{"id":632,"date":"2015-04-22T14:24:07","date_gmt":"2015-04-22T14:24:07","guid":{"rendered":"http:\/\/nanovea.com\/?page_id=632"},"modified":"2017-10-26T09:45:02","modified_gmt":"2017-10-26T09:45:02","slug":"ispezione-ottica-automatizzata-introduzione","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/nanovea.com\/it\/ispezione-ottica-automatizzata-introduzione\/","title":{"rendered":"Ispezione ottica automatizzata"},"content":{"rendered":"<div id=\"newslider\" style=\"min-height:auto; overflow:hidden;\">\n<ul>\n<li>\n<div class=\"slider-text\">\n<h2>ISPEZIONE AUTOMATIZZATA<\/h2>\n<p>Su una gamma pi\u00f9 ampia di geometrie e materiali <br \/>\ndi qualsiasi altro sistema di ispezione ottica.\n<\/div>\n<p><img fetchpriority=\"high\" decoding=\"async\" class=\"alignnone\" src=\"https:\/\/nanovea.com\/wp-content\/uploads\/2015\/11\/slide-automated-inspection.jpg\" alt=\"Ispezione ottica automatizzata\" width=\"1033\" height=\"345\" \/><\/li>\n<\/ul>\n<\/div>\n<h1><strong>ISPEZIONE OTTICA AUTOMATIZZATA INTRO<\/strong><\/h1>\n<p align=\"justify\">Nanovea Automated Optical Inspection (AOI) con ottiche all'avanguardia che utilizzano una tecnologia confocale cromatica superiore. La gamma da nano a macro \u00e8 ottenuta automaticamente durante la misurazione (dimensione del profilo, rugosit\u00e0, struttura della finitura, topografia della forma, deformazione della planarit\u00e0, area del volume, spessore della profondit\u00e0 dell'altezza del gradino e altro) su una gamma pi\u00f9 ampia di geometrie e materiali rispetto a qualsiasi altro sistema di ispezione ottica basato sulla visione o sul laser. Grazie all'uso di un'ampia gamma di penne ottiche, l'ispezione ottica \u00e8 in grado di misurare con precisione una gamma infinita di applicazioni. L'ispezione ottica Nanovea non ha alcuna influenza sulla riflettivit\u00e0 del campione, le variazioni non richiedono alcuna preparazione del campione e sono in grado di misurare angoli di superficie elevati. Misura facilmente qualsiasi materiale: trasparente, opaco, speculare, diffusivo, lucido, ruvido, ecc. A differenza di altre tecniche di misurazione ottica, \u00e8 possibile misurare con precisione grandi aree superficiali senza alcuna cucitura di immagini. I profilometri Nanovea possono essere costruiti con dimensioni, velocit\u00e0, capacit\u00e0 di scansione personalizzate, conformit\u00e0 alla classe 1 della camera bianca, con trasportatore di indicizzazione e per la misura in linea o online. Per saperne di pi\u00f9 su Nanovea bench top <a href=\"https:\/\/nanovea.com\/profilometer\">Profilometri<\/a>. *Per ulteriori specifiche sui sistemi AOI, contattare direttamente Nanovea.<\/p>\n<p><strong><br \/>\nISPEZIONE OTTICA AUTOMATIZZATA<\/strong><br \/>\nGamma da nano a macro<\/p>\n<table border=\"0\" width=\"1016\" cellspacing=\"0\" cellpadding=\"0\">\n<tbody>\n<tr>\n<td width=\"169\">\n<div align=\"center\"><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-roughness\"><img decoding=\"async\" src=\"https:\/\/nanovea.com\/wp-content\/themes\/wp-nanovea\/images\/images\/surface-roughness.jpg\" alt=\"Misura della rugosit\u00e0 superficiale della struttura della finitura\" width=\"150\" height=\"113\" \/><\/a><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-roughness\">Ruvidit\u00e0 Struttura Finitura<\/a><\/div>\n<\/td>\n<td width=\"169\">\n<div align=\"center\"><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-profile\"><img decoding=\"async\" src=\"https:\/\/nanovea.com\/wp-content\/themes\/wp-nanovea\/images\/images\/asphereinspection.jpg\" alt=\"Misura della dimensione del profilo di superficie\" width=\"150\" height=\"113\" \/><\/a><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-profile\">Profilo dimensionale<\/a><\/div>\n<\/td>\n<td width=\"169\">\n<div align=\"center\"><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-topography-measurement\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" src=\"https:\/\/nanovea.com\/wp-content\/themes\/wp-nanovea\/images\/images\/surface-topography.jpg\" alt=\"Topografia superficiale Misura della forma\" width=\"150\" height=\"113\" \/><\/a><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-topography-measurement\">Topografia Forma Forma<\/a><\/div>\n<\/td>\n<td width=\"169\">\n<div align=\"center\"><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-flatness-measurement\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" src=\"https:\/\/nanovea.com\/wp-content\/themes\/wp-nanovea\/images\/images\/flatnessinspection.jpg\" alt=\"Misura della planarit\u00e0 della superficie\" width=\"150\" height=\"113\" \/><\/a><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-flatness-measurement\">Planarit\u00e0 Curvatura Planarit\u00e0<\/a><\/div>\n<\/td>\n<td width=\"169\">\n<div align=\"center\"><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-volume-measurement\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" src=\"https:\/\/nanovea.com\/wp-content\/themes\/wp-nanovea\/images\/images\/surface-volume.jpg\" alt=\"Misura dell&#039;area del volume della superficie\" width=\"150\" height=\"113\" \/><\/a><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-volume-measurement\">Volume Area<\/a><\/div>\n<\/td>\n<td width=\"169\">\n<div