{"id":4274,"date":"2018-12-05T14:47:41","date_gmt":"2018-12-05T14:47:41","guid":{"rendered":"https:\/\/nanovea.com\/?p=4274"},"modified":"2019-07-31T14:57:15","modified_gmt":"2019-07-31T14:57:15","slug":"500nm-glas-schritt-hohe-extrem-genauigkeit-mit-beruhrungsloser-profilometrie","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/de\/500nm-glass-step-height-extreme-accuracy-with-non-contact-profilometry\/","title":{"rendered":"500nm Glas Stufenh\u00f6he:  Extreme Genauigkeit mit ber\u00fchrungsloser Profilometrie"},"content":{"rendered":"<p>Die Charakterisierung von Oberfl\u00e4chen ist ein aktuelles Thema, das intensiv untersucht wird. Die Oberfl\u00e4chen von Werkstoffen sind wichtig, da sie die Bereiche sind, in denen physikalische und chemische Wechselwirkungen zwischen dem Werkstoff und der Umgebung stattfinden. Daher ist es w\u00fcnschenswert, die Oberfl\u00e4che mit hoher Aufl\u00f6sung abbilden zu k\u00f6nnen, da die Wissenschaftler so die kleinsten Oberfl\u00e4chendetails visuell beobachten k\u00f6nnen. Zu den \u00fcblichen Oberfl\u00e4chenabbildungsdaten geh\u00f6ren Topografie, Rauheit, seitliche und vertikale Abmessungen. Die Identifizierung der tragenden Oberfl\u00e4che, des Abstands und der Stufenh\u00f6he von hergestellten Mikrostrukturen und von Defekten auf der Oberfl\u00e4che sind einige Anwendungen, die sich mit Hilfe der Oberfl\u00e4chenabbildung erzielen lassen. Allerdings sind nicht alle Oberfl\u00e4chenabbildungsmethoden gleich.<\/p>\n<p><a href=\"http:\/\/nanovea.com\/App-Notes\/500nm-Glass-Step-Height-Extreme-Accuracy.pdf\">500nm Glas Stufenh\u00f6he: Extreme Genauigkeit mit ber\u00fchrungsloser Profilometrie<\/a><\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Surface characterization are current topics undergoing intense study. The surfaces of materials are important since they are the regions where physical and chemical interactions between the material and environment occur. Thus, being able to image the surface with high resolution has been desirable, since it allows scientists to visually observe the smallest surface details. Common [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":4282,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[7,352],"tags":[],"class_list":["post-4274","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-application-notes","category-profilometry-step-height-thickness"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/4274","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=4274"}],"version-history":[{"count":3,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/4274\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":4330,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/4274\/revisions\/4330"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media\/4282"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=4274"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=4274"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=4274"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}