelli<\/li>\n<li>Comunicazioni di database<\/li>\n<li>criteri di approvazione\/fallimento<\/li>\n<li>Sensori di linea per misurazioni fino a 200 volte pi\u00f9 veloci<\/li>\n<\/ul>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<p><strong>Porta campioni e condizioni ambientali:<\/strong><\/p>\n<ul>\n<li>Portacampioni personalizzati e standard<\/li>\n<li>Piastra di riscaldamento<\/li>\n<\/ul>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<p><strong>Ulteriori misure di superficie:<br \/>\n<\/strong><\/p>\n<p><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-roughness-measurement\">Misura della rugosit\u00e0 della superficie<\/a><\/p>\n<p><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-profile-measurement\">Misurazione del profilo di superficie<\/a><\/p>\n<p><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-topography-measurement\">Misurazione della topografia della superficie<\/a><\/p>\n<p><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-volume-measurement\">Misura del volume della superficie<\/a><\/p>\n<p><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-step-height-measurement\">Misura dell'altezza del gradino della superficie<\/a><\/p>\n<p align=\"justify\">\n<\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>MISURA DELLA PIATTEZZA SUPERFICIALE | WARPAGE E PLANARIT\u00c0 Profilometri Strumenti | Servizi di laboratorio | Confocale cromatico | Note applicative La tecnica confocale cromatica \u00e8 ideale per la misura della planarit\u00e0 superficiale, della deformazione e della planarit\u00e0 in applicazioni in cui \u00e8 spesso critica, come nel caso di micropezzi, vetro, guarnizioni e molte altre. 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