{"id":464,"date":"2012-04-10T14:10:06","date_gmt":"2012-04-10T14:10:06","guid":{"rendered":"http:\/\/nanovea.com\/?p=464"},"modified":"2015-06-30T22:08:30","modified_gmt":"2015-06-30T22:08:30","slug":"la-medicion-del-cromatismo-axial-verdadero-vs-inferometria","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/es\/la-medicion-del-cromatismo-axial-verdadero-vs-inferometria\/","title":{"rendered":"LA MEDICI\u00d3N DE LA VERDAD. DESVENTAJAS DE LA INTERFEROMETR\u00cdA"},"content":{"rendered":"

Algunas reflexiones sobre lo que hay que tener en cuenta al analizar las dos luces blancas. perfil\u00f3metro<\/a> Las desventajas de la interferometr\u00eda de luz blanca comienzan con el uso de software y ecuaciones matem\u00e1ticas para detectar, a trav\u00e9s del sistema de im\u00e1genes, el movimiento de las franjas a trav\u00e9s de la pantalla a medida que la muestra o el cabezal de medici\u00f3n se mueven hacia arriba o hacia abajo en pasos espec\u00edficos. Estas mediciones son tan buenas como lo que el software y las partes de imagen pueden hacer en t\u00e9rminos de \u201cdetectar\u201d el movimiento de estas franjas. Cuando se trata de superficies reflectantes y lisas, la precisi\u00f3n de los datos es superior. Por eso, esta t\u00e9cnica se ha desarrollado principalmente para aplicaciones de semiconductores, donde las superficies suelen ser reflectantes y los pasos, si los hay, son \u00e1ngulos cercanos a los 90\u00b0.<\/p>\n

Sin embargo, con una superficie rugosa y poco reflectante, la interpretaci\u00f3n del software de la superficie real se aleja mucho de la realidad debido a los artefactos inherentes a la t\u00e9cnica de interferometr\u00eda. Adem\u00e1s, la interferometr\u00eda tambi\u00e9n es extremadamente limitada en t\u00e9rminos de medici\u00f3n de \u00e1ngulos. Una vez m\u00e1s, el software puede ahora hacer milagros para completar superficies con informaci\u00f3n adicional, como la forma esperada de la superficie. La vista previa de los datos sin procesar es una forma de saber qu\u00e9 ha manipulado el software, pero incluso el software de an\u00e1lisis primario renderiza autom\u00e1ticamente una interpretaci\u00f3n de c\u00f3mo debe ser la superficie y completa autom\u00e1ticamente los puntos no medidos sin que el usuario lo sepa. Con un software inteligente, los artefactos pueden ser imposibles de distinguir de los datos reales, ya que la renderizaci\u00f3n de la imagen 3D se ver\u00e1 perfecta y, a menudo, los usuarios no saben c\u00f3mo es realmente su superficie. Esto es especialmente cierto cuando se trata de superficies m\u00e1s complejas y dif\u00edciles.<\/p>\n

Adem\u00e1s, la velocidad se menciona como una diferencia importante entre las dos t\u00e9cnicas. Es cierto que la interferometr\u00eda puede medir m\u00e1s r\u00e1pidamente una imagen de campo de visi\u00f3n para evaluar la rugosidad y el escal\u00f3n. Estas son ventajas claras cuando se trata de superficies semiconductoras lisas. Pero, de nuevo, si la superficie que se mide no es lisa, los datos pueden proporcionarse m\u00e1s r\u00e1pidamente, pero estar\u00e1n lejos de ser datos reales. Adem\u00e1s, la uni\u00f3n de superficies funciona cuando, de nuevo, la superficie es lisa y reflectante y tiene marcadores de posici\u00f3n claros. La precisi\u00f3n del ensamblaje se reduce a medida que la superficie se vuelve m\u00e1s rugosa y con tipos de materiales m\u00e1s dif\u00edciles. Puede resultar dif\u00edcil detectar artefactos y problemas con esto cuando la superficie es m\u00e1s rugosa que cuando se ve un escal\u00f3n claro. Para obtener la mejor resoluci\u00f3n lateral es necesario utilizar un objetivo de 100x, lo que limita el \u00e1rea de medici\u00f3n a aproximadamente 140 micr\u00f3metros x 110 micr\u00f3metros. El n\u00famero de im\u00e1genes que se deben unir puede convertirse en un problema cuando se intenta obtener datos precisos sobre piezas m\u00e1s grandes (100 im\u00e1genes para 1 mm x 1 mm y 10 000 im\u00e1genes para 10 mm x 10 mm). La resoluci\u00f3n lateral de la imagen depende del n\u00famero de p\u00edxeles de la c\u00e1mara que se utilice.<\/p>\n

