Irvine CA, 27 juillet 2016 - La profilom\u00e9trie conventionnelle balaie les surfaces des \u00e9chantillons \u00e0 partir d'une direction unique et fixe. Cela ne convient que pour mesurer des \u00e9chantillons suffisamment plats, par opposition aux formes cylindriques qui n\u00e9cessitent une rotation pr\u00e9cise de 360\u00b0. Pour une application telle que la caract\u00e9risation de l'ar\u00eate de coupe h\u00e9lico\u00efdale d'un outil, une machine conventionnelle n\u00e9cessiterait plusieurs scans sous diff\u00e9rents angles de la pi\u00e8ce enti\u00e8re, ainsi qu'une importante manipulation des donn\u00e9es post-scan. Cela prend souvent trop de temps pour les applications de contr\u00f4le de qualit\u00e9 qui ne n\u00e9cessitent que des mesures de r\u00e9gions tr\u00e8s sp\u00e9cifiques.<\/p>\n
La platine rotative de NANOVEA r\u00e9sout ce probl\u00e8me gr\u00e2ce au contr\u00f4le simultan\u00e9 du mouvement des axes lat\u00e9raux et rotatifs. Cette technique \u00e9limine la n\u00e9cessit\u00e9 de mesurer l'ensemble de la pi\u00e8ce et de proc\u00e9der \u00e0 un r\u00e9alignement continu, ce qui prend beaucoup de temps. Au lieu de cela, la circonf\u00e9rence compl\u00e8te de l'ar\u00eate de coupe peut \u00eatre d\u00e9termin\u00e9e en quelques secondes. Tous les angles et caract\u00e9ristiques souhait\u00e9s peuvent \u00eatre d\u00e9termin\u00e9s directement \u00e0 partir du scan, sans qu'il soit n\u00e9cessaire d'assembler plusieurs fichiers.<\/p>\n
La technique confocale chromatique de NANOVEA offre une r\u00e9solution, jusqu'\u00e0 2,7 nm, et une pr\u00e9cision bien sup\u00e9rieures \u00e0 celles des concurrents de la variation de focalisation. La hauteur de surface brute est mesur\u00e9e directement \u00e0 partir de la d\u00e9tection de la longueur d'onde focalis\u00e9e sur la surface, sans aucune des erreurs caus\u00e9es par les techniques d'interf\u00e9rom\u00e9trie, sans limitation du champ de vision et sans n\u00e9cessit\u00e9 de pr\u00e9parer la surface de l'\u00e9chantillon. Les mat\u00e9riaux pr\u00e9sentant une r\u00e9flectivit\u00e9 extr\u00eamement \u00e9lev\u00e9e ou faible peuvent \u00eatre facilement mesur\u00e9s et les angles de paroi tr\u00e8s \u00e9lev\u00e9s sont caract\u00e9ris\u00e9s avec pr\u00e9cision sans aucun probl\u00e8me.<\/p>\n
Coupl\u00e9 au capteur de ligne de NANOVEA, une barre de donn\u00e9es d'une largeur maximale de 4,78 mm peut \u00eatre captur\u00e9e en un seul passage, tout en se d\u00e9pla\u00e7ant lin\u00e9airement jusqu'\u00e0 150 mm dans la direction du balayage. Simultan\u00e9ment, la platine rotative peut faire tourner l'\u00e9chantillon \u00e0 la vitesse souhait\u00e9e. Ensemble, ce syst\u00e8me permet de cr\u00e9er une carte de hauteur 3D continue de toute la circonf\u00e9rence d'une ar\u00eate de coupe, quel que soit le pas ou le rayon, en une fraction du temps par rapport aux autres technologies.<\/p>\n