{"id":1265,"date":"2006-03-04T18:00:04","date_gmt":"2006-03-04T18:00:04","guid":{"rendered":"http:\/\/nanovea.com\/?p=1265"},"modified":"2022-08-10T21:58:57","modified_gmt":"2022-08-10T21:58:57","slug":"micro-photonics-unveils-new-lower-priced-modular-chromatic-confocal-optical-pens","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/es\/micro-photonics-unveils-new-lower-priced-modular-chromatic-confocal-optical-pens\/","title":{"rendered":"Micro Photonics presenta nuevos l\u00e1pices \u00f3pticos confocales crom\u00e1ticos modulares a un precio m\u00e1s accesible."},"content":{"rendered":"<p>Irvine, California, 24 de marzo de 2006. Micro Photonics Inc. ha presentado hoy su \u00faltima l\u00ednea de <a title=\"confocal crom\u00e1tico\" href=\"https:\/\/nanovea.com\/chromatic-confocal\">confocal crom\u00e1tico<\/a> L\u00e1pices \u00f3pticos para perfilometr\u00eda, microtopograf\u00eda, rugosidad, vibrometr\u00eda con enfoque autom\u00e1tico, control de calidad de inspecci\u00f3n en l\u00ednea y mediciones de espesor. El nuevo dise\u00f1o modular permite hasta 30 configuraciones diferentes de l\u00e1pices \u00f3pticos para profundidad de campo, tama\u00f1o de punto, distancia de trabajo, inclinaci\u00f3n del objeto y eficiencia fotom\u00e9trica espec\u00edficos. Los usuarios pueden elegir entre una selecci\u00f3n de cinco lupas, con distancias focales de entre 3,3 mm y 29 mm, y seis lentes crom\u00e1ticas diferentes, con profundidades de campo de entre 130 \u00b5m y 27 mm. Los l\u00e1pices pueden alcanzar una resoluci\u00f3n axial m\u00e1xima de 5 nm, una precisi\u00f3n de 20 nm y una inclinaci\u00f3n m\u00e1xima de 87\u00ba para objetos difusos. Basados en la aberraci\u00f3n crom\u00e1tica de la luz blanca, los l\u00e1pices tienen una resoluci\u00f3n lateral (1,1 \u00b5m) y una resoluci\u00f3n vertical (5 nm) superiores, lo que los convierte en una mejor opci\u00f3n que los sensores de triangulaci\u00f3n l\u00e1ser para aplicaciones en las que las mediciones de alta resoluci\u00f3n son fundamentales, como ocurre a veces en aplicaciones de vibrometr\u00eda, inspecci\u00f3n en l\u00ednea y control de calidad. Para materiales dif\u00edciles, como textiles, pol\u00edmeros, materiales negros o azul oscuro, superficies de alta relaci\u00f3n de aspecto y materiales de baja reflectividad, la aberraci\u00f3n crom\u00e1tica de la luz blanca es a menudo la \u00fanica t\u00e9cnica adecuada. Micro Photonics cree que los nuevos precios competitivos atraer\u00e1n a clientes que antes consideraban la aberraci\u00f3n crom\u00e1tica de la luz blanca demasiado cara. \u201cLos clientes conoc\u00edan esta t\u00e9cnica y sus ventajas para las aplicaciones OEM, pero debido a su precio, la descartaban en favor de sensores l\u00e1ser m\u00e1s econ\u00f3micos. Los nuevos precios son, de media, un 40% m\u00e1s bajos, lo que marcar\u00e1 la diferencia\u201d, afirma Pierre Leroux, director general de la divisi\u00f3n de pruebas de superficies. La velocidad de adquisici\u00f3n de 30 000 Hz cumple los requisitos espec\u00edficos de vibrometr\u00eda y control de calidad en l\u00ednea y fuera de l\u00ednea. El sistema puede utilizarse como unidad independiente o conectarse a un ordenador mediante diversos paquetes de software. Tambi\u00e9n se ofrecen soluciones integradas, como el Micromeasure Profiler y el Micromeasure Dual Scanner, para obtener im\u00e1genes completas de superficies en 3D. Esta tecnolog\u00eda est\u00e1 disponible en Micro Photonics Inc. Micro Photonics es un proveedor l\u00edder de instrumentos de tecnolog\u00eda de materiales y pruebas de laboratorio desde 1992. La empresa se especializa en: pruebas nanom\u00e9tricas y microm\u00e9tricas, microtomograf\u00eda de rayos X, elipsometr\u00eda, difracci\u00f3n de rayos X, perfilometr\u00eda 3D sin contacto, an\u00e1lisis de pel\u00edculas delgadas, instrumentos de imagen biol\u00f3gica y sistemas NSOM, SPM y AFM.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Irvine CA, March 24, 2006 \u2013 Micro Photonics Inc. today introduced the latest line of chromatic confocal optical pens for profilometry, microtopography, roughness, auto-focus vibrometery, in-line inspection quality control, and thickness measurements. 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