{"id":18527,"date":"2022-04-05T17:27:55","date_gmt":"2022-04-05T17:27:55","guid":{"rendered":"https:\/\/nanovea.com\/?p=18527"},"modified":"2025-05-22T20:22:00","modified_gmt":"2025-05-22T20:22:00","slug":"fraktographie-analyse-mittels-3d-profilometrie","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/de\/fraktographie-analyse-mittels-3d-profilometrie\/","title":{"rendered":"Fraktographie-Analyse mit 3D-Profilometrie"},"content":{"rendered":"
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FRAKTOGRAPHIE-ANALYSE<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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3D-PROFILOMETRIE VERWENDEN<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Vorbereitet von<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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CRAIG LEISING<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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EINF\u00dcHRUNG<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Unter Fraktographie versteht man die Untersuchung von Merkmalen auf gebrochenen Oberfl\u00e4chen und wurde in der Vergangenheit mittels Mikroskop oder REM untersucht. Abh\u00e4ngig von der Gr\u00f6\u00dfe des Merkmals werden f\u00fcr die Oberfl\u00e4chenanalyse ein Mikroskop (Makromerkmale) oder ein REM (Nano- und Mikromerkmale) ausgew\u00e4hlt. Beides erm\u00f6glicht letztlich die Identifizierung des Frakturmechanismustyps. Obwohl das Mikroskop effektiv ist, weist es klare Einschr\u00e4nkungen auf, und das REM ist in den meisten F\u00e4llen, abgesehen von der Analyse auf atomarer Ebene, f\u00fcr die Messung von Bruchfl\u00e4chen unpraktisch und verf\u00fcgt nicht \u00fcber eine breitere Einsatzm\u00f6glichkeit. Mit Fortschritten in der optischen Messtechnik ist das NANOVEA Ber\u00fchrungsloses 3D-Profilometer<\/a> gilt heute als das Instrument der Wahl, da es in der Lage ist, 2D- und 3D-Oberfl\u00e4chenmessungen im Nano- bis Makroma\u00dfstab durchzuf\u00fchren<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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BEDEUTUNG DES BER\u00dcHRUNGSLOSEN 3D-PROFILOMETERS F\u00dcR DIE BRUCHPR\u00dcFUNG<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Im Gegensatz zu einem SEM kann ein ber\u00fchrungsloses 3D-Profilometer nahezu jede Oberfl\u00e4che und Probengr\u00f6\u00dfe mit minimaler Probenvorbereitung messen und bietet dabei bessere vertikale\/horizontale Abmessungen als ein SEM. Mit einem Profilometer werden Merkmale im Nano- bis Makrobereich in einer einzigen Messung erfasst, ohne dass die Reflektivit\u00e4t der Probe eine Rolle spielt. Sie k\u00f6nnen problemlos jedes Material messen: transparent, undurchsichtig, spiegelnd, diffus, poliert, rau usw. Das ber\u00fchrungslose 3D-Profilometer bietet umfassende und benutzerfreundliche Funktionen zur Maximierung von Oberfl\u00e4chenbruchstudien zu einem Bruchteil der Kosten eines REM.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t

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MESSZIEL<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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In dieser Anwendung wird das NANOVEA ST400 zur Messung der gebrochenen Oberfl\u00e4che einer Stahlprobe verwendet. In dieser Studie werden wir eine 3D-Fl\u00e4che, eine 2D-Profilextraktion und eine Richtungskarte der Oberfl\u00e4che zeigen.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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NANOVEA<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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ST400<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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ERGEBNISSE<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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OBERFL\u00c4CHE<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t
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3D-Oberfl\u00e4chentextur Richtung<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Isotropie<\/td>51.26%<\/td><\/tr>
Erste Richtung<\/td>123.2\u00ba<\/td><\/tr>
Zweite Richtung<\/td>116.3\u00ba<\/td><\/tr>
Dritte Richtung<\/td>0.1725\u00ba<\/td><\/tr><\/tbody><\/table>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t
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Oberfl\u00e4che, Volumen, Rauheit und viele andere k\u00f6nnen automatisch aus dieser Extraktion berechnet werden.<\/span> <\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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2D-Profil-Extraktion<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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ERGEBNISSE<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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SEITENOBERFL\u00c4CHE<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t
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3D-Oberfl\u00e4chentextur Richtung<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Isotropie<\/td>15.55<\/span>%<\/td><\/tr>
Erste Richtung<\/td>0.1617<\/span>\u00ba<\/td><\/tr>
Zweite Richtung<\/td>110.5<\/span>\u00ba<\/td><\/tr>
Dritte Richtung<\/td>171.5<\/span>\u00ba<\/td><\/tr><\/tbody><\/table>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t
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Oberfl\u00e4che, Volumen, Rauheit und viele andere k\u00f6nnen automatisch aus dieser Extraktion berechnet werden.<\/span> <\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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2D-Profil-Extraktion<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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SCHLUSSFOLGERUNG<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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In dieser Anwendung haben wir gezeigt, wie das ber\u00fchrungslose 3D-Profilometer NANOVEA ST400 die gesamte Topografie (Nano-, Mikro- und Makromerkmale) einer gebrochenen Oberfl\u00e4che pr\u00e4zise charakterisieren kann. Aus dem 3D-Bereich kann die Oberfl\u00e4che eindeutig identifiziert werden, und Teilbereiche oder Profile\/Querschnitte k\u00f6nnen schnell extrahiert und mit einer endlosen Liste von Oberfl\u00e4chenberechnungen analysiert werden. Oberfl\u00e4chenmerkmale im Subnanometerbereich k\u00f6nnen mit einem integrierten AFM-Modul weiter analysiert werden.<\/p>

Dar\u00fcber hinaus hat NANOVEA eine tragbare Version seines Profilometers entwickelt, die sich besonders f\u00fcr Feldstudien eignet, bei denen die Bruchfl\u00e4che nicht bewegt werden kann. Mit dieser umfangreichen Liste von Oberfl\u00e4chenmessfunktionen war die Analyse von Bruchfl\u00e4chen noch nie so einfach und bequem mit einem einzigen Ger\u00e4t.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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Haben Sie eine \u00e4hnliche Anwendung?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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\n\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\tPREISE UND DETAILS SCHNELL ERHALTEN<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t<\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

FRAKTOGRAPHIE-ANALYSE MITTELS 3D-PROFILOMETRIE Erstellt von CRAIG LEISING EINF\u00dcHRUNG Fraktographie ist die Untersuchung von Merkmalen auf gebrochenen Oberfl\u00e4chen und wurde in der Vergangenheit mittels Mikroskop oder REM untersucht. Abh\u00e4ngig von der Gr\u00f6\u00dfe des Merkmals werden f\u00fcr die Oberfl\u00e4chenanalyse ein Mikroskop (Makromerkmale) oder ein REM (Nano- und Mikromerkmale) ausgew\u00e4hlt. Beides erm\u00f6glicht letztendlich [\u2026]<\/p>","protected":false},"author":1,"featured_media":18534,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[7,349,350,351,353,355,335],"tags":[],"class_list":["post-18527","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-application-notes","category-laboratory-testing","category-profilometry-geometry-shape","category-profilometry-roughness-finish","category-profilometry-texture-grain","category-profilometry-volume-area","category-profilometry-testing"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/18527","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=18527"}],"version-history":[{"count":29,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/18527\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":24705,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/18527\/revisions\/24705"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media\/18534"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=18527"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=18527"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/nanovea.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=18527"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}