{"id":1275,"date":"2009-03-05T18:03:10","date_gmt":"2009-03-05T18:03:10","guid":{"rendered":"http:\/\/nanovea.com\/?p=1275"},"modified":"2015-05-28T14:20:48","modified_gmt":"2015-05-28T14:20:48","slug":"fuhrender-halbleiterhersteller-wahlt-nanovea-profilometer-vor-vielen-anderen","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/nanovea.com\/de\/top-semiconductor-mfg-chooses-nanovea-profilometer-over-many\/","title":{"rendered":"Top-Halbleiterhersteller w\u00e4hlt Nanovea-Profilometer \u00fcber viele"},"content":{"rendered":"<p>Irvine CA, 5. M\u00e4rz 2009 - Nanovea gab heute bekannt, dass das Unternehmen sein erstes HS1000 Profilometer an einen f\u00fchrenden Halbleiterhersteller ausliefern wird. Die Auslieferung des HS1000 ist ein weiterer H\u00f6hepunkt in der beeindruckenden Geschichte der optischen Profilometer von Nanovea und bietet den Kunden eine fortschrittlichere Messgeschwindigkeitsoption f\u00fcr hohe Durchsatzanforderungen. Das HS1000 Profilometer ist mit einer un\u00fcbertroffenen Kombination aus Messgeschwindigkeit, Automatisierung und Nanometeraufl\u00f6sung ausgestattet. Bis zum HS1000 Profilometer von Nanovea waren die vollst\u00e4ndige Automatisierung und die einzigartigen Vorteile der axialen Wei\u00dflicht-Chromatisierungstechnik Merkmale, die nur selten in einem einzigen Ger\u00e4t mit hoher Scangeschwindigkeit zu finden waren; ein Merkmal, das der Kunde forderte und das nur Nanovea liefern konnte. Herk\u00f6mmliche Hochgeschwindigkeitsinstrumente opferten in der Regel eine Eigenschaft f\u00fcr eine andere, n\u00e4mlich die Geschwindigkeit oder die Aufl\u00f6sung, was die Gesamtmesskapazit\u00e4t des Benutzers einschr\u00e4nkte. Das HS1000 Profilometer erreicht eine Tischgeschwindigkeit von 1 m\/s und ist damit bis zu 50 Mal schneller als die meisten optischen Profilometer seiner Klasse. Das HS1000 Profilometer ist mit einem 31KHz Wei\u00dflicht-Axialchromatismus-Sensor und einem XY-Messbereich von 400mm x 600mm ausgestattet, der bei maximaler Tischgeschwindigkeit alle 32\u00b5m einen Punkt messen und die vollen 400mm in weniger als 1 Sekunde durchfahren kann (eine h\u00f6here Aufl\u00f6sung kann mit proportional langsameren Tischgeschwindigkeiten erreicht werden). Dar\u00fcber hinaus verf\u00fcgt das HS1000 Profilometer \u00fcber eine optionale Bildverarbeitungskamera, die eine automatische Erkennung von genau ausgew\u00e4hlten Oberfl\u00e4chenmerkmalen mit wenig bis gar keinem Benutzereingriff erm\u00f6glicht. Die benutzerfreundliche Software und die optionale Bildverarbeitungskamera erm\u00f6glichen einen automatischen Scan der Oberfl\u00e4che, um alle interessanten Merkmale zu erkennen. Diese Merkmale k\u00f6nnen dann automatisch gemessen werden, oder der Benutzer kann aus einer Liste ausw\u00e4hlen, was gemessen werden soll. Die Kombination aus \u00fcberlegenen Gesamteigenschaften macht das HS1000 <a title=\"profilometer\" href=\"https:\/\/https:\/\/nanovea.com\/profilometers\">Profilometer<\/a> ist zweifellos das Instrument der Wahl f\u00fcr hohe Durchsatzanforderungen in der Halbleiter-, Solar- und pharmazeutischen Industrie. \"Es versteht sich von selbst, wie wichtig es ist, die Wahl dieses Kunden zu gewinnen. Ich bin stolz auf die F\u00e4higkeit unseres Teams, eine so wichtige Gelegenheit zu nutzen\", sagte Craig Leising, Produktmanager bei Nanovea.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Irvine CA, March 5, 2009 &#8211; Nanovea announced today that it will ship a top Semiconductor Mfg its first HS1000 Profilometer. The HS1000 delivery adds yet another highlight to Nanovea&#8217;s impressive Optical Profiler history and offers customers a more advanced measurement speed option for high throughput demands. 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