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SERVIZI DI TOPOLOGIA DELLE SUPERFICI E ANALISI CHIMICA

* FORNITO SOLO DA NANOVEA EUROPE

Ottenete una comprensione più approfondita dei vostri materiali con i servizi esperti di topologia superficiale e analisi chimica di NANOVEA. Le nostre apparecchiature e tecniche all'avanguardia assicurano risultati sempre accurati e affidabili nella caratterizzazione dei materiali.

Che si tratti di semiconduttori, prodotti farmaceutici o di qualsiasi altro settore, il nostro team di esperti può aiutarvi a comprendere le proprietà dei vostri materiali utilizzando tecniche di analisi superficiale all'avanguardia come la spettroscopia infrarossa (IR), la cromatografia, la microscopia elettronica, la microscopia a forza atomica (AFM) e la diffrazione a raggi X.

È fondamentale conoscere le caratteristiche superficiali dei materiali, per questo offriamo una serie di servizi di analisi chimica e topologia superficiale, tra cui l'analisi della rugosità superficiale, la modifica della superficie, l'analisi dell'energia superficiale e molto altro.

Se siete alla ricerca di un partner esperto che vi aiuti a soddisfare le vostre esigenze di caratterizzazione dei materiali, contattateci oggi stesso per saperne di più sui nostri servizi di topologia superficiale e analisi chimica. Grazie alla nostra esperienza nelle tecniche di analisi delle superfici, potete affidarvi a NANOVEA per ottenere risultati accurati e affidabili.

SPETTROSCOPIA IR

ACQUISIZIONE DI SPETTRI IR DI MATERIALI NOTI

Analisi eseguita su campione e standard con metodo FTIR-ATR senza pretrattamento. 
Definizione dei gruppi funzionali.

ACQUISIZIONE DI SPETTRI IR DI MATERIALI SCONOSCIUTI

Analisi eseguita con metodo FTIR-ATR senza pretrattamento. 
Definizione dei gruppi funzionali.

CROMATOGRAFIA

GC-MS

Identificazione qualitativa/semi-quantitativa di
componenti negli oli e nei materiali organici
sottoposti a test tribologiciting.

LC-MS

Identificazione qualitativa/semiliquantitativa di componenti in oli e materiali organici
sottoposti a test tribologici.

MICROSCOPIA ELETTRONICA

GST

Microanalisi puntuale o
distribuzione della mappa degli elementi.

FE-SEM/EDS

Microanalisi puntuale o
distribuzione della mappa degli elementi.

ANALISI TERMO-GRAVIMETRICA E TERMO-VOLUMICA

TGA

Con flusso di azoto o atmosfera ossidativa.
Temperatura dell'intervallo [-90°C, 500°C].
Campione di massa minima da testare 10 mg.

DSC

Identificazione qualitativa/semiliquantitativa
dei componenti negli oli e nei materiali organici
sottoposti a test tribologici.

MICROSCOPIA A FORZA ATOMICA (AFM)

Analisi AFM ad alta risoluzione per informazioni topologiche e 3D avanzate su scala sub-nanoscale.

DIFFRAZIONE DEI RAGGI X

DIFFRAZIONE DI RAGGI X SU CAMPIONI IN POLVERE E MASSIVI
ANALISI DEI DATI DI DIFFRAZIONE DEI RAGGI X
DEFINIZIONE QUANTITATIVA DELLA COMPOSIZIONE CRISTALLINA (METODO RIETVELD)
DEFINIZIONE DI SOLLECITAZIONE RESIDUA

NANOVEA progetta e produce strumenti per il controllo dei materiali e della qualità. 

I nostri profilometri, tribometri e tester meccanici si trovano in rinomate organizzazioni educative e industriali di tutto il mondo.

Da oltre 25 anni, ricercatori e aziende che si occupano delle applicazioni più impegnative si affidano alla nostra impareggiabile gamma di servizi di consulenza e analisi dei materiali.

PROFILOMETRI

Tecnologia Chromatic Light per la massima precisione su qualsiasi superficie, qualsiasi materiale.

TESTER MECCANICI

La massima precisione e ripetibilità con il più basso costo di gestione.

TRIBOMETRI

Test di usura e attrito altamente accurati e ripetibili.