align=\"center\"><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-step-height-measurement\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" src=\"https:\/\/nanovea.com\/wp-content\/themes\/wp-nanovea\/images\/images\/surface-stepheight.jpg\" alt=\"Misura dell&#039;altezza del gradino della superficie\" width=\"150\" height=\"113\" \/><\/a><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/surface-step-height-measurement\">Altezza gradino Profondit\u00e0 Spessore<\/a><\/div>\n<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n<p><strong><br \/>\nISPEZIONE<br \/>\nSISTEMA E SOFTWARE<\/strong><\/p>\n<div class=\"product-pic\">\n<p><strong><a><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" src=\"https:\/\/nanovea.com\/wp-content\/themes\/wp-nanovea\/images\/images\/HS1000-.jpg\" alt=\"Profilometro HS1000\" width=\"95\" height=\"95\" align=\"left\" border=\"none\" \/><\/a><\/strong><\/p>\n<\/div>\n<div class=\"product-desc\">\n<p align=\"justify\"><strong>Profilometro HS2000 <\/strong> Ispezione ottica automatizzata<br \/>\nIspezione ottica automatizzata a velocit\u00e0 50 volte superiori rispetto alla maggior parte dei sistemi di ispezione della sua categoria. La velocit\u00e0 di ispezione pu\u00f2 raggiungere 1m\/s e l'acquisizione dei dati fino a 31KHz, garantendo un'ispezione cruciale per gli ambienti di produzione e controllo qualit\u00e0 con maggiori vincoli di tempo. L'HS1000 \u00e8 realizzato principalmente in granito per garantire una stabilit\u00e0 superiore e viene fornito con una workstation opzionale per creare uno strumento stand-alone completamente contenuto. L'HS1000 pu\u00f2 anche essere dotato di un sensore di linea a 180 punti per rendere l'ispezione fino a 180 volte pi\u00f9 veloce, con una velocit\u00e0 di 1 m\/s e una velocit\u00e0 di acquisizione fino a 324.000. Opzione ideale per ambienti di automazione e controllo qualit\u00e0 ad alta velocit\u00e0. Le versioni ottimizzate del profilometro HS1000 sono state realizzate per gli ambienti di produzione del fotovoltaico, della microelettronica e dell'asferica. \u00c8 in grado di raggiungere velocit\u00e0 elevate, acquisendo fino a 31.000 punti al secondo e aree di scansione fino a 1m x 1m. Le misure possono spaziare dalla planarit\u00e0 della microelettronica, alla planarit\u00e0 delle celle solari, alla topografia e alle dimensioni delle asferiche. Disponibile come strumento indipendente o integrato in linea per l'ispezione del controllo qualit\u00e0.<\/p>\n<p align=\"justify\">- Alta velocit\u00e0 - Automazione - Tecnologia di facile utilizzo - Riconoscimento dei modelli di immagine (PRVision) - Struttura in granito migliorata - Stazione di lavoro con involucro di sicurezza - Opzione nastro di indicizzazione o integrazione in linea - 31.000 punti al secondo e aree di scansione fino a 1m x 1m per il controllo qualit\u00e0 in linea<\/p>\n<\/div>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<div class=\"product-pic\">\n<p><strong><a><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" src=\"https:\/\/nanovea.com\/wp-content\/themes\/wp-nanovea\/images\/images\/PRVisionSoftware.jpg\" alt=\"Software Nanovea PRVision\" width=\"95\" height=\"95\" align=\"left\" border=\"none\" \/><\/a><\/strong><\/p>\n<\/div>\n<div class=\"product-desc\">\n<p align=\"justify\"><strong>Software <\/strong>Riconoscimento di modelli 2D e analisi 3D<em><br \/>\nPRVision<\/em> riconoscere automaticamente le caratteristiche da un file immagine addestrato dall'utente. La superficie viene scansionata riconoscendo automaticamente tutte le caratteristiche di interesse; quindi si misura automaticamente ogni caratteristica trovata o alcune selezionate dall'utente. <em>PRVision<\/em> pu\u00f2 anche essere usato per riferirsi all'orientamento del campione durante una misura Macro, che corregger\u00e0 automaticamente le rotazioni o gli spostamenti creati quando i campioni vengono caricati e scaricati dal loro supporto. Questa opzione riduce significativamente il tempo di impostazione quando si misura un modello di superficie o se si misurano diversi campioni. Il software Nanovea 3D \u00e8 il software di acquisizione utilizzato per ulteriori analisi. Il software consente all'utente di definire le dimensioni dell'area o della linea da misurare, nonch\u00e9 la risoluzione laterale della misura. Il software consente inoltre tre diverse visualizzazioni della misura in tempo reale: trasversale, dall'alto verso il basso e tridimensionale. Per facilitare l'individuazione e la misurazione di piccole superfici, una funzione di ricentraggio consente all'utente di puntare e fare clic sull'immagine scansionata per ricentrare la scansione successiva su quel punto specifico; oppure utilizzando una funzione di puntamento e clic da una videocamera offset opzionale. La combinazione di queste due funzioni consente di rilevare automaticamente caratteristiche e difetti, memorizzandone la posizione, e di misurare l'area in 3D. I dati 2D e 3D possono essere utilizzati per confrontare le dimensioni, la forma, la rugosit\u00e0, il volume e molto altro ancora con parametri predefiniti di accettazione\/errore.<\/p>\n<\/div>\n<p style=\"clear: both;\">","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>ISPEZIONE AUTOMATIZZATA Su una gamma pi\u00f9 ampia di geometrie e materiali rispetto a qualsiasi altro sistema di ispezione ottica. 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