Irvine, California, 27 de julio de 2016. La perfilometr\u00eda convencional escanea las superficies de las muestras desde una \u00fanica direcci\u00f3n fija.\u00a0 Esto solo es adecuado para medir muestras suficientemente planas, a diferencia de las formas cil\u00edndricas, que requieren una rotaci\u00f3n precisa de 360\u00b0. Para una aplicaci\u00f3n como la caracterizaci\u00f3n del filo helicoidal de una herramienta, una m\u00e1quina convencional necesitar\u00eda m\u00faltiples escaneos desde diferentes \u00e1ngulos de toda la pieza, as\u00ed como una importante manipulaci\u00f3n de los datos tras el escaneo. A menudo, esto requiere demasiado tiempo para aplicaciones de control de calidad que solo necesitan mediciones de regiones muy espec\u00edficas.<\/p>\n
La plataforma giratoria de NANOVEA resuelve este problema con el control simult\u00e1neo del movimiento de los ejes lateral y giratorio. Esta t\u00e9cnica elimina la necesidad de medir toda la pieza y realinearla continuamente, lo que lleva mucho tiempo. En su lugar, se puede determinar la circunferencia completa de todo el filo en cuesti\u00f3n de segundos. Todos los \u00e1ngulos y caracter\u00edsticas deseados se pueden determinar directamente a partir del escaneo, sin necesidad de unir m\u00faltiples archivos.<\/p>\n
La t\u00e9cnica confocal crom\u00e1tica de NANOVEA ofrece una resoluci\u00f3n mucho mayor, de hasta 2,7 nm, y una precisi\u00f3n superior a la de sus competidores que utilizan la variaci\u00f3n de enfoque. La altura bruta de la superficie se mide directamente a partir de la detecci\u00f3n de la longitud de onda enfocada en la superficie, sin los errores que provocan las t\u00e9cnicas de interferometr\u00eda, sin limitaciones del campo de visi\u00f3n y sin necesidad de preparar la superficie de la muestra. Los materiales con una reflectividad extremadamente alta o baja se pueden medir f\u00e1cilmente y los \u00e1ngulos de pared muy elevados se caracterizan con precisi\u00f3n sin ning\u00fan problema.<\/p>\n
En combinaci\u00f3n con el sensor lineal de NANOVEA, se puede capturar una barra de datos de hasta 4,78 mm de ancho en una sola pasada, mientras se mueve linealmente hasta 150 mm en la direcci\u00f3n de escaneo. Al mismo tiempo, la plataforma giratoria puede hacer girar la muestra a la velocidad deseada. En conjunto, este sistema permite crear un mapa de altura 3D continuo de toda la circunferencia de un filo, con cualquier paso o radio, en una fracci\u00f3n del tiempo que requieren otras tecnolog\u00edas.<\/p>\n