{"id":7112,"date":"2019-11-01T19:25:37","date_gmt":"2019-11-01T19:25:37","guid":{"rendered":"https:\/\/nanovea.com\/?p=7112"},"modified":"2023-11-08T23:24:43","modified_gmt":"2023-11-08T23:24:43","slug":"wabenpaneel-oberflache","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wabenpaneel-oberflache\/","title":{"rendered":"Oberfl\u00e4chenbeschaffenheit von Wabenplatten mit 3D-Profilometrie"},"content":{"rendered":"
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EINF\u00dcHRUNG<\/u><\/strong><\/em><\/p>\n


Rauheit, Porosit\u00e4t und Textur der Oberfl\u00e4che von Wabenplatten sind f\u00fcr das endg\u00fcltige Plattendesign von entscheidender Bedeutung. Diese Oberfl\u00e4chenqualit\u00e4ten k\u00f6nnen direkt mit der \u00c4sthetik und den funktionalen Eigenschaften der Plattenoberfl\u00e4che korrelieren. Ein besseres Verst\u00e4ndnis der Oberfl\u00e4chentextur und -porosit\u00e4t kann dazu beitragen, die Verarbeitung und Herstellbarkeit der Plattenoberfl\u00e4che zu optimieren. Eine quantitative, pr\u00e4zise und zuverl\u00e4ssige Oberfl\u00e4chenmessung der Wabenplatte ist erforderlich, um die Oberfl\u00e4chenparameter f\u00fcr die Anwendung und die Lackieranforderungen zu kontrollieren. Die ber\u00fchrungslosen Nanovea 3D-Sensoren nutzen eine einzigartige chromatische Konfokaltechnologie, die eine pr\u00e4zise Messung dieser Plattenoberfl\u00e4chen erm\u00f6glicht.<\/p>\n



MESSZIEL<\/u><\/strong><\/em><\/p>\n


In dieser Studie wurde die Nanovea HS2000-Plattform, die mit einem Hochgeschwindigkeits-Liniensensor ausgestattet ist, verwendet, um zwei Wabenplatten mit unterschiedlichen Oberfl\u00e4chenbeschaffenheiten zu messen und zu vergleichen. Wir pr\u00e4sentieren den Nanovea ber\u00fchrungsloses Profilometer<\/a>Die F\u00e4higkeit des Unternehmens, schnelle und pr\u00e4zise 3D-Profilmessungen und eine umfassende, tiefgehende Analyse der Oberfl\u00e4chenbeschaffenheit durchzuf\u00fchren.<\/p>\n

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ERGEBNISSE UND DISKUSSION<\/u><\/strong><\/em>

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Die Oberfl\u00e4che von zwei Wabenplattenmustern mit unterschiedlicher Oberfl\u00e4chenbeschaffenheit, n\u00e4mlich Probe 1 und Probe 2, wurde gemessen. Die Falschfarben- und 3D-Ansicht der Oberfl\u00e4chen der Proben 1 und 2 sind in Abbildung 3 bzw. Abbildung 4 dargestellt. Die Rauheits- und Ebenheitswerte wurden mit einer fortschrittlichen Analysesoftware berechnet und werden in Tabelle 1 verglichen. Probe 2 weist im Vergleich zu Probe 1 eine por\u00f6sere Oberfl\u00e4che auf. Infolgedessen weist Probe 2 einen h\u00f6heren Rauheitswert Sa von 14,7 \u00b5m auf, verglichen mit einem Sa-Wert von 4,27 \u00b5m f\u00fcr Probe 1.<\/p>\n

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Die 2D-Profile der Wabenplattenoberfl\u00e4chen wurden in Abbildung 5 verglichen, um dem Benutzer einen visuellen Vergleich der H\u00f6hen\u00e4nderung an verschiedenen Stellen der Probenoberfl\u00e4che zu erm\u00f6glichen. Wir k\u00f6nnen feststellen, dass Probe 1 eine H\u00f6henvariation von ~25 \u00b5m zwischen der h\u00f6chsten Spitze und der niedrigsten Talstelle aufweist. Andererseits weist Probe 2 mehrere tiefe Poren im gesamten 2D-Profil auf. Die fortschrittliche Analysesoftware ist in der Lage, die Tiefe von sechs relativ tiefen Poren automatisch zu lokalisieren und zu messen, wie in der Tabelle in Abbildung 4.b Probe 2 dargestellt. Die tiefste der sechs Poren weist eine maximale Tiefe von fast 90 \u00b5m auf (Schritt 4).<\/p>\n

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Um die Porengr\u00f6\u00dfe und -verteilung von Probe 2 weiter zu untersuchen, wurde eine Porosit\u00e4tsbewertung durchgef\u00fchrt, die im folgenden Abschnitt erl\u00e4utert wird. Die Schnittansicht ist in Abbildung 5 dargestellt und die Ergebnisse sind in Tabelle 2 zusammengefasst. Wir k\u00f6nnen feststellen, dass die Poren, die in Abbildung 5 blau markiert sind, eine relativ homogene Verteilung auf der Probenoberfl\u00e4che aufweisen. Die projizierte Fl\u00e4che der Poren macht 18,9% der gesamten Probenoberfl\u00e4che aus. Das Volumen pro mm\u00b2 der gesamten Poren betr\u00e4gt ~0,06 mm\u00b3. Die Poren haben eine durchschnittliche Tiefe von 42,2 \u00b5m, und die maximale Tiefe betr\u00e4gt 108,1 \u00b5m.<\/p>\n

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SCHLUSSFOLGERUNG<\/i><\/u><\/strong><\/p>\n

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In dieser Anwendung haben wir gezeigt, dass die Nanovea HS2000 Plattform, die mit einem Hochgeschwindigkeits-Zeilensensor ausgestattet ist, ein ideales Werkzeug f\u00fcr die schnelle und genaue Analyse und den Vergleich der Oberfl\u00e4chenbeschaffenheit von Wabenplattenproben ist. Die hochaufl\u00f6senden profilometrischen Scans in Verbindung mit einer fortschrittlichen Analysesoftware erm\u00f6glichen eine umfassende und quantitative Bewertung der Oberfl\u00e4chenbeschaffenheit von Wabenplattenproben.<\/p>\n

Die hier gezeigten Daten stellen nur einen kleinen Teil der in der Analysesoftware verf\u00fcgbaren Berechnungen dar. Nanovea Profilometer messen praktisch jede Oberfl\u00e4che f\u00fcr eine Vielzahl von Anwendungen in der Halbleiter-, Mikroelektronik-, Solar-, Faseroptik-, Automobil-, Luft- und Raumfahrt-, Metallurgie-, Bearbeitungs-, Beschichtungs-, Pharma-, Biomedizin-, Umwelt- und vielen anderen Branchen.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t

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UND NUN ZU IHRER BEWERBUNG<\/b><\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Download PDF version INTRODUCTION Roughness, porosity, and texture of the honeycomb panel surface are critical to quantify for the final panel design. These surface qualities can directly correlate to the aesthetics and functional characteristics of the panel surface. A better understanding of the surface texture and porosity can help optimize the panel surface processing and […]<\/p>","protected":false},"author":1,"featured_media":11717,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[7,349,354,351,355,335],"tags":[],"class_list":["post-7112","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-application-notes","category-laboratory-testing","category-profilometry-flatness-warpage","category-profilometry-roughness-finish","category-profilometry-volume-area","category-profilometry-testing"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/7112","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=7112"}],"version-history":[{"count":88,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/7112\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":23355,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/7112\/revisions\/23355"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media\/11717"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=7112"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=7112"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=7112"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}