{"id":22017,"date":"2023-05-01T18:42:24","date_gmt":"2023-05-01T18:42:24","guid":{"rendered":"https:\/\/nanovea.com\/?p=22017"},"modified":"2025-05-22T19:12:25","modified_gmt":"2025-05-22T19:12:25","slug":"inspeccion-de-rugosidad-mediante-perfilometria-3d","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/es\/inspeccion-de-rugosidad-mediante-perfilometria-3d\/","title":{"rendered":"Inspecci\u00f3n de mapas de rugosidad mediante perfilometr\u00eda 3D"},"content":{"rendered":"
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INSPECCI\u00d3N CARTOGR\u00c1FICA DE LA RUGOSIDAD<\/h1>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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UTILIZANDO LA PERFILOMETR\u00cdA 3D<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Preparado por<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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DUANJIE, Doctor<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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INTRODUCCI\u00d3N<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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La rugosidad y la textura de la superficie son factores cr\u00edticos que influyen en la calidad final y el rendimiento de un producto. Un conocimiento profundo de la rugosidad, textura y consistencia de las superficies es esencial para seleccionar las mejores medidas de procesamiento y control. La inspecci\u00f3n en l\u00ednea r\u00e1pida, cuantificable y fiable de las superficies de los productos es necesaria para identificar a tiempo los productos defectuosos y optimizar las condiciones de la l\u00ednea de producci\u00f3n.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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IMPORTANCIA DEL PERFILOMETRO 3D SIN CONTACTO PARA LA INSPECCION EN LINEA DE SUPERFICIES<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Los defectos superficiales de los productos son el resultado del procesamiento de los materiales y la fabricaci\u00f3n de los productos. La inspecci\u00f3n en l\u00ednea de la calidad de las superficies garantiza el m\u00e1s estricto control de calidad de los productos finales. NANOVEA Perfiladores \u00f3pticos 3D sin contacto<\/a> utilizan la tecnolog\u00eda de luz crom\u00e1tica con una capacidad \u00fanica para determinar la rugosidad de una muestra sin contacto. El sensor lineal permite escanear el perfil 3D de una gran superficie a gran velocidad. El umbral de rugosidad, calculado en tiempo real por el software de an\u00e1lisis, sirve como herramienta r\u00e1pida y fiable de pasa\/no pasa.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t

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OBJETIVO DE MEDICI\u00d3N<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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En este estudio, el NANOVEA ST400 equipado con un sensor de alta velocidad se utiliza para inspeccionar la superficie de una muestra de Te\ufb02on con defecto para mostrar la capacidad de NANOVEA<\/em><\/p>

Pro\ufb01l\u00f3metros sin contacto en proporcionar una inspecci\u00f3n de superficies r\u00e1pida y fiable en una l\u00ednea de producci\u00f3n.<\/em><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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NANOVEA<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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ST400<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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RESULTADOS Y DEBATE<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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An\u00e1lisis tridimensional de la superficie del\u00a0<\/em><\/strong>Rugosidad Muestra est\u00e1ndar<\/em><\/strong><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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La superficie de un patr\u00f3n de rugosidad se escane\u00f3 utilizando un NANOVEA ST400 equipado con un sensor de alta velocidad que genera una l\u00ednea brillante de 192 puntos, como se muestra en la FIGURA 1. Estos 192 puntos escanean la superficie de la muestra al mismo tiempo, lo que conlleva un aumento significativo de la velocidad de escaneado.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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La FIGURA 2 muestra vistas en falso color del Mapa de Altura de la Superficie y del Mapa de Distribuci\u00f3n de la Rugosidad de la Muestra Est\u00e1ndar de Rugosidad. En la FIGURA 2a, el Est\u00e1ndar de Rugosidad exhibe una superficie ligeramente inclinada como se representa por el gradiente de color variado en cada uno de los bloques de rugosidad est\u00e1ndar. En la FIGURA 2b, se muestra una distribuci\u00f3n homog\u00e9nea de la rugosidad en di\ufb00erentes bloques de rugosidad, cuyo color representa la rugosidad en los bloques.<\/p>

La FIGURA 3 muestra ejemplos de los mapas de aprobado\/no aprobado generados por el software de an\u00e1lisis en funci\u00f3n de diferentes umbrales de rugosidad. Los bloques de rugosidad se resaltan en rojo cuando su rugosidad superficial est\u00e1 por encima de un determinado valor umbral establecido. Esto proporciona una herramienta para que el usuario establezca un umbral de rugosidad para determinar la calidad del acabado superficial de una muestra.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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FIGURA 1:<\/span> Barrido del sensor \u00f3ptico de l\u00edneas en la muestra del patr\u00f3n de rugosidad
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a.<\/span> Mapa de altura de la superficie:
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b.<\/span>\u00a0Mapa de rugosidad:
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FIGURA 2:<\/span> Vistas en falso color del Mapa de Altura de Superficie y del Mapa de Distribuci\u00f3n de Rugosidad de la Muestra Est\u00e1ndar de Rugosidad.<\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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FIGURA 3:<\/span> Mapa Pasa\/Falla basado en el Umbral de Rugosidad.<\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t

