{"id":9130,"date":"2020-09-08T21:17:54","date_gmt":"2020-09-08T21:17:54","guid":{"rendered":"https:\/\/nanovea.com\/?p=9130"},"modified":"2025-05-22T20:51:25","modified_gmt":"2025-05-22T20:51:25","slug":"inspection-des-pieces-usinees-2","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/fr\/inspection-des-pieces-usinees-2\/","title":{"rendered":"Inspection des pi\u00e8ces usin\u00e9es"},"content":{"rendered":"
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PI\u00c8CES USIN\u00c9ES<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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inspection \u00e0 partir d'un mod\u00e8le CAO \u00e0 l'aide de la profilom\u00e9trie 3D<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Auteur :<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Duanjie Li, PhD<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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R\u00e9vis\u00e9 par<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Jocelyn Esparza<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t
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INTRODUCTION<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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La demande d'usinage de pr\u00e9cision capable de cr\u00e9er des g\u00e9om\u00e9tries complexes est en hausse dans un large \u00e9ventail d'industries. Qu'il s'agisse de l'a\u00e9rospatiale, de la m\u00e9decine, de l'automobile, des engrenages, des machines ou des instruments de musique, l'innovation et l'\u00e9volution continues poussent les attentes et les normes de pr\u00e9cision vers de nouveaux sommets. Par cons\u00e9quent, nous constatons une augmentation de la demande de techniques et d'instruments d'inspection rigoureux afin de garantir la plus haute qualit\u00e9 des produits.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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Importance de la profilom\u00e9trie 3D sans contact pour le contr\u00f4le des pi\u00e8ces<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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La comparaison des propri\u00e9t\u00e9s des pi\u00e8ces usin\u00e9es avec leurs mod\u00e8les CAO est essentielle pour v\u00e9rifier les tol\u00e9rances et le respect des normes de production. L'inspection pendant la p\u00e9riode de service est \u00e9galement cruciale, car l'usure des pi\u00e8ces peut n\u00e9cessiter leur remplacement. L'identification en temps utile de tout \u00e9cart par rapport aux sp\u00e9cifications requises permet d'\u00e9viter des r\u00e9parations co\u00fbteuses, des arr\u00eats de production et une r\u00e9putation ternie.<\/p>

Contrairement \u00e0 une technique de palpage, le NANOVEA Profilers optiques<\/a> effectuez des num\u00e9risations de surfaces 3D sans contact, permettant des mesures rapides, pr\u00e9cises et non destructives de formes complexes avec la plus haute pr\u00e9cision.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t

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OBJECTIF DE MESURE<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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Dans cette application, nous pr\u00e9sentons le NANOVEA HS2000, un profileur 3D sans contact dot\u00e9 d'un capteur \u00e0 grande vitesse, qui effectue une inspection compl\u00e8te de la dimension, du rayon et de la rugosit\u00e9 de la surface.\u00a0<\/p>

Le tout en moins de 40 secondes.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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NANOVEA<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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HS2000<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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MOD\u00c8LE DE CAO<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Une mesure pr\u00e9cise de la dimension et de la rugosit\u00e9 de surface de la pi\u00e8ce usin\u00e9e est essentielle pour s'assurer qu'elle r\u00e9pond aux sp\u00e9cifications, tol\u00e9rances et finitions de surface souhait\u00e9es. Le mod\u00e8le 3D et le dessin technique de la pi\u00e8ce \u00e0 inspecter sont pr\u00e9sent\u00e9s ci-dessous. <\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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VUE EN FAUSSE COULEUR<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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La vue en fausses couleurs du mod\u00e8le CAO et la surface de la pi\u00e8ce usin\u00e9e scann\u00e9e sont compar\u00e9es dans la FIGURE 3. La variation de hauteur sur la surface de l'\u00e9chantillon peut \u00eatre observ\u00e9e par le changement de couleur.<\/p>

