{"id":1275,"date":"2009-03-05T18:03:10","date_gmt":"2009-03-05T18:03:10","guid":{"rendered":"http:\/\/nanovea.com\/?p=1275"},"modified":"2015-05-28T14:20:48","modified_gmt":"2015-05-28T14:20:48","slug":"top-semiconductor-mfg-chooses-nanovea-profilometer-over-many","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/es\/top-semiconductor-mfg-chooses-nanovea-profilometer-over-many\/","title":{"rendered":"El principal fabricante de semiconductores elige el perfil\u00f3metro Nanovea frente a muchos otros"},"content":{"rendered":"

Irvine, California, 5 de marzo de 2009. Nanovea ha anunciado hoy que enviar\u00e1 su primer perfil\u00f3metro HS1000 a una importante empresa fabricante de semiconductores. La entrega del HS1000 supone un nuevo hito en la impresionante trayectoria de Nanovea en el campo de los perfil\u00f3metros \u00f3pticos y ofrece a los clientes una opci\u00f3n de velocidad de medici\u00f3n m\u00e1s avanzada para satisfacer las demandas de alto rendimiento. El perfil\u00f3metro HS1000 est\u00e1 equipado con una combinaci\u00f3n inigualable de velocidad de medici\u00f3n, automatizaci\u00f3n y resoluci\u00f3n nanom\u00e9trica. Hasta la llegada del perfil\u00f3metro HS1000 de Nanovea, la automatizaci\u00f3n total y las ventajas \u00fanicas de la t\u00e9cnica de cromatismo axial de luz blanca eran caracter\u00edsticas que rara vez se encontraban en un solo instrumento de alta velocidad de escaneo, una caracter\u00edstica que el cliente solicit\u00f3 y que solo Nanovea pudo ofrecer. Los instrumentos tradicionales de alta velocidad sol\u00edan sacrificar una caracter\u00edstica por otra, la velocidad o la resoluci\u00f3n, lo que limitaba la capacidad de medici\u00f3n general de los usuarios. La velocidad de la plataforma del perfil\u00f3metro HS1000 puede alcanzar 1 m\/s, hasta 50 veces m\u00e1s r\u00e1pida que la mayor\u00eda de los perfil\u00f3metros \u00f3pticos de su clase. El perfil\u00f3metro HS1000 est\u00e1 equipado con un sensor de cromatismo axial de luz blanca de 31 KHz y un \u00e1rea de medici\u00f3n XY de 400 mm x 600 mm, que a la velocidad m\u00e1xima de la plataforma puede medir 1 punto cada 32 \u00b5m y recorrer los 400 mm completos en menos de 1 segundo. (Se puede obtener una mayor resoluci\u00f3n con velocidades de plataforma proporcionalmente m\u00e1s lentas). Adem\u00e1s, el perfil\u00f3metro HS1000 tiene una opci\u00f3n de c\u00e1mara de visi\u00f3n artificial que permite el reconocimiento autom\u00e1tico de caracter\u00edsticas superficiales seleccionadas con precisi\u00f3n, con poca o ninguna interacci\u00f3n por parte del usuario. El software f\u00e1cil de usar y la c\u00e1mara de visi\u00f3n artificial opcional permiten un escaneo autom\u00e1tico de la superficie para reconocer todas las caracter\u00edsticas de inter\u00e9s. A continuaci\u00f3n, estas caracter\u00edsticas se pueden medir autom\u00e1ticamente o el usuario puede seleccionar de una lista las que desea medir. La combinaci\u00f3n de caracter\u00edsticas generales superiores hace que el HS1000 Perfil\u00f3metro<\/a> Sin duda, el instrumento ideal para las altas exigencias de rendimiento de las industrias de semiconductores, energ\u00eda solar y farmac\u00e9utica. \u201cNo hace falta decir lo importante que es haber conseguido la confianza de este cliente. Estoy orgulloso de la capacidad de nuestro equipo para aprovechar una oportunidad tan importante\u201d, afirm\u00f3 Craig Leising, director de producto de Nanovea.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

Irvine CA, March 5, 2009 – Nanovea announced today that it will ship a top Semiconductor Mfg its first HS1000 Profilometer. The HS1000 delivery adds yet another highlight to Nanovea’s impressive Optical Profiler history and offers customers a more advanced measurement speed option for high throughput demands. The HS1000 Profilometer is equipped with an unmatched […]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":0,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[10],"tags":[27],"class_list":["post-1275","post","type-post","status-publish","format-standard","hentry","category-press-release","tag-measurement-speed"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1275","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=1275"}],"version-history":[{"count":4,"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1275\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":1369,"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1275\/revisions\/1369"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=1275"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=1275"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=1275"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}