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Inspecci\u00f3n superficial de una muestra de Te\ufb02on con defectos<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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En la FIGURA 4 se muestran el mapa de altura de la superficie, el mapa de distribuci\u00f3n de la rugosidad y el mapa de umbral de rugosidad Pasa\/Falla de la superficie de la muestra de Te\ufb02on. La muestra de Te\ufb02on presenta una cresta en el centro derecho de la muestra, como se muestra en el mapa de altura de la superficie.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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a.<\/span> Mapa de altura de la superficie:
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Los di\ufb00erentes colores de la paleta de la FIGURA 4b representan el valor de rugosidad en la superficie local. El mapa de rugosidad muestra una rugosidad homog\u00e9nea en la zona intacta de la muestra de Te\ufb02on. Sin embargo, los defectos, en las formas de un anillo indentado y una cicatriz de desgaste se destacan en color brillante. El usuario puede configurar f\u00e1cilmente un umbral de rugosidad Pasa\/Falla para localizar los defectos superficiales, como se muestra en la FIGURA 4c. Esta herramienta permite a los usuarios supervisar in situ la calidad de la superficie del producto en la l\u00ednea de producci\u00f3n y descubrir a tiempo los productos defectuosos. El valor de rugosidad en tiempo real se calcula y registra a medida que los productos pasan por el sensor \u00f3ptico en l\u00ednea, lo que puede servir como una herramienta r\u00e1pida pero fiable para el control de calidad.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t

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b.<\/span>\u00a0Mapa de rugosidad:
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c.<\/span> Mapa de umbrales de rugosidad Pasa\/Falla:
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FIGURA 4:<\/span> Mapa de altura de la superficie, mapa de distribuci\u00f3n de la rugosidad y <\/span>Mapa de umbral de rugosidad Pasa\/Falla de la superficie de la muestra de Te\ufb02on.<\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t

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CONCLUSI\u00d3N<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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En esta aplicaci\u00f3n, hemos demostrado c\u00f3mo el perfilador \u00f3ptico sin contacto 3D NANOVEA ST400 equipado con un sensor \u00f3ptico de l\u00ednea funciona como una herramienta de control de calidad fiable de manera eficaz y eficiente.<\/p>

El sensor \u00f3ptico de l\u00ednea genera una l\u00ednea brillante de 192 puntos que escanean la superficie de la muestra al mismo tiempo, lo que aumenta significativamente la velocidad de escaneado. Puede instalarse en la l\u00ednea de producci\u00f3n para controlar in situ la rugosidad de la superficie de los productos. El umbral de rugosidad funciona como un criterio fiable para determinar la calidad de la superficie de los productos, lo que permite a los usuarios detectar a tiempo los productos defectuosos.<\/p>

Los datos mostrados aqu\u00ed representan s\u00f3lo una parte de los c\u00e1lculos disponibles en el software de an\u00e1lisis. Los perfil\u00f3metros NANOVEA miden pr\u00e1cticamente cualquier superficie en campos como los semiconductores, la microelectr\u00f3nica, la energ\u00eda solar, la fibra \u00f3ptica, la automoci\u00f3n, la industria aeroespacial, la metalurgia, el mecanizado, los revestimientos, la industria farmac\u00e9utica, la biomedicina, el medio ambiente y muchos otros.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t

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\u00bfTiene una aplicaci\u00f3n similar?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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\n\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\tHABLE AHORA CON UN EXPERTO<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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\n\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\tOBTENGA PRECIOS Y DETALLES R\u00c1PIDAMENTE<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t<\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

ROUGHNESS MAPPING INSPECTION USING 3D PROFILOMETRY Prepared by DUANJIE, PhD INTRODUCTION Surface roughness and texture are critical factors that impact the final quality and performance of a product. A thorough understanding of surface roughness, texture, and consistency is essential for selecting the best processing and control measures. Fast, quantifiable, and reliable inline inspection of product […]<\/p>","protected":false},"author":1,"featured_media":22037,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[7,349,354,351,355,335],"tags":[],"class_list":["post-22017","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-application-notes","category-laboratory-testing","category-profilometry-flatness-warpage","category-profilometry-roughness-finish","category-profilometry-volume-area","category-profilometry-testing"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/22017","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=22017"}],"version-history":[{"count":22,"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/22017\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":24693,"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/22017\/revisions\/24693"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/media\/22037"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=22017"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=22017"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=22017"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}