{"id":1273,"date":"2009-01-22T18:02:36","date_gmt":"2009-01-22T18:02:36","guid":{"rendered":"http:\/\/nanovea.com\/?p=1273"},"modified":"2015-05-28T14:21:06","modified_gmt":"2015-05-28T14:21:06","slug":"nanovea-profilometer-receives-class-1cleanroom-approval","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/es\/nanovea-profilometer-receives-class-1cleanroom-approval\/","title":{"rendered":"El perfil\u00f3metro Nanovea recibe la certificaci\u00f3n de sala limpia \u201cClase 1\u201d"},"content":{"rendered":"<p>Irvine, California, 22 de enero de 2009. Nanovea Inc. ha anunciado hoy la instalaci\u00f3n satisfactoria de su perfil\u00f3metro en la sala limpia de clase 1 de un fabricante l\u00edder en microelectr\u00f3nica. Las salas limpias de clase 1 son conocidas por su estricto cumplimiento de las normas y sus exigentes requisitos en cuanto a los materiales utilizados en el desarrollo de los instrumentos. Las avanzadas capacidades de perfilado 3D sin contacto de los perfil\u00f3metros de Nanovea ser\u00e1n ahora una opci\u00f3n para los requisitos m\u00e1s estrictos de las salas limpias microelectr\u00f3nicas. Mediante el uso de etapas lineales motorizadas \u201climpias\u201d y la selecci\u00f3n adecuada de materiales, los ingenieros de Nanovea dise\u00f1aron un sistema a medida que fuera compatible con las estrictas normas de clase 1. Las salas limpias de clase 1 tienen un nivel de contaminaci\u00f3n estrictamente controlado y permiten muy pocas part\u00edculas de cualquier tipo. La selecci\u00f3n de materiales fue crucial en el dise\u00f1o de las etapas X-Y, de modo que se emitieran pocas part\u00edculas al aire durante las pruebas. El sistema tambi\u00e9n se dise\u00f1\u00f3 con un alto grado de planitud, precisi\u00f3n y un nivel de automatizaci\u00f3n que permite al usuario medir m\u00faltiples \u00e1reas y unirlas. Esto permitir\u00e1 al usuario crear una gran superficie plana para comparar la planitud relativa con muy poca interacci\u00f3n por su parte. El \u00e1rea medible del perfil\u00f3metro personalizado puede ser de hasta 30 cm x 30 cm con una resoluci\u00f3n vertical de hasta 2 nm. Tambi\u00e9n hay disponible un dise\u00f1o para escanear piezas grandes, pesadas e incluso inamovibles. Esto es solo un peque\u00f1o ejemplo de los proyectos que los ingenieros de Nanovea han personalizado. Tambi\u00e9n han proporcionado un perfil\u00f3metro de alta velocidad construido a medida con velocidades de m\u00e1s de 30 000 puntos\/segundo y visi\u00f3n artificial con reconocimiento de im\u00e1genes para mejorar la eficiencia. Adem\u00e1s, <a title=\"perfil\u00f3metro\" href=\"https:\/\/nanovea.com\/profilometers\">Perfil\u00f3metro<\/a> Se han construido con capacidades de escaneo personalizadas para obtener mediciones de la superficie tanto de la parte superior como de la inferior, al tiempo que se mide el espesor del material, todo ello con una resoluci\u00f3n nanom\u00e9trica. \u201cLa incorporaci\u00f3n del dise\u00f1o de sala limpia permitir\u00e1 a Nanovea trabajar m\u00e1s estrechamente con entornos estrictos y demuestra una vez m\u00e1s nuestra dedicaci\u00f3n a la ingeniosidad\u201d, afirm\u00f3 Craig Leising, director de producto de Nanovea, Inc.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Irvine, CA, January 22, 2009 &#8212; Nanovea Inc. announced today the successful installation of their Profilometer within the Class 1 Cleanroom of a leading micro-electronics manufacturer. Class 1 Cleanroom clearance is known for its strict compliance and custom demand for all materials used in the development of the instrument. 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