A diferencia de la t\u00e9cnica manipulativa de interferometr\u00eda, la tecnolog\u00eda de cromatismo axial de luz blanca mide la altura directamente a partir de la detecci\u00f3n de la longitud de onda que incide sobre la superficie de la muestra enfocada. Se trata de una medici\u00f3n directa sin manipulaci\u00f3n matem\u00e1tica por parte del software. Esto proporciona una precisi\u00f3n inigualable en la superficie medida, ya que un punto de datos se mide con precisi\u00f3n sin interpretaci\u00f3n del software o no se mide en absoluto. El software puede completar el punto no medido, pero el usuario es plenamente consciente de ello y puede estar seguro de que no hay otros artefactos ocultos. La t\u00e9cnica tambi\u00e9n puede medir casi cualquier superficie de material con \u00e1ngulos mucho m\u00e1s altos, de hasta m\u00e1s de 80\u00b0 en algunos casos. El cromatismo axial puede escanear una longitud de m\u00e1s de 30 cm en menos de 0,3 segundos. Ahora hay disponibles nuevos sistemas de adquisici\u00f3n que alcanzan los 31 000 puntos por segundo con un escaneo de 1 m\/s. Los nuevos sensores lineales con cromatismo axial pueden medir hasta 324 000 puntos por segundo. Una imagen t\u00edpica adquirida por un interfer\u00f3metro tendr\u00eda menos de 1 000 000 de puntos de datos por campo de visi\u00f3n. El escaneo con un sensor de l\u00ednea con cromatismo axial tarda unos segundos, lo que significa que la velocidad real es muy similar a la de la interferometr\u00eda, al tiempo que proporciona datos m\u00e1s precisos. Por lo tanto, la velocidad debe considerarse en funci\u00f3n de la propia aplicaci\u00f3n.<\/p>\n

El crecimiento de la t\u00e9cnica de interferometr\u00eda se debi\u00f3 principalmente a su \u00e9xito en industrias con mayor poder adquisitivo. Por lo tanto, el costo de la interferometr\u00eda es generalmente el doble que el de los sistemas de cromatismo axial con resoluci\u00f3n similar y mayor capacidad. Seg\u00fan nuestra experiencia, el 90% de las aplicaciones se beneficia m\u00e1s del uso de la t\u00e9cnica de cromatismo axial. Los clientes que han elegido la tecnolog\u00eda de cromatismo axial rara vez se han sentido decepcionados, mientras que la elecci\u00f3n de la interferometr\u00eda presenta muchos inconvenientes. Y el arrepentimiento es casi siempre el mismo: la desventaja de la interferometr\u00eda es su amplia capacidad de medici\u00f3n y la fiabilidad de los datos, con un alto precio.<\/p>\n

Ver informe detallado <\/a><\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

Some thoughts on what to consider when reviewing the two white light profilometer techniques. White Light Interferometry disadvantages start with using software and mathematical equations to detect, through the imaging system, the movement of fringes across the screen as the sample or the measuring head is moved up or down in specific steps. These measurements […]<\/p>","protected":false},"author":1,"featured_media":465,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[1],"tags":[197],"class_list":["post-464","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-uncategorized","tag-interferometry-disadvantages"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/464","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=464"}],"version-history":[{"count":3,"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/464\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":1913,"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/464\/revisions\/1913"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/media\/465"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=464"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=464"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=464"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}