{"id":22017,"date":"2023-05-01T18:42:24","date_gmt":"2023-05-01T18:42:24","guid":{"rendered":"https:\/\/nanovea.com\/?p=22017"},"modified":"2025-05-22T19:12:25","modified_gmt":"2025-05-22T19:12:25","slug":"rauheitskartierung-prufung-mit-3d-profilometrie","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/de\/rauheitskartierung-prufung-mit-3d-profilometrie\/","title":{"rendered":"Rauheitskartierung mit 3D-Profilometrie"},"content":{"rendered":"
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PR\u00dcFUNG DER RAUHEITSKARTIERUNG<\/h1>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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3D-PROFILOMETRIE VERWENDEN<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Vorbereitet von<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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DUANJIE, PhD<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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EINF\u00dcHRUNG<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Oberfl\u00e4chenrauheit und -beschaffenheit sind entscheidende Faktoren, die sich auf die endg\u00fcltige Qualit\u00e4t und Leistung eines Produkts auswirken. Ein gr\u00fcndliches Verst\u00e4ndnis von Oberfl\u00e4chenrauheit, -textur und -konsistenz ist f\u00fcr die Auswahl der besten Verarbeitungs- und Kontrollma\u00dfnahmen unerl\u00e4sslich. Eine schnelle, quantifizierbare und zuverl\u00e4ssige Inline-Inspektion von Produktoberfl\u00e4chen ist notwendig, um fehlerhafte Produkte rechtzeitig zu erkennen und die Bedingungen in der Produktionslinie zu optimieren.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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BEDEUTUNG DES BER\u00dcHRUNGSLOSEN 3D-PROFILOMETERS F\u00dcR DIE INLINE-OBERFL\u00c4CHENPR\u00dcFUNG<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Oberfl\u00e4chenfehler an Produkten entstehen durch Materialverarbeitung und Produktherstellung. Die Inline-Oberfl\u00e4chenqualit\u00e4tspr\u00fcfung gew\u00e4hrleistet eine strengste Qualit\u00e4tskontrolle der Endprodukte. NANOVEA Ber\u00fchrungslose optische 3D-Profiler<\/a> Nutzen Sie die Chromatic Light-Technologie mit der einzigartigen F\u00e4higkeit, die Rauheit einer Probe ber\u00fchrungslos zu bestimmen. Der Zeilensensor erm\u00f6glicht das Scannen des 3D-Profils einer gro\u00dfen Oberfl\u00e4che mit hoher Geschwindigkeit. Der von der Analysesoftware in Echtzeit berechnete Rauheitsschwellenwert dient als schnelles und zuverl\u00e4ssiges Gut\/Schlecht-Instrument.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t

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MESSZIEL<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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In dieser Studie wird das mit einem Hochgeschwindigkeitssensor ausgestattete NANOVEA ST400 zur Inspektion der Oberfl\u00e4che einer Te\ufb02on-Probe mit einem Defekt verwendet, um die F\u00e4higkeiten des NANOVEA<\/em><\/p>

Ber\u00fchrungslose Pro\ufb01lometer erm\u00f6glichen eine schnelle und zuverl\u00e4ssige Oberfl\u00e4chenpr\u00fcfung in einer Produktionslinie.<\/em><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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NANOVEA<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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ST400<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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ERGEBNISSE & DISKUSSION<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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3D-Oberfl\u00e4chenanalyse des\u00a0<\/em><\/strong>Rauhigkeit Standardprobe<\/em><\/strong><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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Die Oberfl\u00e4che eines Rauheitsnormals wurde mit einem NANOVEA ST400 abgetastet, der mit einem Hochgeschwindigkeitssensor ausgestattet ist, der eine helle Linie mit 192 Punkten erzeugt, wie in ABBILDUNG 1 dargestellt. Diese 192 Punkte tasten die Probenoberfl\u00e4che gleichzeitig ab, was zu einer deutlich h\u00f6heren Abtastgeschwindigkeit f\u00fchrt.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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ABBILDUNG 2 zeigt Falschfarbenansichten der Oberfl\u00e4chenh\u00f6henkarte und der Rauheitsverteilungskarte der Rauheitsstandardprobe. In ABBILDUNG 2a weist der Rauheitsstandard eine leicht schr\u00e4ge Oberfl\u00e4che auf, die durch den unterschiedlichen Farbverlauf in jedem der Standard-Rauheitsbl\u00f6cke dargestellt wird. In ABBILDUNG 2b wird eine homogene Rauheitsverteilung in verschiedenen Rauheitsbl\u00f6cken gezeigt, deren Farbe die Rauheit in den Bl\u00f6cken darstellt.<\/p>

ABBILDUNG 3 zeigt Beispiele f\u00fcr die Pass\/Fail-Karten, die von der Analysesoftware auf der Grundlage verschiedener Rauheitsschwellenwerte erstellt wurden. Die Rauheitsbl\u00f6cke werden rot hervorgehoben, wenn ihre Oberfl\u00e4chenrauheit \u00fcber einem bestimmten Schwellenwert liegt. Auf diese Weise kann der Benutzer einen Rauheitsschwellenwert festlegen, um die Qualit\u00e4t der Oberfl\u00e4chenbeschaffenheit einer Probe zu bestimmen.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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ABBILDUNG 1:<\/span> Abtastung des optischen Zeilensensors auf der Probe des Rauheitsnormals
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a.<\/span> Karte der Oberfl\u00e4chenh\u00f6he:
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b.<\/span>\u00a0Rauhigkeitskarte:
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ABBILDUNG 2:<\/span> Falschfarbenansichten der Oberfl\u00e4chenh\u00f6henkarte und der Rauheitsverteilungskarte der Rauheitsstandardprobe.<\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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ABBILDUNG 3:<\/span> Pass\/Fail Map basierend auf dem Roughness Threshold.<\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t

