{"id":8355,"date":"2020-05-11T05:32:46","date_gmt":"2020-05-11T05:32:46","guid":{"rendered":"https:\/\/nanovea.com\/?p=8355"},"modified":"2026-01-15T18:46:56","modified_gmt":"2026-01-15T18:46:56","slug":"inline-routine-inspektion","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/de\/inline-routine-inspektion\/","title":{"rendered":"Inline-Rauhigkeitspr\u00fcfung"},"content":{"rendered":"
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Sofortige Fehlererkennung mit In-Line-Profilern<\/h1>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t
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Die Oberfl\u00e4chenrauheit und -beschaffenheit ist f\u00fcr die Endverwendung eines Produkts entscheidend. Eine schnelle, quantifizierbare und zuverl\u00e4ssige Inline-Inspektion der Produktoberfl\u00e4che stellt sicher, dass fehlerhafte Produkte sofort erkannt werden, um die Arbeit zu bestimmen.
Bedingungen in der Produktionslinie. Sie verbessert nicht nur die Produktivit\u00e4t und Effizienz, sondern verringert auch die Fehlerquote,
Nacharbeit und Verschwendung.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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BEDEUTUNG DES BER\u00dcHRUNGSLOSEN PROFILERS F\u00dcR DIE INLINE-RAUHEITSPR\u00dcFUNG<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Oberfl\u00e4chenfehler entstehen durch Materialverarbeitung und Produktherstellung. Die Inline-Oberfl\u00e4chenqualit\u00e4tspr\u00fcfung gew\u00e4hrleistet eine strengste Qualit\u00e4tskontrolle der Endprodukte. Der Nanovea Ber\u00fchrungslose 3D-Profilometer<\/a> nutzen die chromatische Konfokaltechnologie mit der einzigartigen F\u00e4higkeit, die Rauheit einer Probe ber\u00fchrungslos zu bestimmen. Es k\u00f6nnen mehrere Profilsensoren installiert werden, um die Rauheit und Textur verschiedener Bereiche des Produkts gleichzeitig zu \u00fcberwachen. Der von der Analysesoftware in Echtzeit berechnete Rauheitsschwellenwert dient als schnelles und zuverl\u00e4ssiges Pass\/Fail-Tool.<\/p>

MESSZIEL<\/em>
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In dieser Studie wird das mit einem Punktsensor ausgestattete Nanovea-F\u00f6rderbandsystem f\u00fcr die Rauheitspr\u00fcfung von Acryl- und Sandpapierproben eingesetzt. Wir zeigen die F\u00e4higkeit des ber\u00fchrungslosen Nanovea-Profilometers, eine schnelle und zuverl\u00e4ssige Inline-Rauheitsinspektion in einer Produktionslinie in Echtzeit durchzuf\u00fchren.<\/p>

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ERGEBNISSE UND DISKUSSION<\/em>
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Das Bandprofilometersystem kann in zwei Betriebsarten arbeiten, n\u00e4mlich im Ausl\u00f6semodus und im Dauermodus. Wie in Abbildung 2 dargestellt, wird im Ausl\u00f6semodus die Oberfl\u00e4chenrauheit der Proben gemessen, wenn sie unter den optischen Profilmessk\u00f6pfen hindurchlaufen. Im Vergleich dazu erm\u00f6glicht der Dauermodus die kontinuierliche Messung der Oberfl\u00e4chenrauheit auf einer kontinuierlichen Probe, wie z. B. Metallblech und Gewebe. Es k\u00f6nnen mehrere optische Profiler-Sensoren installiert werden, um die Rauheit verschiedener Probenbereiche zu \u00fcberwachen und aufzuzeichnen. <\/span><\/p>

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W\u00e4hrend der Echtzeit-Rauheitsmessung werden in den Softwarefenstern die Warnungen \"bestanden\" und \"nicht bestanden\" angezeigt, wie in Abbildung 4 und Abbildung 5 dargestellt. Wenn der Rauheitswert innerhalb der vorgegebenen Schwellenwerte liegt, wird der gemessene Rauheitswert gr\u00fcn hervorgehoben. Die Markierung wird jedoch rot, wenn die gemessene Oberfl\u00e4chenrauheit au\u00dferhalb des Bereichs der festgelegten Schwellenwerte liegt. Damit steht dem Benutzer ein Werkzeug zur Verf\u00fcgung, mit dem er die Qualit\u00e4t der Oberfl\u00e4chenbeschaffenheit eines Produkts bestimmen kann.<\/p>

In den folgenden Abschnitten werden zwei Arten von Proben, z. B. Acryl und Sandpapier, verwendet, um den Ausl\u00f6semodus und den kontinuierlichen Modus des Inspektionssystems zu demonstrieren.<\/p>

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Ausl\u00f6semodus: Oberfl\u00e4cheninspektion der Acrylprobe<\/p>

Eine Reihe von Acrylproben werden auf dem F\u00f6rderband ausgerichtet und unter dem optischen Profilierkopf hindurchbewegt, wie in Abbildung 1 dargestellt. Die Falschfarbenansicht in Abbildung 6 zeigt die Ver\u00e4nderung der Oberfl\u00e4chenh\u00f6he. Einige der spiegelglatten Acrylproben wurden geschliffen, um eine raue Oberfl\u00e4chenstruktur zu erzeugen (siehe Abbildung 6b).<\/p>

