{"id":1968,"date":"2015-08-26T21:00:58","date_gmt":"2015-08-26T21:00:58","guid":{"rendered":"http:\/\/nanovea.com\/?p=1968"},"modified":"2015-10-21T17:38:36","modified_gmt":"2015-10-21T17:38:36","slug":"3d-topographie-pcb","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/de\/3d-topography-pcb\/","title":{"rendered":"3D-Topographie mit Bild\u00fcberlagerung von PCB"},"content":{"rendered":"<p>Das immer anspruchsvollere elektronische Design und Layout von Halbleiterchips, Schaltkreisen und Systemen erfordert eine hochpr\u00e4zise Fertigung und eine hervorragende Qualit\u00e4tskontrolle. Im Gegensatz zu anderen Techniken wie taktilen Tastern oder Interferometrie ist das Nanovea 3D Non-Contact <a href=\"https:\/\/nanovea.com\/profilometers\" target=\"_blank\">Profilometer<\/a>kann unter Verwendung von Axialchromatismus nahezu jede Materialoberfl\u00e4che messen. Nano- bis Makrobereich wird w\u00e4hrend der Oberfl\u00e4chenprofilmessung mit Null Einfluss von Probe Reflektivit\u00e4t, Absorption und hohe Oberfl\u00e4chenwinkel erhalten. Dies ist ideal f\u00fcr die Oberfl\u00e4cheninspektion von Leiterplatten (PCBA), die eine Vielzahl von elektronischen Komponenten aus unterschiedlichen Materialien, Reflexionsgraden und feinen Merkmalen enthalten. Dar\u00fcber hinaus misst die ber\u00fchrungslose Profilierungstechnik die Oberfl\u00e4chenmerkmale, ohne die PCBA zu ber\u00fchren, wodurch das Risiko einer Besch\u00e4digung der empfindlichen Schaltkreise und elektronischen Komponenten durch das Abrutschen des Taststiftes vermieden wird. Die Kombination aus hoher Pr\u00e4zision, hoher Geschwindigkeit, Ber\u00fchrungslosigkeit und Benutzerfreundlichkeit macht das Nanovea Profilometer zu einem idealen Werkzeug f\u00fcr die PCBA-Pr\u00fcfung.<\/p>\n<p><a href=\"https:\/\/nanovea.com\/wp-content\/themes\/wp-nanovea\/Application%20Notes\/pcb-topography.pdf\" target=\"_blank\">3D-Topographie mit Bild\u00fcberlagerung von PCB<\/a><\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>The more sophisticated electronic design and layout of semiconductor chips, circuits and systems requires high precision manufacturing and superior quality control. Unlike other techniques such as touch probes or interferometry, the Nanovea 3D Non-Contact Profilometer, using axial chromatism, can measure nearly any material surface. Nano through macro range is obtained during surface profile measurement with [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":1960,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[7],"tags":[204,12],"class_list":["post-1968","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-application-notes","tag-pcb-topography","tag-profilometer"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1968","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=1968"}],"version-history":[{"count":2,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1968\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":1981,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1968\/revisions\/1981"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media\/1960"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=1968"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=1968"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=1968"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}