{"id":21138,"date":"2022-07-14T15:16:39","date_gmt":"2022-07-14T15:16:39","guid":{"rendered":"https:\/\/nanovea.com\/?p=21138"},"modified":"2025-05-22T19:13:23","modified_gmt":"2025-05-22T19:13:23","slug":"schweisnaht-oberflachen-prufung-mit-einem-tragbaren-3d-profilometer","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/de\/schweisnaht-oberflachen-prufung-mit-einem-tragbaren-3d-profilometer\/","title":{"rendered":"Schwei\u00dfnahtoberfl\u00e4cheninspektion mit einem tragbaren 3D-Profilometer"},"content":{"rendered":"
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WELd-Oberfl\u00e4cheninspektion<\/h1>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Verwendung eines tragbaren 3d-Profilometers<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Vorbereitet von<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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CRAIG LEISING<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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EINF\u00dcHRUNG<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Es kann von entscheidender Bedeutung sein, dass eine bestimmte Schwei\u00dfnaht, die in der Regel durch eine Sichtpr\u00fcfung erfolgt, mit einem extremen Pr\u00e4zisionsgrad untersucht wird. Zu den spezifischen Bereichen, die f\u00fcr eine pr\u00e4zise Analyse von Interesse sind, geh\u00f6ren Oberfl\u00e4chenrisse, Porosit\u00e4t und ungef\u00fcllte Krater, unabh\u00e4ngig von den nachfolgenden Pr\u00fcfverfahren. Schwei\u00dfnahtmerkmale wie Abmessungen\/Form, Volumen, Rauheit, Gr\u00f6\u00dfe usw. k\u00f6nnen zur kritischen Bewertung gemessen werden.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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BEDEUTUNG DES BER\u00dcHRUNGSLOSEN 3D-PROFILOMETERS F\u00dcR DIE SCHWEISSNAHTOBERFL\u00c4CHENPR\u00dcFUNG<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Im Gegensatz zu anderen Techniken wie Touch Probes oder Interferometrie bietet die NANOVEA Ber\u00fchrungsloses 3D-Profilometer<\/a>Mithilfe des axialen Chromatismus kann nahezu jede Oberfl\u00e4che gemessen werden, die Probengr\u00f6\u00dfe kann aufgrund der offenen Bereitstellung stark variieren und es ist keine Probenvorbereitung erforderlich. Der Nano- bis Makrobereich wird w\u00e4hrend der Oberfl\u00e4chenprofilmessung ohne Einfluss des Probenreflexionsverm\u00f6gens oder der Probenabsorption erzielt, verf\u00fcgt \u00fcber eine erweiterte F\u00e4higkeit zur Messung gro\u00dfer Oberfl\u00e4chenwinkel und es gibt keine Softwaremanipulation der Ergebnisse. Messen Sie ganz einfach jedes Material: transparent, undurchsichtig, spiegelnd, diffus, poliert, rau usw. Die 2D- und 2D-Funktionen der tragbaren NANOVEA-Profilometer machen sie zu idealen Instrumenten f\u00fcr die vollst\u00e4ndige Inspektion von Schwei\u00dfoberfl\u00e4chen sowohl im Labor als auch vor Ort.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t

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MESSZIEL<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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In dieser Anwendung wird der NANOVEA JR25 Portable Profiler verwendet, um die Oberfl\u00e4chenrauheit, die Form und das Volumen einer Schwei\u00dfnaht sowie die Umgebung zu messen. Diese Daten k\u00f6nnen wichtige Informationen liefern, um die Qualit\u00e4t der Schwei\u00dfnaht und des Schwei\u00dfprozesses richtig zu untersuchen.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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NANOVEA<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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JR25<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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TESTERGEBNISSE<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Das Bild unten zeigt die vollst\u00e4ndige 3D-Ansicht der Schwei\u00dfnaht und des umgebenden Bereichs zusammen mit den Oberfl\u00e4chenparametern der Schwei\u00dfnaht. Das 2D-Querschnittsprofil ist unten dargestellt.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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die Probe<\/strong><\/em><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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Mit dem obigen 2D-Querschnittsprofil, das aus dem 3D-Profil entfernt wurde, werden die Dimensionsinformationen der Schwei\u00dfnaht unten berechnet. Oberfl\u00e4che und Volumen des Materials werden nur f\u00fcr die Schwei\u00dfnaht berechnet.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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\u00a0<\/td>HOLE<\/strong><\/em><\/td>PEAK<\/strong><\/em><\/td><\/tr>
OBERFL\u00c4CHE<\/strong><\/em><\/td>1,01 mm2<\/sup><\/strong><\/em><\/td>14,0 mm2<\/sup><\/strong><\/em><\/td><\/tr>
VOLUME<\/strong><\/em><\/td>8,799e-5 mm3<\/sup><\/strong><\/em><\/td>23,27 mm3<\/sup><\/strong><\/em><\/td><\/tr>
MAXIMALE TIEFE\/H\u00d6HE<\/strong><\/em><\/td>0,0276 mm<\/strong><\/em><\/td>0,6195 mm<\/strong><\/em><\/td><\/tr>
MITTLERE TIEFE\/H\u00d6HE<\/strong><\/em><\/td> 0,004024 mm<\/span> <\/strong><\/em><\/td> 0,2298 mm<\/span> <\/strong><\/em><\/td><\/tr><\/tbody><\/table>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t
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SCHLUSSFOLGERUNG<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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In dieser Anwendung haben wir gezeigt, wie der ber\u00fchrungslose 3D-Profiler NANOVEA kritische Eigenschaften einer Schwei\u00dfnaht und der sie umgebenden Oberfl\u00e4che pr\u00e4zise charakterisieren kann. Anhand der Rauheit, der Abmessungen und des Volumens kann eine quantitative Methode f\u00fcr Qualit\u00e4t und Wiederholbarkeit bestimmt und weiter untersucht werden. Musterschwei\u00dfn\u00e4hte, wie das Beispiel in dieser App Note, k\u00f6nnen mit einem Standard-Tischger\u00e4t oder einem tragbaren NANOVEA Profiler f\u00fcr Inhouse- oder Feldtests leicht analysiert werden.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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Haben Sie eine \u00e4hnliche Anwendung?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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WELd surface inspection using a portable 3d profilometer Prepared by CRAIG LEISING INTRODUCTION It may become critical for a particular weld, typically done by visual inspection, to be investigated with an extreme level of precision. Specific areas of interest for precise analysis include surface cracks, porosity and unfilled craters, regardless of subsequent inspection procedures. Weld […]<\/p>","protected":false},"author":1,"featured_media":21140,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[7,349,354,350,351,355,335],"tags":[],"class_list":["post-21138","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-application-notes","category-laboratory-testing","category-profilometry-flatness-warpage","category-profilometry-geometry-shape","category-profilometry-roughness-finish","category-profilometry-volume-area","category-profilometry-testing"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/21138","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=21138"}],"version-history":[{"count":28,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/21138\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":24696,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/21138\/revisions\/24696"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media\/21140"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=21138"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=21138"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=21138"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}