W\u00e4hrend sich die Acrylproben mit konstanter Geschwindigkeit unter dem optischen Profilierkopf bewegen, wird das Oberfl\u00e4chenprofil gemessen, wie in Abbildung 7 und Abbildung 8 dargestellt. Der Rauheitswert des gemessenen Profils wird gleichzeitig berechnet und mit den Schwellenwerten verglichen. Wenn der Rauheitswert \u00fcber dem eingestellten Schwellenwert liegt, wird ein roter Fehleralarm ausgel\u00f6st, so dass der Benutzer das fehlerhafte Produkt in der Produktionslinie sofort erkennen und lokalisieren kann.<\/p>

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Kontinuierlicher Modus: Oberfl\u00e4cheninspektion der Schleifpapierprobe<\/p>

Oberfl\u00e4chenh\u00f6henkarte, Rauheitsverteilungskarte und Pass\/Fail-Rauheitsschwellenkarte der Oberfl\u00e4che der Sandpapierprobe, wie in Abbildung 9 dargestellt. Die Sandpapierprobe hat einige h\u00f6here Spitzen in dem verwendeten Teil, wie in der Oberfl\u00e4chenh\u00f6henkarte dargestellt. Die verschiedenen Farben in der Palette von Abbildung 9C stellen den Rauheitswert der lokalen Oberfl\u00e4che dar. Die Rauheitskarte zeigt eine homogene Rauheit im intakten Bereich der Sandpapierprobe, w\u00e4hrend der benutzte Bereich in dunkelblauer Farbe hervorgehoben ist, was auf den geringeren Rauheitswert in diesem Bereich hinweist. Ein Schwellenwert f\u00fcr die Pass\/Fail-Rauheit kann eingerichtet werden, um solche Regionen zu lokalisieren, wie in Abbildung 9D gezeigt.<\/p>

W\u00e4hrend das Schleifpapier kontinuierlich unter dem Inline-Profiler-Sensor hindurchl\u00e4uft, wird der lokale Rauheitswert in Echtzeit berechnet und aufgezeichnet, wie in Abbildung 10 dargestellt. Die Pass\/Fail-Warnungen werden auf dem Softwarebildschirm auf der Grundlage der eingestellten Rauheitsschwellenwerte angezeigt und dienen als schnelles und zuverl\u00e4ssiges Werkzeug f\u00fcr die Qualit\u00e4tskontrolle. Die Qualit\u00e4t der Produktoberfl\u00e4che in der Produktionslinie wird vor Ort gepr\u00fcft, um fehlerhafte Bereiche rechtzeitig zu entdecken.<\/p>

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SCHLUSSFOLGERUNG<\/em>
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In dieser Anwendung haben wir gezeigt, dass das Nanovea Conveyor Profilometer, ausgestattet mit einem optischen, ber\u00fchrungslosen Profilsensor, als zuverl\u00e4ssiges Inline-Qualit\u00e4tskontrollinstrument effektiv und effizient arbeitet.<\/p>

Das Inspektionssystem kann in der Produktionslinie installiert werden, um die Oberfl\u00e4chenqualit\u00e4t der Produkte an Ort und Stelle zu \u00fcberwachen. Der Rauheitsschwellenwert dient als zuverl\u00e4ssiges Kriterium zur Bestimmung der Oberfl\u00e4chenqualit\u00e4t der Produkte und erm\u00f6glicht es dem Benutzer, fehlerhafte Produkte rechtzeitig zu erkennen. Zwei Inspektionsmodi, n\u00e4mlich der Ausl\u00f6semodus und der Dauermodus, werden angeboten, um die Anforderungen an die Inspektion verschiedener Produkttypen zu erf\u00fcllen.<\/p>

Die hier gezeigten Daten stellen nur einen Teil der in der Analysesoftware verf\u00fcgbaren Berechnungen dar. Nanovea Profilometer messen praktisch jede Oberfl\u00e4che in Bereichen wie Halbleiter, Mikroelektronik, Solar, Glasfaser, Optik, Automobil, Luft- und Raumfahrt, Metallurgie, Bearbeitung, Beschichtungen, Pharmazeutik, Biomedizin, Umwelt und vielen anderen.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t

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UND NUN ZU IHRER BEWERBUNG<\/b><\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Instant Error Detection With In-Line Profilers Surface roughness and texture is vital to the end-use of a product. Fast, quanti\u001fable, and reliable inline inspection of the product surface ensures detecting the defective products immediately so as to determine the workconditions of the production line. It not only improves productivity and e\u001dciency, but also reduces defect […]<\/p>","protected":false},"author":1,"featured_media":11722,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[7,349,354,351,353,335],"tags":[],"class_list":["post-8355","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-application-notes","category-laboratory-testing","category-profilometry-flatness-warpage","category-profilometry-roughness-finish","category-profilometry-texture-grain","category-profilometry-testing"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/8355","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=8355"}],"version-history":[{"count":37,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/8355\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":25749,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/8355\/revisions\/25749"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media\/11722"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=8355"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=8355"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=8355"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}