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Oberfl\u00e4cheninspektion einer Te\ufb02onprobe mit Defekten<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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Die Oberfl\u00e4chenh\u00f6henkarte, die Rauheitsverteilungskarte und die Pass\/Fail-Rauheitsschwellenkarte der Oberfl\u00e4che der Te\ufb02on-Probe sind in ABBILDUNG 4 dargestellt. Die Te\ufb02on-Probe weist in der rechten Mitte der Probe eine Rippenform auf, wie in der Oberfl\u00e4chenh\u00f6henkarte dargestellt.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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a.<\/span> Karte der Oberfl\u00e4chenh\u00f6he:
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Die verschiedenen Farben in der Palette von ABBILDUNG 4b stellen den Rauheitswert auf der lokalen Oberfl\u00e4che dar. Die Rauhigkeitskarte zeigt eine homogene Rauheit im intakten Bereich der Te\ufb02on-Probe. Die Defekte in Form eines eingedr\u00fcckten Rings und einer Verschlei\u00dfnarbe sind jedoch in heller Farbe hervorgehoben. Der Benutzer kann leicht einen Schwellenwert f\u00fcr die Pass\/Fail-Rauheit festlegen, um die Oberfl\u00e4chendefekte zu lokalisieren, wie in ABBILDUNG 4c gezeigt. Mit einem solchen Werkzeug kann der Benutzer die Oberfl\u00e4chenqualit\u00e4t des Produkts in der Produktionslinie vor Ort \u00fcberwachen und fehlerhafte Produkte rechtzeitig erkennen. Der Echtzeit-Rauigkeitswert wird berechnet und aufgezeichnet, w\u00e4hrend die Produkte den optischen Inline-Sensor passieren, was als schnelles und zuverl\u00e4ssiges Werkzeug f\u00fcr die Qualit\u00e4tskontrolle dienen kann.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t

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b.<\/span>\u00a0Rauhigkeitskarte:
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c.<\/span> Pass\/Fail Roughness Threshold Map:
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ABBILDUNG 4:<\/span> Oberfl\u00e4chenh\u00f6henkarte, Rauhigkeitsverteilungskarte und <\/span>Pass\/Fail-Rauhigkeitsschwellenwertkarte der Te\ufb02on-Probenoberfl\u00e4che.<\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t

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SCHLUSSFOLGERUNG<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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In dieser Anwendung haben wir gezeigt, wie der ber\u00fchrungslose optische 3D-Profiler NANOVEA ST400, ausgestattet mit einem optischen Zeilensensor, als zuverl\u00e4ssiges Qualit\u00e4tskontrollwerkzeug e\ufb00ektiv und effizient arbeitet.<\/p>

Der optische Zeilensensor erzeugt eine helle Linie aus 192 Punkten, die die Probenoberfl\u00e4che gleichzeitig abtasten, was zu einer deutlich h\u00f6heren Abtastgeschwindigkeit f\u00fchrt. Er kann in der Produktionslinie installiert werden, um die Oberfl\u00e4chenrauhigkeit der Produkte vor Ort zu \u00fcberwachen. Der Schwellenwert f\u00fcr die Rauheit dient als zuverl\u00e4ssiges Kriterium zur Bestimmung der Oberfl\u00e4chenqualit\u00e4t der Produkte und erm\u00f6glicht es dem Benutzer, fehlerhafte Produkte rechtzeitig zu erkennen.<\/p>

Die hier gezeigten Daten stellen nur einen Teil der in der Analysesoftware verf\u00fcgbaren Berechnungen dar. NANOVEA Profilometer messen praktisch jede Oberfl\u00e4che in Bereichen wie Halbleiter, Mikroelektronik, Solar, Faseroptik, Automobil, Luft- und Raumfahrt, Metallurgie, Bearbeitung, Beschichtungen, Pharmazeutik, Biomedizin, Umwelt und vielen anderen.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t

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Haben Sie eine \u00e4hnliche Anwendung?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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\n\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\tJETZT MIT EINEM EXPERTEN DISKUTIEREN<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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ROUGHNESS MAPPING INSPECTION USING 3D PROFILOMETRY Prepared by DUANJIE, PhD INTRODUCTION Surface roughness and texture are critical factors that impact the final quality and performance of a product. A thorough understanding of surface roughness, texture, and consistency is essential for selecting the best processing and control measures. Fast, quantifiable, and reliable inline inspection of product […]<\/p>","protected":false},"author":1,"featured_media":22037,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[7,349,354,351,355,335],"tags":[],"class_list":["post-22017","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-application-notes","category-laboratory-testing","category-profilometry-flatness-warpage","category-profilometry-roughness-finish","category-profilometry-volume-area","category-profilometry-testing"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/22017","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=22017"}],"version-history":[{"count":22,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/22017\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":24693,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/22017\/revisions\/24693"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media\/22037"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=22017"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=22017"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=22017"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}