Trois profils 2D sont extraits du balayage de la surface 3D, comme indiqu\u00e9 sur la FIGURE 2, afin de v\u00e9rifier davantage la tol\u00e9rance dimensionnelle de la pi\u00e8ce usin\u00e9e.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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COMPARAISON DES PROFILS ET R\u00c9SULTATS<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Les profils 1 \u00e0 3 sont illustr\u00e9s aux FIGURES 3 \u00e0 5. Un contr\u00f4le quantitatif de la tol\u00e9rance est effectu\u00e9 en comparant le profil mesur\u00e9 avec le mod\u00e8le CAO afin de respecter des normes de fabrication rigoureuses. Le profil 1 et le profil 2 mesurent le rayon de diff\u00e9rentes zones sur la pi\u00e8ce usin\u00e9e incurv\u00e9e. La variation de hauteur du profil 2 est de 30 \u00b5m sur une longueur de 156 mm, ce qui r\u00e9pond \u00e0 l'exigence de tol\u00e9rance souhait\u00e9e de \u00b1125 \u00b5m.\u00a0<\/p>

En d\u00e9finissant une valeur limite de tol\u00e9rance, le logiciel d'analyse peut d\u00e9terminer automatiquement la r\u00e9ussite ou l'\u00e9chec de la pi\u00e8ce usin\u00e9e.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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La rugosit\u00e9 et l'uniformit\u00e9 de la surface de la pi\u00e8ce usin\u00e9e jouent un r\u00f4le important pour garantir sa qualit\u00e9 et sa fonctionnalit\u00e9. La FIGURE 6 est une surface extraite du scan parent de la pi\u00e8ce usin\u00e9e qui a \u00e9t\u00e9 utilis\u00e9e pour quantifier l'\u00e9tat de surface. La rugosit\u00e9 moyenne de la surface (Sa) a \u00e9t\u00e9 calcul\u00e9e \u00e0 2,31 \u00b5m.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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CONCLUSION<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Dans cette \u00e9tude, nous avons montr\u00e9 comment le profileur sans contact NANOVEA HS2000, \u00e9quip\u00e9 d'un capteur \u00e0 haute vitesse, effectue un contr\u00f4le complet des dimensions et de la rugosit\u00e9 de la surface.\u00a0<\/p>

Les scans haute r\u00e9solution permettent aux utilisateurs de mesurer la morphologie d\u00e9taill\u00e9e et les caract\u00e9ristiques de surface des pi\u00e8ces usin\u00e9es et de les comparer quantitativement avec leurs mod\u00e8les CAO. L'instrument est \u00e9galement capable de d\u00e9tecter tous les d\u00e9fauts, y compris les rayures et les fissures.\u00a0<\/p>

L'analyse avanc\u00e9e des contours est un outil in\u00e9gal\u00e9 qui permet non seulement de d\u00e9terminer si les pi\u00e8ces usin\u00e9es r\u00e9pondent aux sp\u00e9cifications d\u00e9finies, mais aussi d'\u00e9valuer les m\u00e9canismes de d\u00e9faillance des composants us\u00e9s.<\/p>

Les donn\u00e9es pr\u00e9sent\u00e9es ici ne repr\u00e9sentent qu'une partie des calculs possibles avec le logiciel d'analyse avanc\u00e9 qui est fourni avec chaque profileur optique NANOVEA.<\/p>

\u00a0<\/div>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t
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Vous avez une application similaire ?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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\n\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\tOBTENIR RAPIDEMENT LES PRIX ET LES D\u00c9TAILS<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t<\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"","protected":false},"author":7,"featured_media":9155,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[7,349,354,350,355,335],"tags":[],"class_list":["post-9130","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-application-notes","category-laboratory-testing","category-profilometry-flatness-warpage","category-profilometry-geometry-shape","category-profilometry-volume-area","category-profilometry-testing"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/9130","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/users\/7"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=9130"}],"version-history":[{"count":61,"href":"https:\/\/nanovea.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/9130\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":24767,"href":"https:\/\/nanovea.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/9130\/revisions\/24767"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/media\/9155"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=9130"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=9130"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=9130"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}